变压器绕组变形分析方法及装置、计算机装置及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种变压器绕组变形分析方法及装置、计算机装置及存储介质，属于变压器技术领域，本发明专利技术通过引入等效变化量，可准确地计算出变形绕组的相对等效洛氏系数和相对等效漏磁面积。然后在通过等效变化量计算出的变形绕组的相对等效洛氏系数和相对等效漏磁面积的基础上，可进一步提高对变形绕组变形后的相对短路电抗的计算准确度。最后再由变形绕组变形后的等效变形量和相对短路电抗，计算变形绕组的变形程度，从而可以准确和直观地反映出变形绕组变形后的相对短路电抗与变形绕组的变形程度的关系。

Transformer winding deformation analysis method and device, computer device and storage medium

【技术实现步骤摘要】
变压器绕组变形分析方法及装置、计算机装置及存储介质
本专利技术涉及变压器
，具体涉及一种变压器绕组变形分析方法及装置、计算机装置及存储介质。
技术介绍
目前，电力变压器绕组变形现场检测一般采用频率响应分析法和低电压短路阻抗法。现有的频率响应分析法由于易受到接线方式、测试仪器和变压器剩磁等因素的影响，易发生误判，在实际应用过程中，往往作为辅助判断依据。此外，目前电力行业中普遍采用绕组频响曲线的相关系数判断绕组的变形程度，然而采用绕组频响曲线的相关系数判断绕组的变形程度没有具体的物理意义，即使根据绕组频响曲线的相关系数判断绕组是否发生明显变形或严重变形，但绕组实际变形程度、绕组变形部分占绕组空间的百分比，以及绕组变形部分的尺寸变化等均不明确，因此对绕组变形的检测精确度不高，现场实用性不强。现有的低电压短路阻抗法仅规定了绕组电抗电压变化率的注意值标准，而未分析绕组电抗电压变化率与绕组变形程度之间的关系，一旦绕组变形的现场检测结果超出其规定的绕组电抗电压变化率的注意值标准，则绕组是轻微变形、显著变形，还是严重变形均不能确定，因此也同样存在对绕组变形的检测精确度不高，现场实用性不强的问题。
技术实现思路
本专利技术提供了一种变压器绕组变形分析方法及装置、计算机装置及存储介质，以解决上述
技术介绍
中存在的至少一个问题。为了实现上述目的，第一方面，本专利技术实施例提供了一种变压器绕组变形分析方法，包括：获取变形绕组变形前的平均半径和变形后的等效半径变化量，并计算变形绕组的相对电抗高度；基于变形绕组变形前的平均半径和变形后的等效半径变化量，计算变形绕组变形后的等效变形量；基于等效变形量，计算变形绕组变形后的相对等效漏磁面积和相对洛氏系数；基于变形绕组变形后的相对等效漏磁面积、相对洛氏系数和相对电抗高度计算变形绕组变形后的相对短路电抗；基于变形绕组变形后的等效变形量和相对短路电抗，计算变形绕组的变形程度。第二方面，本专利技术实施例提供了一种变压器绕组变形分析装置，包括：第一计算单元，用于获取变形绕组变形前的平均半径和变形后的等效半径变化量，并计算变形绕组的相对电抗高度；第二计算单元，用于基于变形绕组变形前的平均半径和变形后的等效半径变化量，计算变形绕组变形后的等效变形量；第三计算单元，用于基于等效变形量，计算变形绕组变形后的相对等效漏磁面积和相对洛氏系数；第四计算单元，用于基于变形绕组变形后的相对等效漏磁面积，相对洛氏系数和相对电抗高度计算变形绕组变形后的相对短路电抗；第五计算单元，用于基于变形绕组变形后的等效变形量和相对短路电抗，计算变形绕组的变形程度。第三方面，本专利技术实施例提供了一种计算机装置，计算机装置包括处理器，处理器用于执行存储器中存储的计算机程序时实现如上所述的变压器绕组变形分析方法的步骤。第四方面，本专利技术实施例提供了一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如上所述的变压器绕组变形分析方法的步骤。由上述
技术实现思路
，可以看出本专利技术具有以下有益效果：通过等效变化量可以准确和直观地反映出变形绕组变形前的平均半径和变形后的等效变化量之间的关系。由于变形绕组的相对等效洛氏系数和相对等效漏磁面积与变形绕组的平均半径有关，通过引入等效变化量，可准确地计算出变形绕组的相对等效洛氏系数和相对等效漏磁面积。进一步地，变形绕组变形后的相对短路电抗又与变形绕组的相对等效洛氏系数和相对等效漏磁面积有关，因此在通过等效变化量计算出的变形绕组的相对等效洛氏系数和相对等效漏磁面积的基础上，可进一步提高对变形绕组变形后的相对短路电抗的计算准确度。最后再由变形绕组变形后的等效变形量和相对短路电抗，计算变形绕组的变形程度，从而可以准确和直观地反映出变形绕组变形后的相对短路电抗与变形绕组的变形程度的关系。与现有技术相比，本专利技术对变形绕组的变形程度的计算更准确，现场实用性更高。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种变压器绕组变形分析方法流程示意图；图2为本专利技术实施例提供的变形绕组变形前和变形后平均半径变化示意图；图3为本专利技术实施例提供的变压器结构示意图；图4为本专利技术实施例提供的一种变压器绕组变形分析方法装置结构框图。具体实施方式为了能够更清楚地理解本专利技术的上述目的、特征和优点，下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是，所描述的实施例是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术，而非对本专利技术的限定。基于所描述的本专利技术的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。需要说明的是，在本文中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。第一方面，如图1所示，本专利技术实施例提供了一种变压器绕组变形分析方法，包括：S101、获取变形绕组变形前的平均半径和变形后的等效半径变化量，并计算变形绕组的相对电抗高度；S102、基于变形绕组变形前的平均半径和变形后的等效半径变化量，计算变形绕组变形后的等效变形量；S103、基于等效变形量，计算变形绕组变形后的相对等效漏磁面积和相对洛氏系数；S104、基于变形绕组变形后的相对等效漏磁面积、相对洛氏系数和相对电抗高度计算变形绕组变形后的相对短路电抗；S105、基于变形绕组变形后的等效变形量和相对短路电抗，计算变形绕组的变形程度。具体地，由于变形绕组变形后的平均半径发生了变化，而变形绕组的相对等效漏磁面积和相对洛氏系数均与变形绕组的平均半径相关，因此不能直接通过变形绕组变形前的平均半径计算相对等效漏磁面积和相对洛氏系数。为了准确地反映变形绕组变形前的平均半径和变形后的等效半径变化量之间的关系，可通过如下公式来表示两者的关系：其中，δ表示变形绕组变形后的等效变形量，R表示变形绕组变形前的平均半径，ΔR表示变形绕组变形后的等效半径变化量。如图2所示，可通过如下公式计算变形绕组变形后的等效半径变化量：ΔR＝R-R'(2)，其中，R'表示变形绕组变形后的平均半径。在计算出了等效变形量δ之后，即可准确地计算出变形绕组变形后的相对等效漏磁面积和相对洛氏系数。而变形绕组的相对短路电抗又与变形绕组的相对等效漏磁面积和相对洛氏系数有关，因此在准确计算出变形绕组变形后的相对等效漏磁面积和相对洛氏系数的基础上，可以进一步更准确地计算出变形绕组变形后的相对短路电抗。最后通过变形绕组变形后的等效变形量和相对短路电抗，计算出变形绕本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种变压器绕组变形分析方法，其特征在于，包括：/n获取变形绕组变形前的平均半径和变形后的等效半径变化量，并计算所述变形绕组的相对电抗高度；/n基于所述变形绕组变形前的平均半径和变形后的等效半径变化量，计算所述变形绕组变形后的等效变形量；/n基于所述等效变形量，计算所述变形绕组变形后的相对等效漏磁面积和相对洛氏系数；/n基于所述变形绕组变形后的相对等效漏磁面积、相对洛氏系数和相对电抗高度计算所述变形绕组变形后的相对短路电抗；/n基于所述变形绕组变形后的等效变形量和相对短路电抗，计算所述变形绕组的变形程度。/n

【技术特征摘要】
1.一种变压器绕组变形分析方法，其特征在于，包括：
获取变形绕组变形前的平均半径和变形后的等效半径变化量，并计算所述变形绕组的相对电抗高度；
基于所述变形绕组变形前的平均半径和变形后的等效半径变化量，计算所述变形绕组变形后的等效变形量；
基于所述等效变形量，计算所述变形绕组变形后的相对等效漏磁面积和相对洛氏系数；
基于所述变形绕组变形后的相对等效漏磁面积、相对洛氏系数和相对电抗高度计算所述变形绕组变形后的相对短路电抗；
基于所述变形绕组变形后的等效变形量和相对短路电抗，计算所述变形绕组的变形程度。


2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计算所述变形绕组的相对电抗高度具体包括：
获取所述变形绕组和特定绕组的电抗高度；
基于所述变形绕组和特定绕组的电抗高度，计算所述变形绕组相对于所述特定绕组的相对电抗高度，其中，所述特定绕组的电压高于所述变形绕组的电压。


3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述变形绕组变形后的等效变形量，计算所述变形绕组变形后的相对等效漏磁面积具体包括：
基于所述变形绕组变形后的等效变形量、所述特定绕组的平均半径和辐向宽度、所述变形绕组变形前的平均半径和辐向宽度、所述特定绕组与变形绕组间的主绝缘宽度，以及所述特定绕组与变形绕组间的主绝缘半径，计算所述变形绕组变形后相对于特定绕组的相对等效漏磁面积。


4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述变形绕组变形后的等效变形量，计算所述变形绕组变形后的相对洛氏系数具体包括：
基于所述变形绕组变形后的等效变形量、所述特定绕组的辐向宽度、所述变形绕组变形前的平均半径和辐向宽度，以及所述特定绕组与所述变形绕组间的主绝缘宽度，计算所述变形绕组变形后相对于所述特定绕组的相对洛氏系数。


5.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述变形绕组变形后的等效变形量和相对短路电抗，计算所述变形绕组的变形程度具体包括：
基于所述变形绕组变形后的等效变形量，以及所述变形绕组的最大...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭红兵，孟建英，
申请(专利权)人：内蒙古电力集团有限责任公司内蒙古电力科学研究院分公司，
类型：发明
国别省市：内蒙;15