一种智能门锁抗电磁干扰检测系统技术方案

本发明专利技术提供一种智能门锁抗电磁干扰检测系统。所述智能门锁抗电磁干扰检测系统包括上位机控制模块；电磁辐射生成模块，所述电磁辐射生成模块与所述上位机控制模块相连接；机械臂模块，所述机械臂模块与所述上位机控制模块相连接；开锁信号采集模块，所述开锁信号采集模块与所述上位机控制模块相连接；天线模块，所述天线模块与所述电磁辐射生成模块和机械臂模块相连接；样品支架，所述样品支架与所述天线模块相连接；智能门锁样品，所述智能门锁样品与所述样品支架和开锁信号采集模块相连接。本发明专利技术提供的智能门锁抗电磁干扰检测系统具有电磁辐射的强度、频率、时间以及空间位置准确可控的优点。

An anti electromagnetic interference detection system of intelligent door lock

【技术实现步骤摘要】
一种智能门锁抗电磁干扰检测系统
本专利技术涉及智能门锁
，尤其涉及一种智能门锁抗电磁干扰检测系统。
技术介绍
现有的智能门锁抗电磁干扰检测的设备一般采用“小黑盒”，也就是特斯拉线圈。“小黑盒”的基本原理是通过缠绕一段初级线圈和次级线圈，与三极管、电阻、电容等元器件根据相关电路图连接起来，再配合电池供电，产生高频率、高强度的电磁脉冲来影响智能门锁内部的电子电路和主要芯片等，从而对门锁进行信号干扰，导致门锁重启或者死机，达到开锁的目的。但是，基于“小黑盒”的智能门锁抗电磁干扰检测方法具有以下问题：(1)“小黑盒”产生的电磁辐射频率、功率固定单一；(2)电磁辐射的触发和时长均取决于手动按键操作，因此，“小黑盒”产生的电磁辐射触发时间和持续时间都不能精确控制；(3)攻击门锁时操作人员手持“小黑盒”以改变位置，导致“小黑盒”物理位置定位不准确；(4)无法记录开锁时的电磁辐射强度、频率、时间以及空间位置，因而难以复现攻击结果。因此，有必要提供一种新的智能门锁抗电磁干扰检测系统解决上述技术问题。
技术实现思路
本专利技术解决的技术问题是提供一种具有电磁辐射的强度、频率、时间以及空间位置准确可控的智能门锁抗电磁干扰检测系统。为解决上述技术问题，本专利技术提供的智能门锁抗电磁干扰检测系统包括：上位机控制模块；电磁辐射生成模块，所述电磁辐射生成模块与所述上位机控制模块相连接；机械臂模块，所述机械臂模块与所述上位机控制模块相连接；开锁信号采集模块，所述开锁信号采集模块与所述上位机控制模块相连接；天线模块，所述天线模块与所述电磁辐射生成模块和机械臂模块相连接；样品支架，所述样品支架与所述天线模块相连接；智能门锁样品，所述智能门锁样品与所述样品支架和开锁信号采集模块相连接，且所述智能门锁样品与所述天线模块相适配。优选的，所述上位机控制模块用于设置电磁辐射生成模块、机械臂模块、开锁信号采集模块的相关参数，包括电磁辐射信号的功率、频率、持续时间以及扫描位置；在检测过程中，上位机控制模块自动采集并保存开锁触发时刻的波形。优选的，所述天线模块与所述电磁辐射生成模块的辐射信号输出端相连接，所述天线模块为折叠式天线模块，用于发射宽频带的电磁辐射信号。优选的，所述机械臂模块包括底座、机械臂本体、工具端、控制柜和示教器，所述工具端位于所述机械臂本体上，所述机械臂本体设有六个关节。优选的，所述样品支架包括支架法兰和与所述支架法兰固定连接的安装支架，所述支架法兰固定套设在所述底座的外侧。优选的，所述开锁信号采集模块的输入信号来于所述智能门锁样品的开锁信号，用于自动记录开锁信号触发时刻的波形。与相关技术相比较，本专利技术提供的智能门锁抗电磁干扰检测系统具有如下有益效果：本专利技术提供一种智能门锁抗电磁干扰检测系统，利用可控电磁辐射生成模块产生功率、频率、持续时间可调的电磁辐射信号，用于攻击测试样品；利用机械臂模块末端夹装天线模块，可以自由调整天线模块的位置和角度，能够以不同功率、频率、持续时间的电磁辐射从不同的位置和角度扫描智能门锁样品，从而有效的验证其抗电磁干扰的能力；自动化程度，可以大幅提高效率；可以为后续智能门锁的统一标准制定提供一定的参考。附图说明图1为本专利技术提供的智能门锁抗电磁干扰检测系统的原理框图；图2为本专利技术提供的智能门锁抗电磁干扰检测系统的操作流程图；图3为本专利技术提供的智能门锁抗电磁干扰检测系统的机械臂模块的结构示意图；图4为本专利技术提供的智能门锁抗电磁干扰检测系统的样品支架的俯视结构示意图；图5为本专利技术提供的智能门锁抗电磁干扰检测系统的样品支架的正视结构示意图。图中标号：1、底座，2、机械臂本体，3、工具端，4、控制柜，5、示教器，6、支架法兰，7、安装支架。具体实施方式下面结合附图和实施方式对本专利技术作进一步说明。请结合参阅图1、图2、图3、图4和图5，其中，图1为本专利技术提供的智能门锁抗电磁干扰检测系统的原理框图；图2为本专利技术提供的智能门锁抗电磁干扰检测系统的操作流程图；图3为本专利技术提供的智能门锁抗电磁干扰检测系统的机械臂模块的结构示意图；图4为本专利技术提供的智能门锁抗电磁干扰检测系统的样品支架的俯视结构示意图；图5为本专利技术提供的智能门锁抗电磁干扰检测系统的样品支架的正视结构示意图。智能门锁抗电磁干扰检测系统包括：上位机控制模块；电磁辐射生成模块，所述电磁辐射生成模块与所述上位机控制模块相连接；机械臂模块，所述机械臂模块与所述上位机控制模块相连接；开锁信号采集模块，所述开锁信号采集模块与所述上位机控制模块相连接；天线模块，所述天线模块与所述电磁辐射生成模块和机械臂模块相连接；样品支架，所述样品支架与所述天线模块相连接；智能门锁样品，所述智能门锁样品与所述样品支架和开锁信号采集模块相连接，且所述智能门锁样品与所述天线模块相适配。所述上位机控制模块用于设置电磁辐射生成模块、机械臂模块、开锁信号采集模块的相关参数，包括电磁辐射信号的功率、频率、持续时间以及扫描位置；在检测过程中，上位机控制模块自动采集并保存开锁触发时刻的波形。所述天线模块与所述电磁辐射生成模块的辐射信号输出端相连接，所述天线模块为折叠式天线模块，用于发射宽频带的电磁辐射信号。所述机械臂模块包括底座1、机械臂本体2、工具端3、控制柜4和示教器5，所述工具端3位于所述机械臂本体2上，所述机械臂本体2设有六个关节。所述样品支架包括支架法兰6和与所述支架法兰6固定连接的安装支架7，所述支架法兰6固定套设在所述底座1的外侧。所述开锁信号采集模块的输入信号来于所述智能门锁样品的开锁信号，用于自动记录开锁信号触发时刻的波形。本专利技术提供的智能门锁抗电磁干扰检测系统的工作原理如下：本专利技术是一个由机械臂模块、电磁辐射生成模块、天线模块、开锁信号采集模块、样品支架以及上位机控制模块组成的综合检测平台，基本原理是控制电磁辐射生成模块根据设定功率、频率以及时间产生特定的电磁辐射并耦合到天线模块上；将天线模块装到机械臂模块末端，并控制机械臂模块末端从不同的位置和角度扫描放置在样品支架上的智能门锁；在扫描过程中，将智能门锁的开锁信号连接到开锁信号采集模块上，一旦开锁就记录开锁信号采集模块的波形数据，以用于分析智能门锁受电磁干扰的影响规律。以上电磁辐射生成模块、机械臂模块以及开锁信号采集模块均由上位机控制模块控制，因此上述过程能够自动化的实现，具体操作步骤如下：(1)将被测试的智能门锁样品放置在样品支架上；(2)根据样品的尺寸以及样品控制电路的位置确定天线需要扫描的空间位置，并将位置参数写入上位机控制模块；(3)根据需要设置电磁辐射的功率、频率和持续时间；(4)开始扫描测试，并记录开锁时的波形数据以及当时电磁辐射的功率、频率和持续时间、机械臂末端的位姿；(5)利用记录下的参数重复测试结果，从而验证这一测试结果的有效性。与相关技术相比本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种智能门锁抗电磁干扰检测系统，其特征在于，包括：/n上位机控制模块；/n电磁辐射生成模块，所述电磁辐射生成模块与所述上位机控制模块相连接；/n机械臂模块，所述机械臂模块与所述上位机控制模块相连接；/n开锁信号采集模块，所述开锁信号采集模块与所述上位机控制模块相连接；/n天线模块，所述天线模块与所述电磁辐射生成模块和机械臂模块相连接；/n样品支架，所述样品支架与所述天线模块相连接；/n智能门锁样品，所述智能门锁样品与所述样品支架和开锁信号采集模块相连接，且所述智能门锁样品与所述天线模块相适配。/n

【技术特征摘要】
1.一种智能门锁抗电磁干扰检测系统，其特征在于，包括：
上位机控制模块；
电磁辐射生成模块，所述电磁辐射生成模块与所述上位机控制模块相连接；
机械臂模块，所述机械臂模块与所述上位机控制模块相连接；
开锁信号采集模块，所述开锁信号采集模块与所述上位机控制模块相连接；
天线模块，所述天线模块与所述电磁辐射生成模块和机械臂模块相连接；
样品支架，所述样品支架与所述天线模块相连接；
智能门锁样品，所述智能门锁样品与所述样品支架和开锁信号采集模块相连接，且所述智能门锁样品与所述天线模块相适配。


2.根据权利要求1所述的智能门锁抗电磁干扰检测系统，其特征在于，所述上位机控制模块用于设置电磁辐射生成模块、机械臂模块、开锁信号采集模块的相关参数，包括电磁辐射信号的功率、频率、持续时间以及扫描位置；在检测过程中，上位机控制模块自动采集并保存开锁...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜磊，李海滨，王仕卫，杨子航，徐九八，石健，赵永锁，
申请(专利权)人：北京智慧云测信息技术有限公司，北京智慧云测设备技术有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11