一种WIC镶嵌线临界电流测量用样品的制备方法技术

本发明专利技术提供了一种WIC镶嵌线临界电流测量用样品的制备方法，包括取WIC镶嵌线，清洁线材样品骨架，固定到线材样品骨架一端，将样品夹持到绕样机上，线材样品顺着滚轮的方向绕制用螺丝固定，进行锡焊固定，取一根漆包线，焊到绕制的WIC线圈上3圈，用低温胶带对电位线进行包裹固定，打磨去除两侧铜环上的异物，样品在低温环境下进行测试，测量得到的曲线并做出相应的计算处理得出临界电流值。利用本发明专利技术WIC线材样品骨架，制备出的样品与槽体紧密结合，形状统一，绕制出的样品无侧翻扭弯等不良现象，消除了因制样人员不同而导致的人为不稳定因素，整个制样过程操作简单过程标准化，在超导线材测量领域具有广泛适用性。

A sample preparation method for WIC inlay line critical current measurement

【技术实现步骤摘要】
一种WIC镶嵌线临界电流测量用样品的制备方法
本专利技术属于超导材料性能测量
，涉及一种WIC镶嵌线临界电流测量用样品的制备方法。
技术介绍
以NbTi和Nb3Sn为代表低温超导线材是目前应用最广泛的超导体。在核磁共振成像仪(MRI)、核磁共振谱仪(NMR)、大型粒子加速器及超导储能系统(SMES)，磁约束核聚变装置(Tokamak)等多个领域有着极其广泛的应用。而今，随着国内低温超导线材大规模生产的展开，线材种类增加，面向的客户群也在日益增大。WIC镶嵌线的产量也日益加大，样品制备的成品率要求也应逐渐增加，原有ITER骨架已不能满足目前WIC镶嵌线样品的正常绕制。由于WIC镶嵌线的结构特殊由铜槽线和圆芯线镶嵌而成，有着尺寸大、铜比大的特征，在绕制过程中很耗时耗力，制备出的样品与槽体结合性差，形状难统一，绕制出的样品存在侧翻扭弯等不良现象，因制样人员不同而导致的人为不稳定因素，整个制样过程难以标准一致。
技术实现思路
针对现有技术中在绕制过程中很耗时耗力，制备出的样品与槽体结合性差，形状难统一，绕制出的样品存在本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种WIC镶嵌线临界电流测量用样品的制备方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：/n步骤1：取WIC镶嵌线，清洁线材样品骨架，用超声波清洗机对骨架清洗干净后脱水烘干；/n步骤2：将线材样品一端绕弯，固定到线材样品骨架一端，将样品夹持到绕样机上线材样品顺着滚轮的方向；/n步骤3：线材样品顺着螺纹进行绕制，线材样品绕制到另一侧铜环时，将样品尾端绕在螺栓上用螺丝固定；/n步骤4：对线材样品骨架两端铜环上绕制的WIC镶嵌线进行锡焊固定；/n步骤5：取一根漆包线，将两端的漆剥掉，将漆包线焊到所绕制的WIC线圈上3圈，焊接完成后剪去一端长5cm-15cm，另一端顺着螺纹进行绕制，待绕到另一处焊点处，将...

【技术特征摘要】
1.一种WIC镶嵌线临界电流测量用样品的制备方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：
步骤1：取WIC镶嵌线，清洁线材样品骨架，用超声波清洗机对骨架清洗干净后脱水烘干；
步骤2：将线材样品一端绕弯，固定到线材样品骨架一端，将样品夹持到绕样机上线材样品顺着滚轮的方向；
步骤3：线材样品顺着螺纹进行绕制，线材样品绕制到另一侧铜环时，将样品尾端绕在螺栓上用螺丝固定；
步骤4：对线材样品骨架两端铜环上绕制的WIC镶嵌线进行锡焊固定；
步骤5：取一根漆包线，将两端的漆剥掉，将漆包线焊到所绕制的WIC线圈上3圈，焊接完成后剪去一端长5cm-15cm，另一端顺着螺纹进行绕制，待绕到另一处焊点处，将漆包线进行双绞；
步骤6：用低温胶带对电位线进行包裹固定；
步骤7：打磨去除两侧铜环上的异物，样品在低温环境下进行测试，测量得到的曲线并做出相应的计算处理得出临界电流值。


2.如权利要求1所述的WIC镶嵌线临界电流测量用样品的制备方法，其特征在于，步骤1取2.2m的WIC镶嵌线，清洁线材样品骨架时用超声波清洗机对骨架清洗干净，取出后放入无水乙醇脱水并烘干，样品清洁全程制样者佩戴手套；步骤3线材样品绕制全程应佩戴洁净的手套；步骤4用专用的烙铁对骨架两端铜环上绕制的WIC镶嵌线进行锡焊固定，焊接过程应佩戴3M口罩，焊锡用低熔点的焊锡丝，样品焊接完成后将两端铜环上的螺栓全部拆除；步骤6将焊点处的焊锡膏用酒精进行擦拭清洁，用低温胶带对电位线进行包裹固定。


3.如权利要求1所述的WIC镶嵌线临界电流测量用样品的制备方法，其特征在于，步骤5取一根长70cm的漆包线将两端的漆用焊锡烫掉，将漆包线焊到所绕制的W...

【专利技术属性】
技术研发人员：张平祥，董茂胜，王菲菲，张凯林，高慧贤，昌胜红，王蒙，郭强，刘建伟，李建峰，刘向宏，冯勇，
申请(专利权)人：西部超导材料科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：陕西;61