一种基于硬件自测模块的DRAM眼图评估方法技术

本发明专利技术提供了一种基于硬件自测模块的DRAM眼图评估方法，包括如下步骤：(1)主控芯片向DRAM芯片发出读/写请求；(2)通过读取自测状态判断DRAM数据采样的正确性；(3)主控芯片中的DRAMPHY改变数据或时钟的延迟单元，结合自测状态获得眼宽；(4)主控芯片中的DRAMPHY改变参考电压，结合自测状态获得眼高；(5)改变延迟单元和参考电压，重复步骤(3)和(4)以获得完整的DRAM眼图大小，其中，主控芯片还包括能够频繁地发送读/写请求的硬件自测逻辑模块Mbist和DRAM控制器。本发明专利技术可以减少对CPU的依赖缩短访问延迟，有效地利用DRAM的最大负荷。

A DRAM eye map evaluation method based on hardware self-test module

【技术实现步骤摘要】
一种基于硬件自测模块的DRAM眼图评估方法
本专利技术涉及电子技术内存控制领域，并且更具体地涉及一种基于硬件自测模块的DRAM眼图评估方法。
技术介绍
当前消费类电子产品对动态随机存取存储器(DRAM)的访问速度和稳定性要求越来越高，DRAM性能成为消费类电子产品的重要指标。评估DRAM性能通常是通过示波器抓取叠加信号得到眼图，以此来评估信号完整性和电源完整性。示波器抓取信号有三种缺陷，第一种是探头本身对PCB板级的信号干扰；第二种是示波器抓取的不是信号的端级；第三种是DRAM发出的DQS信号和DQ信号是对齐的，如附图1，示波器无法抓取两者在主控中实际的相位关系。这些缺陷都会影响信号的真实情况，从而影响分析结果。为了降低消费类电子产品的开发难度，芯片封装已经发展为将多个芯片集成在一起的方案，较为常见的是将主控和DRAM在封装内部连接。这种封装形式下，示波器将无法采集到DRAM信号，制约了DRAM性能的评估手段。
技术实现思路
针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种基于硬件自测模块的DRAM眼图评估方法，通过本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于硬件自测模块的DRAM眼图评估方法，其特征在于，包括如下步骤：/n(1)主控芯片向DRAM芯片发出读/写请求；/n(2)通过读取自测状态判断DRAM数据采样的正确性；/n(3)主控芯片中的DRAMPHY改变数据或时钟的延迟单元，结合自测状态获得眼宽；/n(4)主控芯片中的DRAMPHY改变参考电压，结合自测状态获得眼高；/n(5)改变延迟单元和参考电压，重复所述步骤(3)和所述步骤(4)以获得完整的DRAM眼图大小，/n其中，主控芯片还包括发送读/写请求的硬件，所述硬件包括自测逻辑模块Mbist和DRAM控制器。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于硬件自测模块的DRAM眼图评估方法，其特征在于，包括如下步骤：
(1)主控芯片向DRAM芯片发出读/写请求；
(2)通过读取自测状态判断DRAM数据采样的正确性；
(3)主控芯片中的DRAMPHY改变数据或时钟的延迟单元，结合自测状态获得眼宽；
(4)主控芯片中的DRAMPHY改变参考电压，结合自测状态获得眼高；
(5)改变延迟单元和参考电压，重复所述步骤(3)和所述步骤(4)以获得完整的DRAM眼图大小，
其中，主控芯片还包括发送读/写请求的硬件，所述硬件包括自测逻辑模块Mbist和DRAM控制器。


2.根据权利要求1所述的DRAM眼图评估方法，其特征在于，所述硬件自测逻辑模块包括与比较器电路连接的逻辑产生器。


3.根据权利要求2所述的DRAM眼图评估方法，其特征在于，通过逻辑产生器配置访问起始地址、访问数据量、数据类型、读写类型及访问次数，向DRAM控制器发送读写请求。


4.根据权利要求2所述的DRAM眼图评估方法，其特征在于，所述比较器用于将返回的数据与逻辑产生器所配置的数据进行比较，从而输出自测状态。


5.根据权利要求2所述的DRAM眼图评估方法，其特征在于，所述逻辑产生器被配置为单独写访问或者读访问，用于区分不同的眼图类型。
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【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：珠海亿智电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44