一种射频PCB连接器的测试接口制造技术

本实用新型专利技术涉及一种射频PCB连接器的测试接口，测试接口包括外导体盖、外导体座以及测试针；外导体盖一端为开口，该开口区域的外壁上设有外螺纹，盖体结构的另一端为盖面，盖面的中心区域开设有第一通孔，第一通孔与盖体结构的内部连通；外导体座位为一端为开口，该开口区域的内壁上设有与外螺纹匹配的内螺纹，且轴向中心区域朝向开口的一端设有一筒状连接导体，另一端设有凸设的第二接口端，该第二接口端的中心区域开设有第二通孔，该第二通孔与连接导体的内部连通。本实用新型专利技术的射频连接器的测试接口，安装在射频PCB连接器上，可靠性好，能够有效用于PCB连接器性能（驻波比）的可靠测试，构思巧妙，操作方便，能够适用于连接器的全检。

A test interface of RF PCB connector

【技术实现步骤摘要】
一种射频PCB连接器的测试接口
本技术属于测试工装领域，具体涉及一种射频PCB连接器的测试接口。
技术介绍
参见附图1和2，射频PCB连接器一端为第一接口端，另一端为引脚连接端，以往，射频PCB连接器引脚连接端通过引脚（Pin脚）焊接于PCB板上，当需要进行生产测试时，通常直接通过焊接在PCB板的引脚进行测量。由于引脚焊接于PCB板上，从而导致测试不方便，并且这种测试方式不适合全检，仅适用于抽检，但是抽检并不能确保每个PCB射频连接器的性能完好。因此，为了完成对PCB连接器性能（驻波比）的可靠测试，设计一种射频PCB连接器的测试接口是本技术所要研究的课题。
技术实现思路
本技术提供一种射频PCB连接器的测试接口，其目的是为了解决目前对PCB连接器性能的可靠测试的问题。为达到上述目的，本技术采用的技术方案是：一种射频PCB连接器的测试接口，所述连接器一端为第一接口端，另一端为引脚连接端；所述测试接口包括一外导体盖、一外导体座以及一测试针；所述外导体盖为一盖体结构，所述盖体结构的一端为开口，该开口本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种射频PCB连接器的测试接口，所述连接器一端为第一接口端，另一端为引脚连接端；/n其特征在于：所述测试接口包括一外导体盖、一外导体座以及一测试针；/n所述外导体盖为一盖体结构，所述盖体结构的一端为开口，该开口区域的外壁上设有外螺纹，所述盖体结构的另一端为盖面，所述盖面的中心区域开设有第一通孔，该第一通孔与盖体结构的内部连通；/n所述外导体座位为一座体结构，所述座体结构的一端为开口，该开口区域的内壁上设有与所述外螺纹匹配的内螺纹，且座体结构的轴向中心区域朝向开口的一端设有一筒状连接导体，所述座体结构的另一端设有凸设的第二接口端，该第二接口端的中心区域开设有第二通孔，该第二通孔与连接导体的内...

【技术特征摘要】
1.一种射频PCB连接器的测试接口，所述连接器一端为第一接口端，另一端为引脚连接端；
其特征在于：所述测试接口包括一外导体盖、一外导体座以及一测试针；
所述外导体盖为一盖体结构，所述盖体结构的一端为开口，该开口区域的外壁上设有外螺纹，所述盖体结构的另一端为盖面，所述盖面的中心区域开设有第一通孔，该第一通孔与盖体结构的内部连通；
所述外导体座位为一座体结构，所述座体结构的一端为开口，该开口区域的内壁上设有与所述外螺纹匹配的内螺纹，且座体结构的轴向中心区域朝向开口的一端设有一筒状连接导体，所述座体结构的另一端设有凸设的第二接口端，该第二接口端的中心区域开设有第二通孔，该第二通孔与连接导体的内部连通；
在装配装配下，所述连接器的第一接口端穿过所述外...

【专利技术属性】
技术研发人员：王尊涛，
申请(专利权)人：昆山先特电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32