【技术实现步骤摘要】
一种OLT光模块突发SD/LOS检测的方法与装置
本专利技术涉及光通信
，具体涉及一种OLT光模块突发SD/LOS检测的方法与装置。
技术介绍
光线路终端(OpticalLineTerminal，简写为OLT)，是指用于连接光纤干线的终端设备。在OLT光模块中，SD(或LOS)是一个重要的指标参数，如其响应不及时或错误响应会影响光网络单元(OptiocalNetworkUnit，简写为ONU)的正常注册与跑流；而且SD/LOS的响应时间要求较严，通常在ns量级。因此，在实际应用中，通常需要对突发SD/LOS的响应是否满足要求进行检测，并对响应电平、去响应电平和响应时间进行测试。其中，SD/LOS表示“SD或LOS”，LOS为SD的反相。传统的测试方法中，一般是通过发送高精度的逻辑时序作用于ONU和待测OLT，再通过示波器或逻辑电路来测试SD/LOS的电平变化与时间延迟。如果采用逻辑电路，则模拟系统时序沿时间测试，由于需要发送高精度的逻辑时序，并检测沿与沿之间的时间延迟，因此对逻辑电路的性能要求很高；如果...
【技术保护点】
1.一种OLT光模块突发SD/LOS检测的方法，其特征在于，包括：/n通过控制芯片产生特定的SD/LOS检测时序，并作用于ONU和待测OLT，使ONU发送突发光信号；其中，所述SD/LOS检测时序可调节；/n所述待测OLT接收所述ONU发送的光信号，并向所述控制芯片反馈突发的SD/LOS信号；/n所述控制芯片接收待测OLT反馈的SD/LOS信号，并通过沿触发或电平触发计数判断SD/LOS是否响应，进而检测SD/LOS的响应电平、去响应电平和/或响应时间是否满足要求。/n
【技术特征摘要】
1.一种OLT光模块突发SD/LOS检测的方法，其特征在于，包括：
通过控制芯片产生特定的SD/LOS检测时序，并作用于ONU和待测OLT，使ONU发送突发光信号；其中，所述SD/LOS检测时序可调节；
所述待测OLT接收所述ONU发送的光信号，并向所述控制芯片反馈突发的SD/LOS信号；
所述控制芯片接收待测OLT反馈的SD/LOS信号，并通过沿触发或电平触发计数判断SD/LOS是否响应，进而检测SD/LOS的响应电平、去响应电平和/或响应时间是否满足要求。
2.根据权利要求1所述的OLT光模块突发SD/LOS检测的方法，其特征在于，所述通过控制芯片产生特定的SD/LOS检测时序，并作用于ONU和待测OLT，具体为：
通过控制芯片输出同步且特定相位差的BEN脉冲信号和RST脉冲信号；所述BEN脉冲信号作用于ONU，并用于控制所述ONU发送突发光信号；所述RST脉冲信号作用于待测OLT，并用于复位所述待测OLT的SD/LOS锁存状态；
其中，所述BEN脉冲信号和所述RST脉冲信号各自的脉冲宽度以及相位位置均为可调节，且响应时间是通过调节所述BEN脉冲信号和所述RST脉冲信号的脉冲宽度和/或相位位置来调节。
3.根据权利要求2所述的OLT光模块突发SD/LOS检测的方法，其特征在于，当光功率大于第一预设阈值时，通过调节BEN脉冲信号和RST脉冲信号各自的脉冲宽度和/或相位位置，使得响应时间满足预设时间阈值，以便进行SD/LOS的响应测试；
则所述控制芯片通过沿触发或电平触发计数后，如果发现SD/LOS响应，则证明SD/LOS的响应测试达标，对应的响应电平和响应时间均满足要求；如果发现SD/LOS不响应，则证明SD/LOS的响应测试不达标，对应的响应电平和/或响应时间不满足要求。
4.根据权利要求3所述的OLT光模块突发SD/LOS检测的方法，其特征在于，当确定SD/LOS的响应测试是否达标之后，所述方法还包括：
将响应时间固定，通过不断调节ONU发送的光信号强度来调节响应电平；每调节一次后，通过沿触发或电平触发计数实时判断SD/LOS是否响应；当检测至响应与不响应的临界点时，确定SD/LOS的真实响应电平。
5.根据权利要求3所述的OLT光模块突发SD/LOS检测的方法，其特征在于，当确定SD/LOS的响应测试是否达标之后，则所述方法还包括：
将ONU发送的光信号强度固定，通过不断调节BEN脉冲信号和RST脉冲信号的脉冲宽度和/或相位位置，来调节响应时间；每调节一次后，通过沿触发或电平触发计数判断SD/LOS是否响应；当检测至响应与不响应的临界...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑文强，蒋旭，侯阳洋，
申请(专利权)人：武汉光谷信息光电子创新中心有限公司，武汉光迅科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42
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