一种用于检测磁控管端子的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于检测磁控管端子的装置，包括振动盘,振动盘的输送轨的前端适配固定连接有背模板，背模板与面模板围成用于让端子适配通过的筛选通道，背模板的背面螺接安装有用于对端子上的扁部通孔进行计数检测的第二光纤探头，面模板的正面螺接安装有用于与第二光纤探头组成对射式探头的第一光纤探头，第一光纤探头与第二光纤探头同轴设置，第一光纤探头与第二光纤探头之间的光路能够连通或被阻挡截止，还包括光纤放大器和数显计数器，本实用新型专利技术旨在提供一种用于检测磁控管端子的装置，它能较高精度地对端子进行筛选检测，且能对合格的端子进行计数。

A device for detecting the terminals of magnetron

【技术实现步骤摘要】
一种用于检测磁控管端子的装置
本技术涉及用于磁控管插座配件的检测设备领域，具体涉及一种用于检测磁控管端子的装置。
技术介绍
目前，磁控管是微波炉的重要部件，磁控管是微波发生器的核心，它能将直流电能转变为微波能，磁控管的插座是磁控管连接电源的零件,该插座有两个端子,端子是由金属制成的,端子的精度要求不高,但是它的外形和尺寸不能误差太大,所以每个端子都要经过检测合格才能交付使用,现时有一些用于对上述端子进行检测的设备，这些设备一般都具有振动盘，振动盘在自动化领域很常用，振动盘的料斗下面有脉冲电磁铁，可以使料斗作垂直方向振动，由倾斜的弹簧片带动料斗绕其垂直轴做扭摆振动，端子堆放在料斗中部内，端子通过上述扭摆振动而向外螺旋上升，端子通过设置在螺旋上升通道的一系列导向构造进行筛选和方向整理，筛选过程中，尺寸或形状不合规格的端子被筛选而留下，而合格的端子则相对排列整齐地通过位于振动盘输送通道最后的输送轨向外移送输出到装纳端子成品的包装容器，但上述现时技术的端子检测设备精度不够，且不具有计数功能，端子通过检测后需要人手点数，难于统计包装容器内的合格的端子数量。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术的不足，提供一种用于检测磁控管端子的装置，它能较高精度地对端子进行筛选检测，且能对合格的端子进行计数。本技术的目的是通过下述技术方案实现的。本技术公开的一种用于检测磁控管端子的装置，包括用于将端子定向排列的振动盘,所述振动盘包括用于将已定向排列的端子移送输出的输送轨，其中，所述输送轨的前端适配固定连接有背模板，所述背模板的正面形成有第一凹平面、背模凹槽、第二凹平面及第三凹平面，所述背模板的正面固定安装有面模板，所述面模板的背面形成有第四凹平面、面模凹槽及第五凹平面，所述背模板与所述面模板围成用于让端子适配通过的筛选通道，所述背模板的背面螺接安装有用于对端子上的扁部通孔进行计数检测的第二光纤探头，所述面模板的正面螺接安装有用于与第二光纤探头组成对射式探头的第一光纤探头，所述第一光纤探头与所述第二光纤探头同轴设置，所述第一光纤探头与所述第二光纤探头之间的光路能够连通或被阻挡截止，还包括光纤放大器和数显计数器，所述第一光纤探头与所述第二光纤探头分别与所述光纤放大器连接，所述光纤放大器与所述数显计数器电连接。优选地，所述面模板设置在所述背模板左侧面的右侧，所述面模板的左侧面与所述背模板的左侧面的距离大于端子的宽度。优选地，所述第三凹平面在所述面模板的正后方形成有用于对端子的上端进行筛选阻挡的上凸台，所述第一凹平面在所述面模板的正后方形成有用于对端子的下端进行筛选阻挡的下凸台。优选地，所述面模板设有安装孔，所述安装孔穿过有螺钉，所述面模板通过所述螺钉与所述背模板固定连接，所述安装孔的直径大于所述螺钉的螺纹外径。本技术与现有技术相比较，其有益效果是：设置背模板与面模板围成用于让端子适配通过的筛选通道，筛选通道的形状和尺寸适配端子，即筛选通道的尺寸仅比端子的各部分外形尺寸大一些，这样，弯曲了的、长度太长的或太厚的端子都不能通过筛选通道而被筛选通道边缘阻挡后由振动盘的振动而甩落回振动盘的料斗，而能由振动盘的扭摆振动驱动而通过该筛选通道的端子为合格品，于是使得筛选检测的精度提高了；另外，背模板的背面螺接安装有第二光纤探头，面模板的正面螺接安装有第一光纤探头，第一光纤探头和第二光纤探头组成对射式探头，端子形成的扁部有扁部通孔，当合格的端子通过筛选通道时，上述扁部通孔能够移动到上述对射式探头的位置而使对射式探头的光路连通，端子继续移动，上述扁部通孔移离对射式探头的位置，对射式探头的光路则被上述扁部阻挡而截止，于是光纤放大器能根据光路的连通或阻挡转换成开关量信号，该开关量信号传输到数显计数器，数显计数器处理开关量信号继而显示出通过了筛选通道的合格端子数量，通过这样设置，可以方便地统计合格端子数量，免去了额外的点数工序，减少了总的生产时间。附图说明图1为本技术的立体图结构示意图。图2为图1的A处放大结构示意图。图3为移除了面模板后的结构示意图。图4为端子通过筛选通道的示意图。标号说明：1-振动盘；101-输送轨；1011-轨槽；2-背模板；201-下凸台；202-上凸台；203-第一凹平面；204-背模凹槽；205-第二凹平面；206-第三凹平面；3-面模板；301-第四凹平面；302-面模凹槽；303-第五凹平面；304-安装孔；4-端子；401-扁部；4011-扁部通孔；402-法兰部；403-杆部；404-颈部；5-第一光纤探头；6-第二光纤探头；7-筛选通道；8-螺钉。具体实施方式下面结合附图对本技术作进一步的描述。本实施方式描述的是一种用于检测磁控管端子的装置，如图1所示，包括用于将端子4定向排列的振动盘1,端子4的形状如图2所示，其上端为扁部401，扁部401上有扁部通孔4011，扁部401下端连着颈部404，颈部404下端连着法兰部402，法兰部402下端连着杆部403，扁部401是用于磁控管插座连接外部电源的触头，杆部403用于连接磁控管内部线路，振动盘1包括用于将已定向排列的端子4移送输出的输送轨101，输送轨101是一块斜着螺旋弯曲的板，其上设有轨槽1011，如图2所示，正是端子4的法兰部402搁在轨槽1011实现相对整齐地排列输送。输送轨101的前端适配固定连接有背模板2，即振动盘1扭摆振动也能传递到背模板2，所说的输送轨101的前端是根据端子4的移送方向而定的，背模板2的正面形成有第一凹平面203、背模凹槽204、第二凹平面205及第三凹平面206，背模板2的正面固定安装有面模板3，面模板3的背面形成有第四凹平面301、面模凹槽302及第五凹平面303，这里所说的正面或背面是根据图1而言的，向着观察者的一面定义为正面，如图4所示，背模板2与面模板3围成用于让端子4适配通过的筛选通道7，具体地，第三凹平面206与面模板3的背平面围成的通道适配端子4的扁部401，第二凹平面205与第四凹平面301围成的通道适配端子4的颈部404，背模凹槽204与面模凹槽302位置对应地围成的通道适配端子4的法兰部402，而第一凹平面203与第五凹平面303围成的通道则适配端子4的杆部403，如图4所示，筛选通道7仅比端子4的各部分大一些。背模板2的背面螺接安装有用于对端子4上的扁部通孔4011进行计数检测的第二光纤探头6，具体来说，背模板2设有穿透的螺孔，第二光纤探头6是螺杆状的，第二光纤探头6拧入上述螺孔，再通过第二光纤探头6附带的螺母锁紧，这样第二光纤探头6就固定在背模板2的背面了，面模板3的正面螺接安装有用于与第二光纤探头6组成对射式探头的第一光纤探头5，第一光纤探头5的安装方式跟第二光纤探头6的安装方式相同，第一光纤探头5与第二光纤探头6同轴设置，这样两个探头的光路才能连通，第一光纤探头5与第二光纤探头6之间的光路能够连通或被阻挡截止，还包括光纤放大器和数显计数器，第一光纤探头5与本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于检测磁控管端子的装置，包括用于将端子（4）定向排列的振动盘（1）,所述振动盘（1）包括用于将已定向排列的端子（4）移送输出的输送轨（101），其特征在于：所述输送轨（101）的前端适配固定连接有背模板（2），所述背模板（2）的正面形成有第一凹平面（203）、背模凹槽（204）、第二凹平面（205）及第三凹平面（206），所述背模板（2）的正面固定安装有面模板（3），所述面模板（3）的背面形成有第四凹平面（301）、面模凹槽（302）及第五凹平面（303），所述背模板（2）与所述面模板（3）围成用于让端子（4）适配通过的筛选通道（7），所述背模板（2）的背面螺接安装有用于对端子（4）上的扁部通孔（4011）进行计数检测的第二光纤探头（6），所述面模板（3）的正面螺接安装有用于与第二光纤探头（6）组成对射式探头的第一光纤探头（5），所述第一光纤探头（5）与所述第二光纤探头（6）同轴设置，所述第一光纤探头（5）与所述第二光纤探头（6）之间的光路能够连通或被阻挡截止，还包括光纤放大器和数显计数器，所述第一光纤探头（5）与所述第二光纤探头（6）分别与所述光纤放大器连接，所述光纤放大器与所述数显计数器电连接。/n...

【技术特征摘要】
1.一种用于检测磁控管端子的装置，包括用于将端子（4）定向排列的振动盘（1）,所述振动盘（1）包括用于将已定向排列的端子（4）移送输出的输送轨（101），其特征在于：所述输送轨（101）的前端适配固定连接有背模板（2），所述背模板（2）的正面形成有第一凹平面（203）、背模凹槽（204）、第二凹平面（205）及第三凹平面（206），所述背模板（2）的正面固定安装有面模板（3），所述面模板（3）的背面形成有第四凹平面（301）、面模凹槽（302）及第五凹平面（303），所述背模板（2）与所述面模板（3）围成用于让端子（4）适配通过的筛选通道（7），所述背模板（2）的背面螺接安装有用于对端子（4）上的扁部通孔（4011）进行计数检测的第二光纤探头（6），所述面模板（3）的正面螺接安装有用于与第二光纤探头（6）组成对射式探头的第一光纤探头（5），所述第一光纤探头（5）与所述第二光纤探头（6）同轴设置，所述第一光纤探头（5）与所述第二光纤探头（6）之间的光路能够连通或被阻挡截止，还包括光纤放大器和数显计数器，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘湘林，
申请(专利权)人：佛山市润正精密机械有限责任公司，
类型：新型
国别省市：广东;44