环境X、γ辐射探测器剂量率量程的扩展方法技术

本发明专利技术提供了一种环境X、γ辐射探测器剂量率量程的扩展方法，该方法包括：获取环境X、γ辐射探测器的预设光电倍增管电压和与所述光电倍增管电压对应的计数率；对所述光电倍增管电压和计数率所述进行拟合处理，得到所述计数率和所述光电倍增管电压的拟合关系；根据所述计数率和所述拟合关系，得到响应系数、光电倍增管电压和所述探测器的剂量率之间的对应关系，根据所述对应关系对所述探测器的现有量程进行扩展，得到所述环境X、γ辐射探测器的多个剂量率量程。本发明专利技术可以有效提高环境X、γ辐射探测器的测量范围。

The method of extending the dose rate range of environmental x, \u03b3 radiation detector

【技术实现步骤摘要】
环境X、γ辐射探测器剂量率量程的扩展方法
本专利技术涉及测量
，尤其是涉及一种环境X、γ辐射探测器剂量率量程的扩展方法。
技术介绍
目前，随着诸如X射线或γ射线等射线的应用领域不断拓展，用于测量射线的探测器也在逐步发展，例如，用于测量X射线和γ射线的探测器主要包括硅半导体探测器、闪烁体探测器和GM(盖革-弥勒)计数管探测器等，但是现有的探测器的测量范围有限，无法满足射线测量的需求。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种环境X、γ辐射探测器剂量率量程的扩展方法，可以有效提高环境X、γ辐射探测器的测量范围。第一方面，本专利技术实施例提供了一种环境X、γ辐射探测器剂量率量程的扩展方法，包括：获取环境X、γ辐射探测器的预设光电倍增管电压和与所述预设光电倍增管电压对应的计数率；对所述光电倍增管电压和所述计数率进行拟合处理，得到所述计数率和所述光电倍增管电压的拟合关系；根据所述计数率和所述拟合关系，得到响应系数、光电倍增管电压和所述探测器的剂量率之间的对应关系，根据所述对应关系对所述环境X、γ辐射探测器的现有量程进行扩展。结合第一方面，本专利技术实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式，其中，所述根据所述对应关系对所述环境X、γ辐射探测器的现有量程进行扩展，得到所述探测器的多个剂量率量程的步骤，包括：根据所述对应关系，比对不同剂量率且同一所述光电倍增管电压对应的所述响应系数，得到比对结果；基于所述比对结果将所述环境X、γ辐射探测器的现有量程进行扩展。结合第一方面的第一种可能的实施方式，本专利技术实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式，其中，在所述根据所述对应关系，比对不同剂量率且同一所述光电倍增管电压对应的所述响应系数，得到比对结果的步骤之前，所述方法还包括：计算各所述量程下同一所述光电倍增管电压对应的响应系数的平均值；基于所述平均值更新各所述量程下同一所述光电倍增管电压对应的响应系数，得到各所述量程下的所述光电倍增管电压和所述响应系数之间的对应关系。结合第一方面，本专利技术实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式，其中，所述光电倍增管电压为负高压；所述光电倍增管电压与所述剂量率量程的上限值呈反比。结合第一方面，本专利技术实施例提供了第一方面的第四种可能的实施方式，其中，在所述根据所述对应关系对所述环境X、γ辐射探测器的现有量程进行扩展的步骤之后，所述方法包括：获取所述环境X、γ辐射探测器的测量计数率；根据所述测量计数率从扩展后的所述环境X、γ辐射探测器的剂量率量程中选取目标量程；在预设时长内根据所述测量计数率调整所述环境X、γ辐射探测器的测量光电倍增管电压；根据所述目标量程和所述测量光电倍增管电压，确定所述环境X、γ辐射探测器的测量的剂量率。结合第一方面的第四种可能的实施方式，本专利技术实施例提供了第一方面的第五种可能的实施方式，其中，所述在预设时长内根据所述测量计数率调整所述探测器的测量光电倍增管电压的步骤，包括：如果所述测量计数率小于第一预设阈值，增加所述环境X、γ辐射探测器的测量光电倍增管电压，确定与增加后的测量光电倍增管电压对应的测量响应系数，以提高所述环境X、γ辐射探测器的灵敏度；如果所述测量计数率大于第二预设阈值，减小所述环境X、γ辐射探测器的测量光电倍增管电压，确定与减小后的测量光电倍增管电压对应的测量响应系数，以降低所述环境X、γ辐射探测器的灵敏度。结合第一方面的第四种可能的实施方式，本专利技术实施例提供了第一方面的第六种可能的实施方式，其中，所述根据所述目标量程和所述测量光电倍增管电压，确定所述环境X、γ辐射探测器测量的剂量率的步骤，包括：根据所述目标量程和所述测量光电倍增管电压，确定所述环境X、γ辐射探测器的测量响应系数；计算所述测量计数率和所述测量响应系数的乘积，得到所述环境X、γ辐射探测器测量的剂量率。第二方面，本专利技术实施例还提供一种探测器包括：依次连接的闪烁晶体、光导、光电倍增管、放大电路和信号处理模块；其中，所述闪烁晶体用于探测当前环境的射线，并将所述射线转换为光子，经所述光导将所述光子输入至所述光电倍增管；其中，所述射线包括X射线或γ射线；所述光电倍增管用于将所述光子转换为电流信号输入至所述放大电路；所述放大电路用于根据所述电流信号为所述光电倍增管提供光电倍增管电压；所述放大电路还用于将所述光电倍增管电压传输至所述信号处理模块；所述信号处理模块用于对所述环境X、γ辐射探测器剂量率量程进行扩展。结合第二方面，本专利技术实施例提供了第二方面的第一种可能的实施方式，其中，所述放大电路采用电流积分型电路。第三方面，本专利技术实施例还提供一种计算机存储介质，用于储存为第一方面至第一方面的第六种可能的实施方式任一项所述方法所用的计算机软件指令。本专利技术实施例提供的一种环境X、γ辐射探测器剂量率量程的扩展方法，首先获取探测器的预设光电倍增管电压和与该预设光电倍增管电压对应的计数率，并对计数率和光电倍增管电压进行拟合处理以得到拟合关系，得到响应系数、光电倍增管电压和所述探测器的剂量率之间的对应关系，根据所述对应关系对进而基于拟合关系和计数率对探测器的现有量程进行扩展，得到探测器的多个剂量率量程。本专利技术实施例基于计数率和拟合关系可以对探测器的量程进行扩展，进而有效提升环境X、γ辐射探测器的测量范围。本专利技术的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。附图说明为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种环境X、γ辐射探测器剂量率量程的扩展方法的流程示意图；图2为本专利技术实施例提供的一种环境X、γ辐射探测器的结构示意图；图3为本专利技术实施例提供的一种剂量率的测量方法的流程示意图；图4为本专利技术实施例提供的一种信号处理模块的结构示意图。图标：202-闪烁晶体；204-垫片；206-PMT；208-分压电路；210-信号处理模块。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合实施例对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。目前常用的测量X、γ射线的探测器主要有硅半导体探测器、闪烁体探测器和GM计数管等，其中便携式X、γ剂量率仪主要包括防护级仪器和环境级仪器两种，防护级剂量率仪的测量区间通常本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种环境X、γ辐射探测器剂量率量程的扩展方法，包括：/n获取环境X、γ辐射探测器的预设光电倍增管电压和与所述预设光电倍增管电压对应的计数率；/n对所述光电倍增管电压和所述计数率进行拟合处理，得到所述计数率和所述光电倍增管电压的拟合关系；/n根据所述计数率和所述拟合关系，得到响应系数、光电倍增管电压和所述探测器的剂量率之间的对应关系，根据所述对应关系对所述环境X、γ辐射探测器的现有量程进行扩展。/n

【技术特征摘要】
1.一种环境X、γ辐射探测器剂量率量程的扩展方法，包括：
获取环境X、γ辐射探测器的预设光电倍增管电压和与所述预设光电倍增管电压对应的计数率；
对所述光电倍增管电压和所述计数率进行拟合处理，得到所述计数率和所述光电倍增管电压的拟合关系；
根据所述计数率和所述拟合关系，得到响应系数、光电倍增管电压和所述探测器的剂量率之间的对应关系，根据所述对应关系对所述环境X、γ辐射探测器的现有量程进行扩展。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述对应关系对所述环境X、γ辐射探测器的现有量程进行扩展的步骤，包括：
根据所述对应关系，比对不同剂量率且同一所述光电倍增管电压对应的所述响应系数，得到比对结果；
基于所述比对结果将所述环境X、γ辐射探测器的现有量程进行扩展。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述根据所述对应关系，比对不同剂量率且同一所述光电倍增管电压对应的所述响应系数，得到比对结果的步骤之前，所述方法还包括：
计算所述量程下同一所述光电倍增管电压对应的响应系数的平均值；
基于所述平均值更新所述量程下同一所述光电倍增管电压对应的响应系数，得到各所述量程下的所述光电倍增管电压和所述响应系数之间的对应关系。


4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光电倍增管电压为负高压；所述光电倍增管电压与所述剂量率量程的上限值呈反比。


5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述根据所述对应关系对所述环境X、γ辐射探测器的现有量程进行扩展的步骤之后，所述方法包括：
获取所述环境X、γ辐射探测器的测量计数率；
根据所述测量计数率从扩展后的所述环境X、γ辐射探测器的剂量率量程中选取目标量程；
在预设时长内根据所述测量计数率调整所述环境X、γ辐射探测器的测量光电倍增管电压；
根据所述目标量程和所述测量光电倍增管电压，确...

【专利技术属性】
技术研发人员：董翀，卢亚鑫，沈杨，王海文，
申请(专利权)人：北京中科核安科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11