零件孔内异物检测方法、终端设备及计算机可读存储介质技术

本发明专利技术提供一种零件孔内异物检测方法、终端设备及计算机可读存储介质，方法包括如下步骤：通过OCT测量单元向待测零件孔内部的表面发射光束，进行光学相干层析成像，获得所述待测零件孔内的断层图；对所述断层图进行处理，得到所述待测零件孔的孔口和孔底的位置；根据所述孔底的厚度确定异物检测结果。通过OCT测量单元向待测零件孔内部的表面发射光束，进行光学相干层析成像，获得所述待测零件孔内的断层图，然后对断层图进行处理，根据孔底厚度判断是否存在异物，能够检测出微米级的异物，精度高，准确率高，效率快。

Detection method, terminal equipment and computer readable storage medium of foreign matters in hole of parts

【技术实现步骤摘要】
零件孔内异物检测方法、终端设备及计算机可读存储介质
本专利技术涉及图像处理
，尤其涉及一种零件孔内异物检测方法、终端设备及计算机可读存储介质。
技术介绍
在工业生产过程中，机械加工过程中会存留一些铁屑(微米级别)及工业生产过程中会用一些特殊的制程来处理样品，因此零件孔内可能会存在一些异物，这些异物可能会影响样品的后期使用(如对锁螺丝产生影响，干扰样品内的信号)。现有技术中采用显微镜人工检测，需要消耗大量的人力成本，且主观性太强；即便采用设备辅助检查，其精度也不高，不能满足实际需求。
技术实现思路
本专利技术为了解决现有的问题，提供一种零件孔内异物检测方法。为了解决上述问题，本专利技术采用的技术方案如下所述：一种零件孔内异物检测方法，包括如下步骤：S1：通过OCT测量单元向待测零件孔内部的表面发射光束，进行光学相干层析成像，获得所述待测零件孔内的断层图；S2：对所述断层图进行处理，得到所述待测零件孔的孔口和孔底的位置；S3：根据所述孔底的厚度确定异物检测结果。优选地，对所述断层图进行处理包括：S2本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种零件孔内异物检测方法，其特征在于，包括如下步骤：/nS1：通过OCT测量单元向待测零件孔内部的表面发射光束，进行光学相干层析成像，获得所述待测零件孔内的断层图；/nS2：对所述断层图进行处理，得到所述待测零件孔的孔口和孔底的位置；/nS3：根据所述孔底的厚度确定异物检测结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种零件孔内异物检测方法，其特征在于，包括如下步骤：
S1：通过OCT测量单元向待测零件孔内部的表面发射光束，进行光学相干层析成像，获得所述待测零件孔内的断层图；
S2：对所述断层图进行处理，得到所述待测零件孔的孔口和孔底的位置；
S3：根据所述孔底的厚度确定异物检测结果。


2.如权利要求1所述的零件孔内异物检测方法，其特征在于，对所述断层图进行处理包括：
S21：对所述断层图进行分割得到过渡分割图像；
S22：在所述过渡分割图像中把面积最大的连通区域归零，其它得区域归为非零的一个数值，得到二分图像；
S23：对所述二分图像中横向相邻的10-20个像素相加得到两个波峰，从上到下的两个波峰分别是孔口和孔底，在所述二分图像中确认所述孔口和所述孔底的位置。


3.如权利要求2所述的零件孔内异物检测方法，其特征在于，所述断层图进行分割综合图像的不相似度和位置信息，根据类内差异和类间的差异确定自适应阈值。


4.如权利要求2所述的零件孔内异物检测方法，其特征在于，步骤S3包括如下步骤：
S31...

【专利技术属性】
技术研发人员：王海川，刘艳华，张智颢，郭曙光，代祥松，李鹏，
申请(专利权)人：深圳市斯尔顿科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44