安检门检验系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种安检门检验系统，用于对安检门主体进行检测，安检门检验系统包括用于与安检门主体信号连接的控制设备，以及检验装置；安检门主体上设有红外对射开关和至少一个探测装置；检验装置包括检验底座、滑动安装于检验底座的检验滑板、用于驱动检验滑板沿检验底座滑动的检验驱动机构、设于检验滑板的检验立板，以及设于检验立板上的至少一块金属块。检验立板进出安检门主体时可触发红外对射开关，当探测装置探测到金属块时发出报警信息并传递至控制设备；根据探测装置是否准确探测到金属块判断安检门主体的检测性能是否合格。由于检验过程无需人工参与，实现了检验时外部条件的一致性，进而保证了检验结果的准确性。

Security gate inspection system

【技术实现步骤摘要】
安检门检验系统
本技术涉及检测设备领域，尤其涉及一种安检门检验系统。
技术介绍
安检门作为重要的安检设备，为了保证使用时检测的精准性，在出厂前等时机均需要进行检测功能的检验，以检验安检门对于金属物质探测的准确性。其中一种检验方式为人员绑定金属物进出安检门，但此种检验方式效率低，且人员素质不同得到的检验结果的准确率不同。另一种检验方式为工程模式的检测，也即不触发安检门上的红外对射开关，但无法模拟人员进出安检门的状态，检验结果参考价值低。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种安检门检验系统，旨在解决现有技术中，检验安检门的检测性能的准确性低的问题。为达此目的，本技术采用以下技术方案：安检门检验系统，用于对安检门主体进行检测，所述安检门检验系统包括用于与所述安检门主体信号连接的控制设备，以及检验装置；所述安检门主体上设有红外对射开关和至少一个探测装置；所述检验装置包括检验底座、滑动安装于所述检验底座的检验滑板、用于驱动所述检验滑板沿所述检验底座滑动的检验驱动机构、设于所述检验滑板的检验立板，以及设于所述检验立板上且用于触发所述探测装置的至少一块金属块。进一步地，所述探测装置的数量为多个，多个所述探测装置沿所述安检门主体的高度方向依次分布；所述金属块的数量为多个，多个所述金属块沿所述检验立板的高度方向依次分布。进一步地，所述金属块的数量为mn个，所述n为大于或等于1的正整数，所述m为大于或等于1的正整数，所述检验立板沿高度方向依次设置有所述n个检测区间，每个所述检测区间内具有m个所述金属块，每个所述检测区间内的m个所述金属块沿所述检验立板的宽度方向依次分布。进一步地，多个所述金属块沿所述检验立板的宽度方向依次分布。进一步地，所述检验底座开设有滑动槽，所述检验滑板上设有位于所述滑动槽的滑动轮，所述滑动轮与所述检验滑板之间设有转动轴，所述滑动轮通过所述转动轴转动安装于所述检验滑板上。进一步地，所述检验驱动机构包括固定安装于所述转动轴的从动齿轮、与所述从动齿轮相啮合且转动安装于所述检验滑板的主动齿轮，以及固定安装于所述检验滑板且用于驱动所述主动齿轮转动的第一电机。进一步地，所述检验驱动机构包括固定安装于所述检验底座的驱动齿条、固定安装于所述检验滑板的第二电机，以及固定安装于所述第二电机的输出轴且与所述驱动齿条相啮合的驱动齿轮。进一步地，所述控制设备包括控制底板、安装于所述控制底板的万向轮、安装于所述控制底板的控制立板，以及安装于所述控制立板的控制主机。进一步地，所述控制设备还包括设于所述安检门主体与所述控制主机之间的数据传输线；所述安检门主体上设有第一接插件，所述数据传输线远离所述控制主机的一端设有与所述第一接插件相插接的第二接插件。进一步地，所述检验立板为非金属板。本技术的有益效果：检验立板进出安检门主体时可触发红外对射开关，安检门主体上的探测装置用于对检验立板上的金属块进行探测，当探测装置探测到金属块时发出报警信息并传递至控制设备；根据探测装置是否准确探测到金属块判断安检门主体的检测性能是否合格。由于检验过程无需人工参与，实现了检验时外部条件的一致性，进而保证了检验结果的准确性。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术的实施例中安检门检验系统的结构示意图；图2为图1中的安检门主体的第一视角的结构示意图；图3为本技术的其中一个实施例中检验装置的结构示意图；图4为本技术的另一个实施例中检验装置的结构示意图；图5为图1中的安检门主体的第二视角的结构示意图；图中：1、安检门主体；11、红外对射开关；12、探测装置；2、控制设备；21、控制底板；22、万向轮；23、控制立板；24、控制主机；241、触摸屏；25、数据传输线；3、检验装置；31、检验底座；311、滑动槽；32、检验滑板；321、滑动轮；322、转动轴；33、检验立板；331、金属块；400、探测磁场；500、检测区间。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。以下结合具体实施例对本技术的实现进行详细的描述。如图1-图5所示，本技术实施例提出了一种安检门检验系统，用于对安检门主体1进行检测，安检门检验系统包括用于与安检门主体1信号连接的控制设备2，以及检验装置3；安检门主体1上设有红外对射开关11和至少一个探测装置12；检验装置3包括检验底座31、滑动安装于检验底座31的检验滑板32、用于驱动检验滑板32沿检验底座31滑动的检验驱动机构、设于检验滑板32的检验立板33，以及设于检验立板33上且用于触发探测装置12的至少一块金属块331。在本技术的实施例中，安检门检验系统用于对安检门主体1的检测性能的准确性进行检验，其过程为：检验驱动机构带动检验滑板32沿着检验底座31滑动，进而带动检验立板33进出穿过安检门主体1，实现检验立板33进出安检门主体1时可触发红外对射开关11，安检门主体1上的探测装置12用于对检验立板33上的金属块331进行探测，当探测装置12探测到金属块331时发出报警信息并传递至控制设备2；根据探测装置12是否准确探测到金属块331判断安检门主体1的检测性能是否合格。合格率计算方法：实际报警数为：在测试周期内安检门检测到金属的报警数的总和；理想警数为：往返总数与测试区位数量的乘积；(实际报警数/理想报警数)X100％＝合格率；...

【技术保护点】
1.安检门检验系统，用于对安检门主体进行检测，其特征在于，所述安检门检验系统包括用于与所述安检门主体信号连接的控制设备，以及检验装置；所述安检门主体上设有红外对射开关和至少一个探测装置；所述检验装置包括检验底座、滑动安装于所述检验底座的检验滑板、用于驱动所述检验滑板沿所述检验底座滑动的检验驱动机构、设于所述检验滑板的检验立板，以及设于所述检验立板上且用于触发所述探测装置的至少一块金属块。/n

【技术特征摘要】
1.安检门检验系统，用于对安检门主体进行检测，其特征在于，所述安检门检验系统包括用于与所述安检门主体信号连接的控制设备，以及检验装置；所述安检门主体上设有红外对射开关和至少一个探测装置；所述检验装置包括检验底座、滑动安装于所述检验底座的检验滑板、用于驱动所述检验滑板沿所述检验底座滑动的检验驱动机构、设于所述检验滑板的检验立板，以及设于所述检验立板上且用于触发所述探测装置的至少一块金属块。


2.根据权利要求1所述的安检门检验系统，其特征在于，所述探测装置的数量为多个，多个所述探测装置沿所述安检门主体的高度方向依次分布；所述金属块的数量为多个，多个所述金属块沿所述检验立板的高度方向依次分布。


3.根据权利要求2所述的安检门检验系统，其特征在于，所述金属块的数量为m*n个，所述n为大于或等于1的正整数，所述m为大于或等于1的正整数，所述检验立板沿高度方向依次设置有所述n个检测区间，每个所述检测区间内具有m个所述金属块，每个所述检测区间内的m个所述金属块沿所述检验立板的宽度方向依次分布。


4.根据权利要求2所述的安检门检验系统，其特征在于，多个所述金属块沿所述检验立板的宽度方向依次分布。


5.根据权利要求1-4任一项所述的安检门检验系统，其特征在于，所述检验底座开设有滑动槽，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：王康，冯水沦，
申请(专利权)人：中控智慧科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44