【技术实现步骤摘要】
一种防尘式键合剪切力测试机
本技术涉及键合剪切力测试机
，更具体的是涉及一种防尘式键合剪切力测试机。
技术介绍
键合剪切力测试仪是用于微电子封装和PCBA电子组装制造及其失效分析领域的专用动态测试仪器，是填补国内空白的微电子和电子制造领域的重要仪器设备。该设备测试迅速、准确、适用面广、测试精度高，适用于半导体IC封装测试、LED封装测试、光电子器件封装测试、PCBA电子组装测试、汽车电子、航空航天、军工等等，亦可用于各种电子分析及研究单位失效分析领域以及各类院校教学和研究，由于其检测的都是质量小精度高的对象，同时对检测可靠性要求和测试质量要求过高，需要进行防尘处理。
技术实现思路
本技术的目的在于：为了提高现有键合剪切力测试仪的防尘能力，本技术提供一种防尘式键合剪切力测试机。本技术为了实现上述目的具体采用以下技术方案：一种防尘式键合剪切力测试机，包括测试箱和固定在测试箱中的测试仪，所述测试仪包括支撑座、高精检测台、固定在支撑座上的处理器和设置在处理器前端的显微放大镜，测试箱前壁开设有第一...
【技术保护点】
1.一种防尘式键合剪切力测试机，包括测试箱(5)和固定在测试箱(5)中的测试仪，所述测试仪包括支撑座(1)、高精检测台(2)、固定在支撑座(1)上的处理器(3)和设置在处理器(3)前端的显微放大镜(4)，其特征在于，所述测试箱(5)前壁开设有第一安装槽(6)，第一安装槽(6)内开设有第二安装槽(7)，第二安装槽(7)内开通有箱口(8)，第一安装槽(6)内通过转动副连接有箱门(9)，箱门(9)能填充整个第一安装槽(6)并且箱门(9)尺寸大于第二安装槽(7)槽口尺寸，箱门(9)上固定有能嵌入第二安装槽(7)的密封板(10)，密封板(10)尺寸小于箱口(8)尺寸。/n
【技术特征摘要】
1.一种防尘式键合剪切力测试机，包括测试箱(5)和固定在测试箱(5)中的测试仪，所述测试仪包括支撑座(1)、高精检测台(2)、固定在支撑座(1)上的处理器(3)和设置在处理器(3)前端的显微放大镜(4)，其特征在于，所述测试箱(5)前壁开设有第一安装槽(6)，第一安装槽(6)内开设有第二安装槽(7)，第二安装槽(7)内开通有箱口(8)，第一安装槽(6)内通过转动副连接有箱门(9)，箱门(9)能填充整个第一安装槽(6)并且箱门(9)尺寸大于第二安装槽(7)槽口尺寸，箱门(9)上固定有能嵌入第二安装槽(7)的密封板(10)，密封板(10)...
【专利技术属性】
技术研发人员：韩力，
申请(专利权)人：成都汉芯国科集成技术有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51
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