一种辐射敏感度试验场均匀域测量方法及装置制造方法及图纸

本申请公开了一种辐射敏感度试验场均匀域测量方法及装置。所述方法包括以下步骤：将电场传感器布置在第1个测试点；向所述电场传感器输入测试信号，直到所述电场传感器显示场强等于指定场强；保持所述信号频率不变，依次将所述电场传感器布置在第1个测试点四周的第2至N个测试点；计算所述电场传感器在所述第2至N个测试点显示的场强与所述指定场强的差值；调整所述第2至N个测试点与所述第1个测试点的间距，重复前述步骤，直到所述差值小于或等于指定差值。所述装置包括信号源、功率放大器、天线、电场感应单元、金属接地平板。本申请实现准确测量和确定符合均匀域要求的辐射敏感度试验场。

【技术实现步骤摘要】
一种辐射敏感度试验场均匀域测量方法及装置
本申请涉及辐射敏感度试验领域，尤其涉及一种辐射敏感度试验场均匀域测量方法及装置。
技术介绍
为了使得辐射敏感度试验结果更准确可靠，分析试验结果的影响因素，包括试验设备、试验配置、场分布等，其中试验区域内的场均匀域会对辐射敏感度试验结果产生较大的影响。现行的辐射敏感度试验有GB17626.3-2016和GJB151-2013B标准中给出的方法，试验方法中仅对试验场地中有关屏蔽室和射频吸波材料敷设和吸波材料性能的部分提出了要求，但影响试验场区域内均匀域的因素有许多，如暗室的大小与形状、暗室内金属接地平台的大小与高度、接地平台在暗室内的位置、金属接地带连接方式、吸波材料类型、尺寸和敷设方式等，都会对均匀域产生影响。同时，此种方法只能对试验场的均匀域是否均匀给出评价结论，无法通过试验测量出一符合均匀域要求的辐射敏感度试验场。因此，对于辐射敏感度试验，急需解决的问题就是：如何在最大程度降低诸多因素对试验区域内场均匀域的影响，并通过试验测量出符合均匀域要求的辐射敏感度试验场，提高辐射敏感度试验的准确性和一致性。
技术实现思路
为实现准确测量和确定符合均匀域要求的辐射敏感度试验场，本申请提出辐射敏感度试验场均匀域测量方法及装置。本申请实施例提供一种辐射敏感度试验场均匀域测量方法，包括以下步骤：将电场传感器布置在第1个测试点；向所述电场传感器输入测试信号，调整所述信号输出功率，直到所述电场传感器显示的场强等于指定场强；保持所述信号频率和所述功率不变，依次将所述电场传感器布置在第1个测试点四周的第2至N个测试点；计算所述电场传感器在所述第2至N个测试点显示的场强与所述指定场强的差值；调整所述第2至N个测试点与所述第1个测试点的间距，重复前述步骤，直到所述差值小于或等于指定差值。作为本申请进一步优化的实施例，还包括以下步骤：确定所述均匀域为一垂直平面区域，所述N个测试点均匀分布在所述平面区域上。作为本申请进一步优化的实施例，还包括以下步骤：判断所述信号频率范围；当所述信号频率大于等于10kHz且小于30MHz时，在垂直极化方向上测试；当所述信号频率大于等于30MHz时，在水平极化和垂直极化两个方向上测试，在水平极化和垂直极化上都满足所述差值小于或等于指定差值的条件。作为本申请进一步优化的实施例，还包括以下步骤：改变所述输入测试信号频率。作为本申请进一步优化的实施例，所述指定差值为±3dB。作为本申请进一步优化的实施例，所述调整为扩大或缩小。本申请实施例还提供一种辐射敏感度试验场均匀域测量装置，用于本申请任意一项实施例所述方法，包括信号源、功率放大器、天线、电场感应单元、金属接地平板；所述均匀域，位于所述金属接地平板上方，是一垂直平面区域；所述信号源，用于将测试信号输出至所述功率放大器；所述功率放大器，用于将所述测试信号放大输出至所述天线；所述天线，与所述均匀域之间为指定距离，用于将所述天线的信号输出至所述电场感应单元；所述电场感应单元包括电场传感器，所述电场传感器放置在所述均匀域中，用于测试场强。作为本申请进一步优化的实施例，所述电场感应单元还包括电场探头；所述电场探头，用于读取所述电场传感器的场强数值。本申请实施例采用的上述至少一个技术方案能够达到以下有益效果：通过本方法在最大程度上降低包括金属测试桌在内的诸多因素对试验区域内场均匀域的影响，并在试验场地上不铺设吸波材料的情况下，通过调整测量点间距确定和测量出符合均匀域要求的辐射敏感度试验场。本专利技术的技术方案和现有技术相比，能使测试点的位置数量减少，可测试的面积范围更大。本专利技术的方法能够用于评价辐射敏感度试验场内设施条件、性能变化对场均匀域的影响。附图说明此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：图1为现有技术中场均匀域试验系统的示意图；图2为现有技术中场均匀域试验系统中测量点设置的示意图；图3为本申请测量方法的实施例流程图；图4为本申请测量方法的第二实施例流程图；图5为本申请测量方法的第三实施例流程图；图6为本申请测量方法的第四实施例流程图；图7为本申请测量装置的实施例正视图示意图；图8为本申请测量装置的实施例部分侧视图示意图；图9为本申请测量装置中测量点放置位置示意图。具体实施方式为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请具体实施例及相应的附图对本申请技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。以下结合附图，详细说明本申请各实施例提供的技术方案。图1为现有技术中场均匀域试验系统的示意图。在GB17626.3-2016《电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验》标准中，均匀域是一个场的的垂直平面，在该平面中场的变化足够小。在评价过程中，要求测试装置和设备有产生这样的一个场的能力。被测设备(EUT)及其连接电缆在该区域内被充分地照射。在试验布置中，应把EUT被照射的面与该均匀面重合起来。试验频率范围为30MHz～18GHz，频率步进1％，对于每个选定的频率，假如均匀域中有16个测量位置，其中有12个位置处的场强变化不超过0dB～6dB，则认为场是均匀的。在民用标准的测试中，辐射敏感度试验区域布置在转台位置上方，转台在场地的中间位置；试验区内的转台桌体使用木质材料，或使用介电常数更低的聚苯乙烯泡沫。测试距离一般为3米、5米、10米或30米。发射天线与试验区域之间的地面上铺设射频吸波材料。在军用标准中，试验系统也类似，与民用标准主要区别体现在：试验区域在场地中的位置不同。军标辐射敏感度试验区域一般布置在靠暗室某一墙壁旁边。试验区域内测试桌材质不同。军标辐射敏感度试验时，被测件多数是放置于金属接地平台上进行测试。金属测试桌与木质测试桌或泡沫测试桌相比，其对试验区域内场均匀域的影响更大，进而对试验结果的影响更大。发射天线与试验区域之间的测试距离不同。军标辐射敏感度试验的测试距离要求是1米或更远，在该要求下某些频率处的测试是在近场条件下进行的，而近场条件下场的分布和影响分析更加复杂。发射天线与试验区域之间地面的材质不同。在开阔试验场或半电波暗室内进行军标辐射敏感度试验时，不要求在试验场地地面上铺设吸波材料，因此需要考虑金属材质地面对试验区域内场均匀域的影响。图2为现有技术中场均匀域试验系统中测量点设置的示意图。按照GB/T17626.3-2016的要求，所述均匀域中的测量本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种辐射敏感度试验场均匀域测量方法，其特征在于，包括以下步骤：/n将电场传感器布置在第1个测试点；/n向所述电场传感器输入测试信号，调整所述信号输出功率，直到所述电场传感器显示的场强等于指定场强；/n保持所述信号频率和所述功率不变，依次将所述电场传感器布置在第1个测试点四周的第2至N个测试点；/n计算所述电场传感器在所述第2至N个测试点显示的场强与所述指定场强的差值；/n调整所述第2至N个测试点与所述第1个测试点的间距，重复前述步骤，直到所述差值小于或等于指定差值。/n

【技术特征摘要】
1.一种辐射敏感度试验场均匀域测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
将电场传感器布置在第1个测试点；
向所述电场传感器输入测试信号，调整所述信号输出功率，直到所述电场传感器显示的场强等于指定场强；
保持所述信号频率和所述功率不变，依次将所述电场传感器布置在第1个测试点四周的第2至N个测试点；
计算所述电场传感器在所述第2至N个测试点显示的场强与所述指定场强的差值；
调整所述第2至N个测试点与所述第1个测试点的间距，重复前述步骤，直到所述差值小于或等于指定差值。


2.如权利要求1所述的一种辐射敏感度试验场均匀域测量方法，其特征在于，还包括以下步骤：
确定所述均匀域为一垂直平面区域，所述N个测试点均匀分布在所述平面区域上。


3.如权利要求1或2所述的一种辐射敏感度试验场均匀域测量方法，其特征在于，还包括以下步骤：
判断所述信号频率范围；
当所述信号频率大于等于10kHz且小于30MHz时，在垂直极化方向上测试；
当所述信号频率大于等于30MHz时，在水平极化和垂直极化两个方向上测试，在水平极化和垂直极化上都满足所述差值小于或等于指定差值的条件。


4.如权利要求1至3所述的一种辐射敏感度试验场均匀域测量方法，其特征在于，还包括以下步骤：
改变所述输入测试信号频率。


5.如权利要求1所述的一种辐射敏感度试...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁岩兴，康宁，张磊，王楠，马蔚宇，齐万泉，
申请(专利权)人：北京无线电计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11