硬盘复检周期确定方法、装置、设备及可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种硬盘复检周期确定方法、装置、设备及计算机可读存储介质，其中硬盘复检周期确定方法包括：获取硬盘的建议监测周期；统计建议监测周期内硬盘的损坏数量，根据损坏数量确定所述监测周期内的对比损坏率及对比损坏周期时间率；利用对比损坏率及对比损坏周期时间率对建议监测周期进行修正，得到复检周期。本发明专利技术的技术方案，利用建议监测周期内的对比损坏率及对比损坏周期时间率对建议监测周期进行修正，使得建议监测周期经过了使用条件的验证，得到的复检周期更加准确。

Determination method, device, equipment and readable storage medium of hard disk recheck period

【技术实现步骤摘要】
硬盘复检周期确定方法、装置、设备及可读存储介质
本专利技术涉及存储
，具体涉及一种硬盘复检周期确定方法、装置、设备及计算机可读存储介质。
技术介绍
在存储领域，至今未有对硬盘进行监测的国家标准。现在市面上硬盘的寿命一般为3-5年，有的厂商会给用户提供一个建议监测周期，以供用户按照建议监测周期对硬盘质量进行检测，确保硬盘的质量。但是上述建议监测周期因未充分考虑各种用户的使用条件等外在因素的影响存在不准确的现象。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种硬盘复检周期确定方法、装置、设备及计算机可读存储介质，以解决现有技术中硬盘监测周期不准确的问题。根据第一方面，本专利技术实施例提供了一种硬盘复检周期确定方法，包括以下步骤：获取硬盘的建议监测周期；统计所述建议监测周期内硬盘的损坏数量，根据所述损坏数量确定所述建议监测周期内的对比损坏率及对比损坏周期时间率；利用所述对比损坏率及对比损坏周期时间率对所述建议监测周期进行修正，得到复检周期。结合第一方面，在第一方面第一实施方式中，所述对比损坏率由下式得到：结合第一方面，在第一方面第二实施方式中，所述对比损坏周期时间率由下式得到：结合第一方面，在第一方面第三实施方式中，所述复检周期由下式得到：复检周期＝建议监测周期×(对比损坏率+1)×对比损坏周期时间率(1+时间参数)；其中，时间参数＝建议监测周期内的周数/年周数。本专利技术实施例提供的硬盘复检周期确定方法，获取硬盘的建议监测周期，统计建议监测周期内硬盘的损坏数量，根据损坏数量确定建议监测周期内的对比损坏率及对比损坏周期时间率；利用对比损坏率及对比损坏周期时间率对建议监测周期进行修正，得到复检周期，本专利技术的技术方案，利用建议监测周期内的对比损坏率及对比损坏周期时间率对建议监测周期进行修正，使得建议监测周期经过了使用条件的验证，得到的复检周期更加准确。根据第二方面，本专利技术实施例提供了一种硬盘复检周期确定装置，包括：获取模块，用于获取硬盘的建议监测周期；计算模块，用于统计所述建议监测周期内硬盘的损坏数量，根据所述损坏数量确定所述建议监测周期内的对比损坏率及对比损坏周期时间率；修正模块，用于利用所述对比损坏率及对比损坏周期时间率对所述建议监测周期进行修正，得到复检周期。结合第二方面，在第二方面第一实施方式中，所述计算模块具体用于：结合第二方面，在第二方面第二实施方式中，，所述计算模块具体用于：结合第二方面，在第二方面第三实施方式中，，所述修改模块具体用于：复检周期＝建议监测周期×(对比损坏率+1)×对比损坏周期时间率(1+时间参数)；其中，时间参数＝建议监测周期内的周数/年周数。根据第三方面，本专利技术实施例提供了一种硬盘复检周期确定设备，包括存储器和处理器，所述存储器和所述处理器之间互相通信连接，所述存储器中存储有计算机指令，所述处理器通过执行所述计算机指令，从而执行第一方面或者第一方面的任意一种实施方式中所述的硬盘复检周期确定方法。根据第四方面，本专利技术实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令用于使所述计算机执行第一方面或者第一方面的任意一种实施方式中所述的硬盘复检周期确定方法。附图说明通过参考附图会更加清楚的理解本专利技术的特征和优点，附图是示意性的而不应理解为对本专利技术进行任何限制，在附图中：图1为本专利技术实施例1中硬盘复检周期确定方法的流程示意图；图2为本专利技术实施例2中硬盘复检周期确定装置的结构示意图；图3为本专利技术实施例3中硬盘复检周期确定设备的结构示意图。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。实施例1本专利技术实施例1提供了一种硬盘复检周期确定方法，图1为本专利技术实施例1中硬盘复检周期确定方法的流程示意图，如图1所示，本专利技术实施例1的硬盘复检周期确定方法包括以下步骤：S101：获取硬盘的建议监测周期。在本专利技术实施例中，建议监测周期可以选用厂商推荐的建议监测周期，也可以采用以下方法得到：获取硬盘至少一个物理属性的状态，筛选出符合预设状态的物理属性；确定与筛选出的物理属性相对应的损坏权重系数，利用所述损坏权重系数确定所述硬盘的当前损坏程度；将所述硬盘的当前损坏程度与所述硬盘的最终损坏程度进行比对，根据比对结果得到硬盘的建议监测周期。具体的，采用S.M.A.R.T获取硬盘物理属性的状态，更加具体的可以选取以下物理属性中的一项或几项作为需要获取的物理属性，其中包括ReadErrorRate(错误读取率)、Start/StopCount(启动/停止次数，又称加电次数)、SpinupRetryCount(旋转重试次数，即硬盘启动重试次数)、RelocatedSectorCount(重新分配扇区数)、DriveCalibrationRetryCount(磁盘校准重试次数)、ULTRADMACRFErrorRate(奇偶校验错误率)、Multi-zoneErrorRate(多区错误率)、vendor-specific(厂商特性)。预设状态为以下中的一项或两项：不合格、报警。作为一个具体的实施方式，确定与筛选出的物理属性相对应的损坏权重系数可以采用以下技术方案：以筛选出的物理属性为索引，在预设的物理属性与损坏权重系数的对应关系中进行查找，得到与筛选出的物理属性相对应的损坏权重系数。具体的，可以通过在预设空间环境下预设时间段内对硬盘的物理属性及硬盘的健康状态进行多次分析，得到所述物理属性与损坏权重系数的对应关系。所述利用所述损坏权重系数确定所述硬盘的当前损坏程度包括：获取所述硬盘的预设硬盘基数；将所述硬盘基数与所述损坏权重系数相乘，得到所述硬盘的当前损坏程度。举例的，当硬盘的当前损坏程度接近硬盘的最终损坏程度值时，说明硬盘的损坏程度较高，此时硬盘为三级预警状态，用户可对硬盘内的数据进行立即迁移，以保护硬盘内的数据；当硬盘的当前损坏程度接近硬盘最终损坏程度的一半时，此时硬盘为二级预警状态，可对硬盘实行3个月一次的复检机制；当硬盘当前的损坏程度远低于硬盘的最终损坏程度时，则硬盘为一级预警状态，此时可对硬盘实行6个月一次的复检机制。S102：统计所述建议监测周期内硬盘的损坏数量，根据所述损坏数量确定所述建议监测周期内的对比损坏率及对比损坏周期时间率。作为一个具体的实施方式，所述对比损坏率由下式得到：作为一个具体的实施方式，所述对比损坏周期时间率由下式得到：S103：利用所述对比损坏率及对比损坏周期本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种硬盘复检周期确定方法，其特征在于，包括：/n获取硬盘的建议监测周期；/n统计所述建议监测周期内硬盘的损坏数量，根据所述损坏数量确定所述建议监测周期内的对比损坏率及对比损坏周期时间率；/n利用所述对比损坏率及对比损坏周期时间率对所述建议监测周期进行修正，得到复检周期。/n

【技术特征摘要】
1.一种硬盘复检周期确定方法，其特征在于，包括：
获取硬盘的建议监测周期；
统计所述建议监测周期内硬盘的损坏数量，根据所述损坏数量确定所述建议监测周期内的对比损坏率及对比损坏周期时间率；
利用所述对比损坏率及对比损坏周期时间率对所述建议监测周期进行修正，得到复检周期。


2.根据权利要求1所述的硬盘复检周期确定方法，其特征在于，所述对比损坏率由下式得到：





3.根据权利要求1所述的硬盘复检周期确定方法，其特征在于，所述对比损坏周期时间率由下式得到：





4.根据权利要求1所述的硬盘复检周期确定方法，其特征在于，所述复检周期由下式得到：
复检周期＝建议监测周期×(对比损坏率+1)×对比损坏周期时间率(1+时间参数)；其中，时间参数＝建议监测周期内的周数/年周数。


5.一种硬盘复检周期确定装置，其特征在于，包括：
获取模块，用于获取硬盘的建议监测周期；
计算模块，用于统计所述建议监测周期内硬盘的损坏数量，根据所述损坏数量确定所述建议监测周期内的对比损坏率及对比损坏周期时间率；

【专利技术属性】
技术研发人员：连秉然，
申请(专利权)人：北京盛赞科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11