一种微腔光频梳重频稳定性测试系统及测试方法技术方案

本发明专利技术涉及一种光学频率梳重频稳定性测量系统，具体涉及一种微腔光频梳重频稳定性测试系统及测试方法，针对现有微腔光频梳重频稳定性测量系统结构复杂、成本高、以及测量精度对参考源依赖的弊端。该微腔光频梳重频稳定性测试系统包括窄线宽泵浦源、微腔光频梳发生器、光学滤波器、延时自外差干涉模块、光电探测器和频谱分析仪；窄线宽泵浦源、微腔光频梳发生器、光学滤波器、延时自外差干涉模块和光电探测器依次通过光纤连接；光电探测器和频谱分析仪通过电缆进行连接。本发明专利技术系统使用成熟的延时自外差法实现超高重频光学频率梳重频稳定性的测试，测试系统具备较高的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种微腔光频梳重频稳定性测试系统及测试方法
本专利技术涉及一种光学频率梳重频稳定性测量系统，具体涉及一种微腔光频梳重频稳定性测试系统及测试方法，更具体涉及一种基于延时自外差法对微腔光频梳重频稳定性测试的系统和方法，对微腔光频梳在微秒量级时间内的重频稳定性进行积分测量。
技术介绍
光学频率梳是由一系列离散的、等间隔的频率成分组成的宽带光谱，并且各频率分量具有稳定的相位关系。光频梳相当于一个光学频率综合发生器，是迄今为止最有效进行绝对光学频率测量的工具，可将铯原子微波频标与光频标准确简单的联系起来，为发展高分辨率、高精度、高准确性的频率标准提供了载体。重频稳定性是体现光频率梳稳定性的重要特征，直接决定了光学频率梳的潜在实际应用价值。相对于传统基于锁模激光器的光频率梳，微腔光频率梳具有高重复频率，一般在数十GHz到THz。通常使用频率计数器对光频梳重频稳定性进行平均测量，使用秒均或百秒均的频率波动反映光频梳的稳定性。受限于目前光电探测器和频率计数器的带宽，无法对重频在100GHz以上的微腔光频梳进行直接测量，因此需要引入参考光或者光电调制器等本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种微腔光频梳重频稳定性测试系统，其特征在于：包括窄线宽泵浦源(1)、微腔光频梳发生器(2)、光学滤波器(3)、延时自外差干涉模块(4)、光电探测器(5)和频谱分析仪(6)；/n所述窄线宽泵浦源(1)、微腔光频梳发生器(2)、光学滤波器(3)、延时自外差干涉模块(4)和光电探测器(5)依次通过光纤连接；所述光电探测器(5)和频谱分析仪(6)通过电缆连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种微腔光频梳重频稳定性测试系统，其特征在于：包括窄线宽泵浦源(1)、微腔光频梳发生器(2)、光学滤波器(3)、延时自外差干涉模块(4)、光电探测器(5)和频谱分析仪(6)；
所述窄线宽泵浦源(1)、微腔光频梳发生器(2)、光学滤波器(3)、延时自外差干涉模块(4)和光电探测器(5)依次通过光纤连接；所述光电探测器(5)和频谱分析仪(6)通过电缆连接。


2.根据权利要求1所述的微腔光频梳重频稳定性测试系统，其特征在于：所述延时自外差干涉模块(4)包括光纤分束器(41)、声光调制器(42)、延时光纤(43)和光纤合束器(44)；所述声光调制器(42)分别与光纤分束器(41)、光纤合束器(44)连接，用于实现光信号的移频，使延时自外差干涉模块(4)的输出拍频信号不在零频；所述延时光纤(43)分别与光纤分束器(41)、光纤合束器(44)连接，所述光纤分束器(41)与光学滤波器(3)连接，所述光纤合束器(44)与光电探测器(5)连接。


3.根据权利要求2所述的微腔光频梳重频稳定性测试系统，其特征在于：所述窄线宽泵浦源(1)为超窄线宽的光纤激光器、超窄线宽的半导体激光器或超窄线宽的参量振荡激光器。


4.根据权利要求1或2或3所述的微腔光频梳重频稳定性测试系统，其特征在于：所述光学滤波器(3)为中心波长可调谐的带通滤波器、波分复用器或阵列波导光栅分光器。


5.根据权利要求4所述的微腔光频...

【专利技术属性】
技术研发人员：王伟强，谢鹏，王信宇，张文富，赵卫，
申请(专利权)人：中国科学院西安光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：陕西;61