速度校正方法、物品检测方法以及装置制造方法及图纸

技术编号:23340431 阅读:70 留言:0更新日期:2020-02-15 02:58
本发明专利技术实施例提供一种速度校正方法、物品检测方法以及装置,其中,该速度校正装置在摆动的角速度变化时和/或在由于物品和预定轴相对位置变化导致的最大法向距离变化时,根据所述变化前后角速度的值或所述变化前后所述最大法向距离的值校正第一速度矢量,得到第二速度矢量。由此,能够对物品相对预定轴摆动产生的径向速度进行校正,从而可以得到任意角度放置的物品或任意摆动角速度的物品对应的径向速度。

Speed correction method, article detection method and device

【技术实现步骤摘要】
速度校正方法、物品检测方法以及装置
本专利技术涉及通信
,尤其涉及一种速度校正方法、物品检测方法以及装置。
技术介绍
近年来,公共场所的安全问题越来越受到人们的重视,如何对诸如管制器具、易燃易爆品等危险品进行检测成为重要的问题。目前,针对危险品的检测装置广泛应用于机场、火车站、地铁站、体育场等各种人员密集场合。危险品检测装置可以分为两个类型:接触式和非接触式。接触式检测装置需要将可疑物品(例如装有液体的瓶子)放置在检测装置上进行检测,而非接触式检测装置能够在可疑物移动到距离检测装置一定范围内即启动检测并分辨可疑物是否属于危险品。应该注意,上面对技术背景的介绍只是为了方便对本专利技术的技术方案进行清楚、完整的说明,并方便本领域技术人员的理解而阐述的。不能仅仅因为这些方案在本专利技术的
技术介绍
部分进行了阐述而认为上述技术方案为本领域技术人员所公知。
技术实现思路
目前针对非接触式检测装置,常见的检测方法之一是X射线探测方法,但是该方法成本通常较高,长期使用将会对工作人员的身体健康造成影响;另外,由于不同物品本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种速度校正装置,其中,物品相对预定轴摆动,产生沿径向方向的第一速度矢量;所述装置包括:/n校正单元,其用于根据第一变化前后角速度的值或第二变化前后最大法向距离的值校正所述第一速度矢量,得到第二速度矢量;其中,所述第一变化是摆动的角速度变化,所述第二变化是由于物品和预定轴相对位置变化导致的所述物品至所述预定轴的最大法向距离变化。/n

【技术特征摘要】
1.一种速度校正装置,其中,物品相对预定轴摆动,产生沿径向方向的第一速度矢量;所述装置包括:
校正单元,其用于根据第一变化前后角速度的值或第二变化前后最大法向距离的值校正所述第一速度矢量,得到第二速度矢量;其中,所述第一变化是摆动的角速度变化,所述第二变化是由于物品和预定轴相对位置变化导致的所述物品至所述预定轴的最大法向距离变化。


2.根据权利要求1所述的装置,其中,所述校正单元包括:
第一计算单元,其用于计算所述第一变化后的角速度和所述第一变化前的角速度的第一比值;所述第二速度矢量的大小等于所述第一比值与所述第一速度矢量的大小的乘积。


3.根据权利要求1所述的装置,其中,所述物品和预定轴相对位置变化包括所述物品在所述物品所在的平面上相对所述轴偏转,所述校正单元包括:
第二计算单元,其用于在所述第二变化是由于所述物品在所述物品所在的平面上相对所述轴偏转导致的最大法向距离变化时,根据所述偏转的角度以及所述第一速度矢量的大小计算所述第二速度矢量的大小。


4.根据权利要求3所述的装置,其中,所述第二计算单元包括:
第一计算模块,其用于根据所述偏转的角度计算所述第二变化后的最大法向距离;
第二计算模块,其用于计算所述第二变化后的最大法向距离与所述第二变化前的最大法向距离的第二比值,将所述第二比值与所述第一速度矢量的大小的乘积作为所述第二速度矢量。


5.根据权利要求1所述的装置,其中,所述物品和预定轴相对位置变化包括物品在所述物品所在的平面上相对所述轴平移,所述校正单元包括:
第三计算单元,其用于根据所述第一速度矢量和与所述第一速度矢量对应的角速度计算所述第二变化前的最大法向距离;
大小计算单元,其用于根据所述物品在所述物品所在的平面上相对所述轴平移的距离,所述第二变化前的最大法向距离以及所述第一速度矢量的大小计算所述第二速度矢量的大小;以及
方向确定单元,其用于根据所述平移的距离和所述平移的方向以及所述第一速度矢量的方向确定所述第二速度矢量的方向。


6.根据权利要求5所述的装置,其中,在物品在所述物品所在的平面上相对所述轴平移后,在所述物品上的最大法向距离的位置由所述轴的一侧改变至另一侧时,所述方向确定单元确定所述位置的第二速度矢量的方向与所述位置的所述第一速度矢量的方向相反。


7.根据权利要求4所述的装置,其中,所述第一计算模块根据如下公式计算所述第二变化后的最大法向距离L:



其中,α等于所述偏转的角度,x等于所述第二变化前的最大法向距离,y等于所述第二变化前所述物品上对应所述最大法向距离的位置至横轴的距离,所述横轴与所述预定轴垂直,且经过所述物品的质心或重心。


8.一种物品检测装置,其中,所述装置包括:
获取单元,其用于预先获得包含至少两个第二特征集的训练集;
收发单元,其向待检测物品发送发射信号,并且接收所述待检测物品反射后的反射信号;其...

【专利技术属性】
技术研发人员:张兆宇底欣徐怡田军
申请(专利权)人:富士通株式会社
类型:发明
国别省市:日本;JP

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