【技术实现步骤摘要】
扫描探针
本申请涉及精密仪器领域，特别是涉及一种扫描探针。
技术介绍
传统的基于光学衍射测量方法已不能满足人们对自然界日益增的长从介观到纳米的测量需求，更甚至是量子效应下原子、分子尺度的分析与表征。扫描探针是通过探针与物质表面直接相互作用，提取物质的结构参数与性能，是现代精密测量的发展趋势，并已经形成的测量技术有：原子力显微镜、扫描隧道显微镜、扫描探针显微镜、扫描近场光学显微、针尖增强拉曼测量系统等。这些测量仪器系统围绕纳米尺度上光与针尖、物质相互作用，通过提取其相互作用的光电信号，可以对纳材料分析、半导体器件与物理、微电子集成电路、光子芯片等进行高效率、高稳定性、高分辨率的分析表征，但是传统的扫描探针拉曼散射低，这都影响了扫描探针的使用。
技术实现思路
基于此，有必要针对传统的扫描探针拉曼散射低的问题，提供一种扫描探针。一种扫描探针，包括：探针主体；延伸体，设置于探针主体的一端；弯钩部，设置于所述延伸体远离所述探针主体的一端。在一个实施例中，所述弯钩部包括弯折体，...
【技术保护点】
1.一种扫描探针，其特征在于，包括：/n探针主体(110)；/n延伸体(120)，设置于探针主体(110)的一端；/n弯钩部(130)，设置于所述延伸体(120)远离所述探针主体(110)的一端。/n
【技术特征摘要】
1.一种扫描探针，其特征在于，包括：
探针主体(110)；
延伸体(120)，设置于探针主体(110)的一端；
弯钩部(130)，设置于所述延伸体(120)远离所述探针主体(110)的一端。
2.如权利要求1所述的扫描探针，其特征在于，所述弯钩部(130)包括弯折体(131)，所述弯折体(131)与所述延伸体(120)垂直连接。
3.如权利要求1所述的扫描探针，其特征在于，所述弯钩部(130)包括螺旋体(132)，所述螺旋体(132)的一端与所述延伸体(120)远离所述探针主体(110)的一端连接。
4.如权利要求3所述的扫描探针，其特征在于，所述螺旋体(132)的螺距从所述延伸体(120)朝向所述螺旋体(132)延伸的方向逐渐变小。
5.如权利要求1所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员：朱振东，高思田，李伟，李适，
申请(专利权)人：中国计量科学研究院，
类型：发明
国别省市：北京;11
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