【技术实现步骤摘要】
一种判断固态硬盘中存储数据状态的方法和装置
本专利技术涉及数据存储领域，并且更具体地，涉及一种判断固态硬盘中存储数据状态的方法和装置。
技术介绍
ECC(纠错码)纠错功能是固态硬盘最重要的功能组成之一，LDPC(低密度奇偶校验码)纠错技术可以纠正一定数量的错误比特。在存储颗粒的存储周期内，有很多因素会引起存储数据的丢失，现有的应用最多的数据恢复技术是ECC纠错技术。ECC纠错技术是通过在存储数据中增加冗余数据来实现，这些冗余数据能够实现在数据读取的时候检测数据的正确性，以及纠正错误的数据的功能。能影响存储于存储颗粒内的数据正确性的因素有：写干扰、存储时限(retention)、读干扰等，本方法只讨论retention的情况，故名思意是由于数据存放时间过长而引起的错误，这是由SSD(固态硬盘)的存储特性决定。SSD存储数据有别于磁盘，磁盘存储数据是通过磁道存储二进制信息，而SSD是通过控制存储单元内电子数量的多少从而控制电压，从而达到存储二进制信息的目的。相对于磁盘而言，SSD存储的信息具有不稳定性。随着时间的推移，存...
【技术保护点】
1.一种判断固态硬盘中存储数据状态的方法，其特征在于，包括以下步骤：/n在不同的擦写操作次数和读操作次数下执行老化操作，以获得SSD数据块中出现不可纠错误时的错误比特数阈值，并将所述擦写操作次数和读操作次数与其相对应的阈值生成对应关系表；/n上电巡检过程中读取数据块中的错误比特数与所述数据块的擦写操作次数和读操作次数，通过所述对应关系表判断所述数据块的所述错误比特数是否超过所述擦写操作次数和读操作次数对应的阈值，以确定存储数据状态。/n
【技术特征摘要】
1.一种判断固态硬盘中存储数据状态的方法，其特征在于，包括以下步骤：
在不同的擦写操作次数和读操作次数下执行老化操作，以获得SSD数据块中出现不可纠错误时的错误比特数阈值，并将所述擦写操作次数和读操作次数与其相对应的阈值生成对应关系表；
上电巡检过程中读取数据块中的错误比特数与所述数据块的擦写操作次数和读操作次数，通过所述对应关系表判断所述数据块的所述错误比特数是否超过所述擦写操作次数和读操作次数对应的阈值，以确定存储数据状态。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在不同的擦写操作次数和读操作次数下执行老化操作以获得SSD数据块中出现不可纠错误时的错误比特数阈值，并将所述擦写操作次数和读操作次数与其相对应的阈值生成对应关系表包括：
向多个存储块中写入数据，执行预定擦写操作次数和读操作次数，并在对所述多个存储块执行多个不同时长的掉电操作后上电。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在不同的擦写操作次数和读操作次数下执行老化操作以获得SSD数据块中出现不可纠错误时的错误比特数阈值，并将所述擦写操作次数和读操作次数与其相对应的阈值生成对应关系表还包括：
读取所述多个存储块中的数据，对比由于错误比特数过多而出现不可纠错误的数据块和没有出现不可纠错误的数据块，以总结出所述擦写操作次数和读操作次数下出现不可纠错误的错误比特数阈值。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在不同的擦写操作次数和读操作次数下执行老化操作以获得SSD数据块中出现不可纠错误时的错误比特数阈值，并将所述擦写操作次数和读操作次数与其相对应的阈值生成对应关系表还包括：
将所述擦写操作次数和所述读操作次数的取值均在多个范围内进行变化，并在每个范围内取值时执行老化操作，以在不同的预定擦写操作次数和读操作次数下总结出数据块出现不可纠错误的错误比特数阈值，并将所有所述擦写操作次数和读操作次数的取值范围与其相对应的阈值生成对应关系表。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：响应于所述数据块中的错误比特数超过阈值而将所述数据块中的数据转移到其他数据块中。
6.一种判断固态硬盘中存储数据状态的装置，其特...
【专利技术属性】
技术研发人员：吕玉彬，戚勇，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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