照度校正装置、照度校正方法以及照度检测方法制造方法及图纸

一种照度校正装置，包括：参考光源以及照度检测装置。参考光源产生具有特定波长以及光源照度的光线，其中参考光源根据控制信号，调整光源照度为第一照度。照度检测装置包括：遮光板、照度检测器以及控制器。遮光板用以将第一照度降低至第一遮光照度。照度检测器检测第一遮光照度而发出检测信号。控制器发出控制信号，并根据检测信号而计算第一照度以及第一遮光照度的第一比值。

Illuminance correction device, illuminance correction method and illuminance detection method

【技术实现步骤摘要】
照度校正装置、照度校正方法以及照度检测方法
本专利技术有关于一种照度检测装置及其方法，特别有关于一种照度校正与检测装置及其方法。
技术介绍
由于目前的便携设备上皆搭载光源传感器，加上设计时都会加上遮光板以滤除部分光线，使得每个便携设备上的照度传感器之间所量测出来的照度的差异非常大。此外，照度传感器之间的差异以及遮光板的透光率的差异，都会使得不同的装置量测照度的结果具有显著的差距。因此，我们有需要一套照度校正以及检测的装置及其方法以克服此问题，使得用户在不同装置上所测量到的照度皆能具有一致性。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提出一种照度校正装置，包括：参考光源以及照度检测装置。所述参考光源产生具有特定波长以及光源照度的光线，其中所述参考光源根据控制信号，调整所述光源照度为第一照度。所述照度检测装置包括：遮光板、照度检测器以及控制器。所述遮光板用以将所述第一照度降低至第一遮光照度。所述照度检测器检测所述第一遮光照度而发出检测信号。所述控制器发出所述控制信号，并根据所述检测信号而计算所述第一照度以及所述第一遮光照度的第一比值。根据本专利技术的实施例，当所述照度检测装置用以检测待测光源的照度时，所述照度检测器透过所述遮光板检测到所述特定波长的照度为检测照度而发出所述检测信号，所述控制器根据所述检测信号，判断所述待测光源的照度为所述检测照度以及所述比值的乘积，其中所述检测照度小于所述第一遮光照度。根据本专利技术的另一实施例，所述控制器还根据所述控制信号而将所述光源照度调整为第二照度，所述遮光板将所述第二照度降低至第二遮光照度，所述照度检测器检测所述第二遮光照度而发出所述检测信号，所述控制器还根据所述检测信号，计算第一差值以及第二差值的第二比值，其中所述第一差值为所述第二照度减去所述第一照度，所述第二差值为所述第二遮光照度减去所述第一遮光照度，其中所述第二照度大于所述第一照度，所述第二遮光照度大于所述第一遮光照度。根据本专利技术的另一实施例，当所述照度检测装置用以检测待测光源的照度时，所述照度检测器透过所述遮光板检测所述特定波长的照度为检测照度并发出所述检测信号，所述控制器还判断所述检测照度是否大于所述第一遮光照度及/或所述第二遮光照度，其中当所述检测照度大于所述第一遮光照度且小于所述第二遮光照度时，所述控制器判断所述待测光源的照度为所述检测照度以及所述第二比值的乘积。根据本专利技术的实施例，所述特定波长为390纳米至700纳米之间。本专利技术还提出一种照度校正方法，包括：利用参考光源，产生具有特定波长以及光源照度的光线；调整所述光源照度为第一照度；利用遮光板，将所述第一照度降低至第一遮光照度；检测所述第一遮光照度；以及计算所述第一照度以及所述第一遮光照度的第一比值。根据本专利技术的另一实施例，照度校正方法还包括：将所述光源照度调整为第二照度，其中所述第二照度大于所述第一照度；利用所述遮光板，将所述第二照度降低至第二遮光照度；检测所述第二遮光照度；以及计算第一差值以及第二差值的第二比值，其中所述第一差值为所述第二照度减去所述第一照度，所述第二差值为所述第二遮光照度减去所述第一遮光照度。根据本专利技术的实施例，所述特定波长为390纳米至700纳米之间。本专利技术更一种照度检测方法，包括：透过遮光板，检测待测光源的特定波长的照度为检测照度；判断所述检测照度是否小于第一遮光照度；以及当所述检测照度小于所述第一遮光照度时，判断所述待测光源的照度为所述检测照度以及比值的乘积，其中所述比值对应至所述第一遮光照度。根据本专利技术的另一实施例，照度检测方法还包括：判断所述检测照度是否小于所述第一遮光照度及/或所述第二遮光照度，其中所述第二照度大于所述第一照度；当所述检测照度不小于所述第一遮光照度且小于所述第二遮光照度时，判断所述待测光源的照度为所述检测照度以及所述第二比值的乘积，其中所述第二遮光照度大于所述第一遮光照度所述第二比值对应至所述第二遮光照度；以及当所述检测照度不小于所述第二遮光照度时，发出警示。根据本专利技术的实施例，所述特定波长为390纳米至700纳米之间。附图说明图1显示根据本专利技术的实施例所述的照度校正装置的方块图；图2显示根据本专利技术的实施例所述的照度检测装置的方块图；图3显示根据本专利技术的实施例所述的照度校正方法的流程图；图4显示根据本专利技术的实施例所述的照度检测方法的流程图；图5显示根据本专利技术的实施例所述的光源照度以及遮光照度的关的曲线图；图6显示根据本专利技术的另一实施例所述的照度校正方法的流程图；图7显示根据本专利技术的另一实施例所述的照度检测方法的流程图；以及图8显示根据本专利技术的另一实施例所述的光源照度以及遮光照度的关的曲线图。具体实施方式以下说明为本专利技术的实施例。其目的是要举例说明本专利技术一般性的原则，不应视为本专利技术的限制，本专利技术的范围当以申请专利范围所界定者为准。值得注意的是，以下所公开的内容可提供多个用以实践本专利技术的不同特点的实施例或范例。以下所述的特殊的组件范例与安排仅用以简单扼要地阐述本专利技术的精神，并非用以限定本专利技术的范围。此外，以下说明书可能在多个范例中重复使用相同的组件符号或文字。然而，重复使用的目的仅为了提供简化并清楚的说明，并非用以限定多个以下所讨论的实施例以及/或配置之间的关系。此外，以下说明书所述的一个特征连接至、耦接至以及/或形成于另一特征的上等的描述，实际可包含多个不同的实施例，包括该等特征直接接触，或者包含其它额外的特征形成于该等特征之间等等，使得该等特征并非直接接触。图1显示根据本专利技术的实施例所述的照度校正装置的方块图。如图1所示，照度校正装置100包括参考光源10以及照度检测装置110。参考光源10产生具有特定波长WS以及光源照度IS的光线LS，并且根据控制信号SC而调整光源照度IS。根据本专利技术的实施例，为了使照度检测装置110所检测到的照度与人眼所见的照度一致，特定波长WS应为可见光的范围，因此特定波长WS为390纳米至700纳米之间，或是380纳米至780纳米之间。根据本专利技术的另一实施例，由于人眼对于波长为550纳米的光线最为敏感，因此特定波长WS亦可为550纳米的光线。照度检测装置110包括遮光板111、照度检测器112以及控制器113。遮光板111具有透光率，具有光源照度IS的光线LS经过遮光板111后，产生具有遮光照度ISH的遮光光线LSH，其中遮光照度ISH小于光源照度IS。根据本专利技术的实施例，遮光照度ISH为光源照度IS与遮光板111的透光率的乘积。举例来说，当透光率为5％时，遮光照度ISH为光源照度IS的百分的五。根据本专利技术的实施例，遮光板111仅用以将光线LS的光源照度IS降低，并未将光线LS的某些波长的光予以滤除。照度检测器112用以透过遮光板111检测光线LS的光源照度IS，也就是照度检测器112检测遮光照度ISH而发出检测信号SD。根据本专利技术的实施例，由于照度检测器112所能检测到的照度值有其上限本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种照度校正装置，包括：/n参考光源，产生具有特定波长以及光源照度的光线，其中所述参考光源根据控制信号，调整所述光源照度为第一照度；以及/n照度检测装置，包括：/n遮光板，用以将所述第一照度降低至第一遮光照度；/n照度检测器，检测所述第一遮光照度而发出检测信号；以及/n控制器，发出所述控制信号，并根据所述检测信号而计算所述第一照度以及所述第一遮光照度的第一比值。/n

【技术特征摘要】
20180918 TW 1071327871.一种照度校正装置，包括：
参考光源，产生具有特定波长以及光源照度的光线，其中所述参考光源根据控制信号，调整所述光源照度为第一照度；以及
照度检测装置，包括：
遮光板，用以将所述第一照度降低至第一遮光照度；
照度检测器，检测所述第一遮光照度而发出检测信号；以及
控制器，发出所述控制信号，并根据所述检测信号而计算所述第一照度以及所述第一遮光照度的第一比值。


2.如权利要求1所述的照度校正装置，其中当所述照度检测装置用以检测待测光源的照度时，所述照度检测器通过所述遮光板检测到所述特定波长的照度为检测照度而发出所述检测信号，所述控制器根据所述检测信号，判断所述待测光源的照度为所述检测照度以及所述比值的乘积，其中所述检测照度小于所述第一遮光照度。


3.如权利要求1所述的照度校正装置，其中所述控制器还根据所述控制信号而将所述光源照度调整为第二照度，所述遮光板将所述第二照度降低至第二遮光照度，所述照度检测器检测所述第二遮光照度而发出所述检测信号，所述控制器还根据所述检测信号，计算第一差值以及第二差值的第二比值，其中所述第一差值为所述第二照度减去所述第一照度，所述第二差值为所述第二遮光照度减去所述第一遮光照度，其中所述第二照度大于所述第一照度，所述第二遮光照度大于所述第一遮光照度。


4.如权利要求3所述的照度校正装置，其中当所述照度检测装置用以检测待测光源的照度时，所述照度检测器通过所述遮光板检测所述特定波长的照度为检测照度并发出所述检测信号，所述控制器还判断所述检测照度是否大于所述第一遮光照度和/或所述第二遮光照度，其中当所述检测照度大于所述第一遮光照度且小于所述第二遮光照度时，所述控制器判断所述待测光源的照度为所述检测照度以及所述第二比值的乘积。


5.如权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：林信良，
申请(专利权)人：广达电脑股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71