曝光调整方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及图像采集技术领域，具体涉及一种曝光调整方法及装置，方法包括：检测图像采集设备的摄像头传输的图像是否处于过曝状态，并在检测结果为是时获取摄像头对应的曝光参数，以及获取该图像对应的深度位置信息，将该图像与深度位置信息进行映射后得到深度图像，并将深度图像输入预设深度图像学习模型进行检测以得到检测目标，将该图像与检测目标进行反映射得到检测目标在图像中的对应位置并将该对应位置作为目标位置，根据光强值对摄像头的曝光参数进行调整后对目标位置进行聚焦。通过上述方法，以实现自动调节曝光参数，并有效避免采用人工调节的方式造成时间浪费和调节不准确的情况。

Exposure adjustment method and device

【技术实现步骤摘要】
曝光调整方法及装置
本专利技术涉及图像采集
，具体而言，涉及一种曝光调整方法及装置。
技术介绍
目前，在采用摄像头进行图像获取的过程中通常存在过曝光或欠曝光进而造成影像失常的情况，目前主要通过人工调节的方式重新聚焦，从而修正了强光引起的曝光时间过长造成的影像失常，或者光照不足引起的图像过暗的情况。专利技术人经研究发现，采用人工调节的方式进行聚焦通常会花费过多的时间，且在调节过程中，由于采用人的主观判断较为局限进而存在调节不准确影响图像的拍摄效果的情况。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种曝光调整方法及装置，以有效缓解上述技术问题。为实现上述目的，本专利技术实施例采用如下技术方案：一种曝光调整方法，应用于图像采集设备，包括：检测所述图像采集设备的摄像头传输的图像是否处于过曝状态，并在检测结果为是时获取所述摄像头对应的曝光参数，以及获取该图像对应的深度位置信息；将该图像与所述深度位置信息进行映射后得到深度图像，并将所述深度图像输入预设深度图像学习模型进行检测以得到检本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种曝光调整方法，应用于图像采集设备，其特征在于，包括：/n检测所述图像采集设备的摄像头传输的图像是否处于过曝状态，并在检测结果为是时获取所述摄像头对应的曝光参数，以及获取该图像对应的深度位置信息；/n将该图像与所述深度位置信息进行映射后得到深度图像，并将所述深度图像输入预设深度图像学习模型进行检测以得到检测目标；/n将该图像与所述检测目标进行反映射得到该检测目标在该图像中的对应位置并将该对应位置作为目标位置；/n调整所述摄像头的曝光参数，并采用调整后的曝光参数对所述目标位置进行重新聚焦。/n

【技术特征摘要】
1.一种曝光调整方法，应用于图像采集设备，其特征在于，包括：
检测所述图像采集设备的摄像头传输的图像是否处于过曝状态，并在检测结果为是时获取所述摄像头对应的曝光参数，以及获取该图像对应的深度位置信息；
将该图像与所述深度位置信息进行映射后得到深度图像，并将所述深度图像输入预设深度图像学习模型进行检测以得到检测目标；
将该图像与所述检测目标进行反映射得到该检测目标在该图像中的对应位置并将该对应位置作为目标位置；
调整所述摄像头的曝光参数，并采用调整后的曝光参数对所述目标位置进行重新聚焦。


2.根据权利要求1所述曝光调整方法，其特征在于，所述摄像头的视口位置处设置有深度传感器，获取该图像对应的深度位置信息的步骤包括：
获取所述深度传感器对该图像进行图像深度检测得到的深度位置信息。


3.根据权利要求1所述曝光调整方法，其特征在于，所述预设深度图像学习模型为FasterR-CNN深度图像学习模型、R-FCN深度图像学习模型或SSD深度图像学习模型。


4.根据权利要求1所述曝光调整方法，其特征在于，所述深度位置信息中包括该深度位置信息对应图像中各像素点的位置坐标和深度值，将该图像与所述深度位置信息进行映射后得到深度图像的步骤包括：
获取该图像中每个像素点的位置坐标；
将获取的每个像素点的位置坐标与所述深度位置信息中各像素点的位置坐标和深度值进行映射得到深度图像。


5.根据权利要求1所述曝光调整方法，其特征在于，检测所述图像采集设备的摄像头传输的图像是否处于过曝状态的步骤包括：
对所述图像采集设备的摄像头传输的图像进行光强检测得到该图像对应的光强值；
判断所述光强值是否位于预设光强范围内，当所述光强值不在所述预设光强范围内时，获取在该光强值下所述摄像头对应的曝光参数。


6.一种曝光调整装置，...

【专利技术属性】
技术研发人员：熊宇龙，樊晓清，林志，
申请(专利权)人：浙江宇视科技有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33