用于确定气溶胶中的颗粒质量浓度的颗粒测量装置和方法制造方法及图纸

一种用于确定气溶胶中的颗粒质量浓度的颗粒测量装置(1)具有构造为激光二极管(2)的辐射源(2)；以及测量接收部分(7)，借助该测量接收部分可接收从该激光二极管(2)辐射通过气溶胶的光并可将其转换成测量值。为了在较长的时间段内产生可靠且正确的颗粒测量值信号，提议用比测量接收部分(7)的极限频率大得多的频率来调制激光二极管(2)的辐射功率，使得在测量接收部分(7)的测量信号的历时内平均而言得到激光二极管(2)的可预先给定的辐射功率。

Particle measurement devices and methods for determining the mass concentration of particles in aerosols

【技术实现步骤摘要】
用于确定气溶胶中的颗粒质量浓度的颗粒测量装置和方法
本专利技术涉及一种用于确定气溶胶中的颗粒质量浓度的颗粒测量装置，其具有构造为激光二极管的辐射源，以及测量接收部分，借助该测量接收部分可接收从该激光二极管辐射通过气溶胶的光并可将其转换成测量值；以及本专利技术还涉及一种用于确定气溶胶中的颗粒质量浓度的方法，其中借助激光二极管，光被辐射通过气溶胶并且在测量接收部分中被接收并被转换成测量值。
技术介绍
这种颗粒测量装置中的激光二极管不是理想的构件。它们发出的辐射功率随工作温度以及寿命而变化。因此，用于这种目的的大多数激光二极管设有光电二极管，该光电二极管由从激光二极管发出的辐射的一小部分照射。相应地，在光电二极管中产生的电流与从相关的激光二极管发出的功率成线性比例。随后可以通过测量相当于从激光二极管发出的辐射的光电二极管电流并由此计算应用于颗粒测量值信号的校正因数来补偿该激光二极管的辐射功率的变化。替换地，可以主动地调节激光二极管的工作电流，使得从激光二极管发出的辐射呈现理论值。从激光二极管发出的辐射在恰好定义的光电二极管电流处具有其本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于确定气溶胶中的颗粒质量浓度的颗粒测量装置(1、10)，所述颗粒测量装置具有构造为激光二极管(2、11)的辐射源(2、11)；以及测量接收部分(7、16)，借助所述测量接收部分能接收从所述激光二极管(2、11)辐射通过气溶胶的光并能将所述光转换成测量值，其特征在于，所述激光二极管(2、11)的辐射功率用比所述测量接收部分(7、16)的极限频率大得多的频率来调制，使得在所述测量接收部分(7、16)的测量信号的历时内平均而言得到所述激光二极管(2、11)的可预先给定的辐射功率。/n

【技术特征摘要】
20180803 DE 102018006137.01.一种用于确定气溶胶中的颗粒质量浓度的颗粒测量装置(1、10)，所述颗粒测量装置具有构造为激光二极管(2、11)的辐射源(2、11)；以及测量接收部分(7、16)，借助所述测量接收部分能接收从所述激光二极管(2、11)辐射通过气溶胶的光并能将所述光转换成测量值，其特征在于，所述激光二极管(2、11)的辐射功率用比所述测量接收部分(7、16)的极限频率大得多的频率来调制，使得在所述测量接收部分(7、16)的测量信号的历时内平均而言得到所述激光二极管(2、11)的可预先给定的辐射功率。


2.根据权利要求1所述的颗粒测量装置(1、10)，其特征在于，所述激光二极管(2、11)的工作电流能被调制以用于调制所述激光二极管(2、11)的辐射功率。


3.根据权利要求1或2所述的颗粒测量装置(1、10)，其特征在于，所述辐射功率的调制的调制深度被如此选择，使得在借助所述测量接收部分(7、16)产生单个颗粒测量值信号期间能经历高数目的运行模式。


4.根据权利要求1至3之一所述的颗...

【专利技术属性】
技术研发人员：R·孟克莫勒，
申请(专利权)人：帕拉贡有限股份两合公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE