【技术实现步骤摘要】
一种基于偏振分光的反射望远镜光轴监测的光校装置
本专利技术属于光学测试与光学装调领域，涉及一种基于偏振分光的反射望远镜光轴监测的光校装置，特别适用于反射式望远镜系统光校过程中，反射式望远镜系统光轴与标准大口径平面镜法线的配准与实时监测。还适用于大口径非球面反射镜加工，激光发射与接收配准等领域。
技术介绍
激光雷达，激光测高仪等反射式空间光学相机载荷，对于光学载荷中的反射式望远镜系统的光轴指向要求越来越高，这必然要求反射式望远镜系统在光校过程中，对于光轴指向的测试，配准精度要求越来越高。在光学装配过程中，最为重要的是将被光校空间反射式望远镜系统的光轴与辅助大口径标准平面镜法线进行共线配准。传统方案主要有两种：第一种，在望远镜主镜加工过程中，控制较严的主镜光轴与主镜背面的垂直度，在光校反射式望远镜系统时，将主镜背面法线与辅助大口径平面镜法线调共线，作为光轴配准，此种方法依赖与加工，精度较低，很难给出准确光轴指向。第二种，利用经纬仪对准望远镜系统的光轴，然后旋转经纬仪180°，调节辅助大口径标准平面镜，使之法线与经纬仪光轴重合，这...
【技术保护点】
1.一种基于偏振分光的反射望远镜光轴监测的光校装置，包括光纤光源(1)，准直透镜(2)，分光棱镜(3)，偏振分光棱镜(4)，一号平行平板(5)，四分之一波片(6)，角锥棱镜(7)，二号平行平板(8)，汇聚透镜(9)，探测器(10)，其特征在于：/n所述的光纤光源(1)的光纤出射点位于准直透镜(2)的焦面上，由准直透镜(2)准直的平行光经过分光棱镜(3)到达偏振分光棱镜(4)，被分为线偏振P光和S光两束测试光：/n第一束测试光是透射偏振分光棱镜(4)产生的线偏振P光，经过四分之一波片(6)，变为圆偏振光，再经过角锥棱镜(7)后原路返回，第二次经过四分之一波片(6)，变为线偏振...
【技术特征摘要】
1.一种基于偏振分光的反射望远镜光轴监测的光校装置，包括光纤光源(1)，准直透镜(2)，分光棱镜(3)，偏振分光棱镜(4)，一号平行平板(5)，四分之一波片(6)，角锥棱镜(7)，二号平行平板(8)，汇聚透镜(9)，探测器(10)，其特征在于：
所述的光纤光源(1)的光纤出射点位于准直透镜(2)的焦面上，由准直透镜(2)准直的平行光经过分光棱镜(3)到达偏振分光棱镜(4)，被分为线偏振P光和S光两束测试光：
第一束测试光是透射偏振分光棱镜(4)产生的线偏振P光，经过四分之一波片(6)，变为圆偏振光，再经过角锥棱镜(7)后原路返回，第二次经过四分之一波片(6)，变为线偏振S光，到达偏振分光棱镜(4)中45°的分光面，线偏振S光呈与原光轴90°夹角方向出射，透射经过二号平行平板(8),到达光校望远镜系统的光轴基准棱镜上，整体调节本光校装置的方位，使得光束的方向与被光校望远镜系统的基准棱镜法线共线，原路返回，经过偏振分光棱镜(4)反射，第三次经过四分之一波片(6)，变为圆偏振光，再经过角锥棱镜(7)后原路返回，第四次经过四分之一波片(6)，变为线偏振P光，透射经过偏振分光棱镜(4)，经过分光棱镜(3)反射到达汇聚透镜(9)，成像到探测器(10)上，记录探测器上光斑质心(x1,y1)；
第二束测试光是偏振分光棱镜PBS(4)中45°的分光面反射产生的线偏振S光，线偏振S光呈与原光轴90°夹角方向出射，透射经过一号平行平板(5)，到达辅助光校的大口径标准平面镜上，调节辅助光校的大口径标准平面镜，使之法线与光束方向共线，原路返回，经过偏振分光棱镜(4)反射，经过分光棱镜(3)反射到达汇聚透镜(9)，成像到探测器(10)上,记录探测器上光斑质心(x2,y2)；
另外，第一束测试光在入射到...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘强，王欣，黄庚华，何志平，舒嵘，
申请(专利权)人：中国科学院上海技术物理研究所，
类型：发明
国别省市：上海;31
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