透明长方体折射率的测量方法技术

透明长方体折射率的测量方法涉及折射率的测量，特别是长方体透明材质折射率的测量。平行光近轴入射到凸透镜，汇聚到凸透镜后方的焦点，焦距f=20cm，平行光光斑的直径为d，d/f<=0.035，角度的正弦值、角度的正切值都与角度的幅度值近似相等，其特征是：移动光屏找到凸透镜的汇聚光点，记录凸透镜汇聚后的光点所在的光具座位置X1；然后在凸透镜后方插入一块厚度为w的透明长方体，透明长方体的支座紧挨着凸透镜的支座，再次移动光屏找到凸透镜的汇聚光点，再次记录凸透镜汇聚后的光点所在的光具座位置X2；X2‑X1=S；折射率n=w/(w‑S)。测量工具简单；操作简单明了。

Measurement method of refractive index of transparent cuboid

【技术实现步骤摘要】
透明长方体折射率的测量方法
本专利技术涉及折射率的测量，特别是长方体透明材质折射率的测量。
技术介绍
测量固体的折射率有较多的方法。大多数采用全反射，或者分光计，或者阿贝折射仪。
技术实现思路
本专利技术提出一种新的固体折射率的测量方法，适合于比较厚的透明材质，特别是长方体材质的折射率测量。属于对已成型产品折射率的测量范畴。本专利技术实现专利技术目的采用的技术方案是：透明长方体折射率的测量方法，单色平行光近轴入射到凸透镜左侧，凸透镜的光轴为入射平行光光斑的中心轴线，凸透镜的光轴与平行光的传播方向平行，汇聚到凸透镜右侧的焦点，焦距f=20cm，平行光光斑的直径为d，d/f<=0.035，因此角度的正弦值、角度的正切值都与角度的幅度值近似相等，其特征是：移动光屏在凸透镜右侧找到的汇聚光点，记录凸透镜汇聚后的光点所在的光具座位置X1；然后在凸透镜右侧插入一块厚度为w的透明长方体，透明长方体的法线与凸透镜的光轴平行，透明长方体的支座紧挨着凸透镜的支座，移动光屏再次在透明长方体右侧找到汇聚光点，记录凸透镜汇聚后的光点所在本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.透明长方体折射率的测量方法，单色平行光近轴入射到凸透镜左侧，凸透镜的光轴为入射平行光光斑的中心轴线，其特征是：移动光屏在凸透镜右侧找到的汇聚光点，记录凸透镜汇聚后的光点所在的光具座位置X1；然后在凸透镜右侧插入一块厚度为w的透明长方体，透明长方体的法线与凸透镜的光轴平行，透明长方体的支座紧挨着凸透镜的支座，移动光屏再次在透明长方体右侧找到汇聚光点，记录凸透镜汇聚后的光点所在的光具座位置X2；X2-X1=S；折射率n= w /( w-S)。/n

【技术特征摘要】
1.透明长方体折射率的测量方法，单色平行光近轴入射到凸透镜左侧，凸透镜的光轴为入射平行光光斑的中心轴线，其特征是：移动光屏在凸透镜右侧找到的汇聚光点，记录凸透镜汇聚后的光点所在的光具座位置X1；然后在凸透镜右侧插入一块厚度为w的透明长方体，透明长方体的法线与凸透镜的光轴平行，透...

【专利技术属性】
技术研发人员：李娟，胡再国，
申请(专利权)人：四川大学，
类型：发明
国别省市：四川;51