一种集成电路测试数据融合分析方法技术

本发明专利技术公开了一种集成电路测试数据融合分析方法，第一步、首先建立相应的结果数据库，完成之后通过测试设备对待测试的集成电路进行测试，测试结果在经过对比单元进行对比后会直接通过无线收发单元传递给数据接收单元，对比单元会将测试数据分为合格和不合格两大类，然后传递给预处理单元，这时异常数据清除模块首先会对测试中的异常数据进行清除，然后通过压缩单元对测试数据进行压缩；本发明专利技术涉及集成电路技术领域。该集成电路测试数据融合分析方法，能够直接将测试的数据进行传输，然后对数据进行压缩，降低了整体内存的同时也便于数据的传输，保证了集成电路测试数据的融合性，提高了集成电路测试数据融合分析的效果。

An integrated circuit test data fusion analysis method

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试数据融合分析方法
本专利技术涉及集成电路
，具体为一种集成电路测试数据融合分析方法。
技术介绍
集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。随着现在在集成电路芯片广泛应用于电子信息系统、产品质量要求日益提高、超大规模集成电路制造工艺的不断进步，对集成电路的测试也是必不可少的一项工作，这些测试数据能够被充分地加以统计和分析，对于芯片整体的特性，以及设计、工艺、封装等方面的问题非常具有价值。但是现有的大型化生产设备，产量非常之大，如果对每一次测试都完整保存的话不太现实，占用内存太大，需要用大的存储设备进行存储，导致整体效率低，影响了使用者的使用。传统的集成电路测试数据融合分析方法，不能够直接将测试的数据进行传输，不能对数据进行压缩，增加了整体内存的同时也本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路测试数据融合分析方法，其特征在于：具体包括以下步骤：/n第一步、首先建立相应的结果数据库，完成之后通过测试设备对待测试的集成电路进行测试，测试结果在经过对比单元进行对比后会直接通过无线收发单元传递给数据接收单元，对比单元会将测试数据分为合格和不合格两大类，然后传递给预处理单元，这时异常数据清除模块首先会对测试中的异常数据进行清除，然后通过压缩单元对测试数据进行压缩；/n第二步、压缩后的数据会传递给数据融合分析系统，首先解压模块会对文件进行解压，解压之后传递给算法处理模块，算法处理模块会对大量信息进行定量分析并将有关联的信息分到同一个类别中，然后传递给融合分析模块，融合分析模块可...

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试数据融合分析方法，其特征在于：具体包括以下步骤：
第一步、首先建立相应的结果数据库，完成之后通过测试设备对待测试的集成电路进行测试，测试结果在经过对比单元进行对比后会直接通过无线收发单元传递给数据接收单元，对比单元会将测试数据分为合格和不合格两大类，然后传递给预处理单元，这时异常数据清除模块首先会对测试中的异常数据进行清除，然后通过压缩单元对测试数据进行压缩；
第二步、压缩后的数据会传递给数据融合分析系统，首先解压模块会对文件进行解压，解压之后传递给算法处理模块，算法处理模块会对大量信息进行定量分析并将有关联的信息分到同一个类别中，然后传递给融合分析模块，融合分析模块可以对多源异构信息进行验证、分析、互补、综合、估计，生成综合信息与态势预测，然后存储在结果存储模块中；
第三步、使用者可以通过登录单元和验证单元进行登录，然后进入到数据集融合分析系统，这样使用者就可以对测试的数据进行查看，且可以通过数据管理模块对存储的数据进行管理；
第四步、通过测试结果不断完善数据融合分析系统，并且数据融合分析系统根据测试数据做出一些预测和建议。


2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试数据融合分析方法，其特征在于：所述数据融合分析系统是对多台测试机自动获取的未预处理的多源异构信息进行处理、综合与分析，将获得的特征向量组合并传输到处理中心进行综合分析，通过基于神经网络、聚类算法、分类算法...

【专利技术属性】
技术研发人员：向彦瑾，
申请(专利权)人：四川豪威尔信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51