半透过型防伪膜制造技术

半透过型防伪膜包括：基底、位于所述基底上且具有用于形成真伪判定用图像的衍射图案的衍射性光学元件层及沿着所述衍射图案的轮廓形成于所述衍射性光学元件层且能够使入射的入射光部分反射及部分透过的透光度调节薄膜。因此，半透过型防伪膜可通过使入射光反射及透过以在膜两侧形成衍射图像。本发明专利技术的半透过型防伪膜能够轻易地呈现复杂的图像，能够不规则地呈现具有随机形状或大小的衍射图案。并且，能够利用具有多种波长及相位的光轻易地呈现具有多种颜色的图像。

Semi permeable anti counterfeiting film

【技术实现步骤摘要】
半透过型防伪膜
本专利技术涉及半透过型防伪膜。更具体来讲涉及能够利用真伪判定用图案呈现真伪判定用图像的半透过型防伪膜。
技术介绍
软件、CD、DVD、有价证券、洋酒、药品等贵重物品的伪造行为已成为非常大的社会问题。伪造生产的物品大部分都品质低，因此相应企业会因这种伪造行为而遭受重大损失，比如失去付出大量努力积累的信誉等。为了解决这种伪造问题，很多企业在产品上采用难以被伪造的技术或判定正品及伪造品的技术等，致力于防止伪造品的流通。为防止伪造而赋予产品的最为典型的是全息图(hologram)。为了设计全息图，通过利用分束器向对象物照射的物体光及基准光，利用从所述对象物反射的物体光及所述基准光之间的干涉现象设计全息图。所述全息图是记录有重现立体像的干涉条纹的介质，利用全息摄影原理制成。因此，所述全息图可通过以特定角度向干涉纹照射具有与基准光相同的振动频率、波长及相位的重现光呈现特定图像。并且，反射的光的颜色或形态可随视角而异。然而，通过全息图所能记录的信息是有限的，因此具有难以制造精致全息图的问题。并且，具有所述重现光必须具有与基准光相同的相位、波长及振动频率的局限性。随着全息图开始被数码扫描仪之类的全息图复制设备复制，容易复制的问题加剧。并且，由于构成所述全息图的全息图图案具有预定的形状而有规则性。因此，近来出现了通过纳米压印方法在防伪膜上记录信息的技术。纳米压印方法是利用具有纳米图案的模具在防伪膜上形成衍射图案的方法，由于费用低且能够记录大量信息，因此近来被广泛使用。通常，防伪膜使向直行方向照射并透过内部的激光向预定方向衍射。因此，通过向直行方向照射到防伪膜的激光透过防伪膜后被衍射图案衍射的光呈现防伪图案。但所述透过型防伪膜具有难以适用于包括三维物体在内的多种形状的产品的问题。并且，透过型防伪膜本身必须整体确保透光性，因此构成所述透过型防伪膜的材料方面具有局限性。
技术实现思路
技术问题为此，本专利技术的目的是提供克服了透过型防伪膜的透光性限制的半透过型防伪膜。技术方案为达成上述目的，本专利技术的一个实施例的半透过型防伪膜包括：基底、位于所述基底上且具有用于呈现真伪判定用图像的衍射图案的衍射性光学元件层及沿着所述衍射图案的轮廓形成于所述衍射性光学元件层且能够使入射的入射光部分反射及部分透过的透光度调节薄膜。根据本专利技术的一个实施例，所述透光度调节薄膜对具有可视光线区域的波长的光具有40至60％范围内的透光度，能够向所述基底的上部及下部呈现真伪判定用图像。根据本专利技术的一个实施例，所述透光度调节薄膜可含有选自由金、银及铝构成的反光性金属群的至少一种。根据本专利技术的一个实施例，所述基底的上部或下部还可以包括存储信息的至少一个信息图案部。其中，所述透光度调节薄膜可具有被调节成对波长为500至600nm的入射光具有最大透过度的厚度。其中，所述信息图案部可包括位于所述基底的下面且含有QR信息的QR图案层。另外，所述透光度调节薄膜可具有被调节成对波长为500至600nm的入射光具有不足50％的透过度的厚度。该情况下，所述信息图案部可包括位于所述透光度调节薄膜上且将波长为500至600nm的入射光用作重现光的全息图图案层。并且还可以包括介于所述透光度调节薄膜及所述全息图图案层之间且相互粘贴所述透光度调节薄膜及所述全息图图案层的透明粘贴层。另外，所述透光度调节薄膜对具有可视光线区域的波长的光具有40至60％范围内的透光度，所述信息图案部可包括形成于所述基底的上部的全息图图案层及形成于所述基底的下部的QR图案层。根据本专利技术的一个实施例，还可以包括位于所述透光度调节薄膜的上部的平坦化层；以及介于所述透光度调节薄膜及所述平坦化层之间且相互粘贴所述平坦化层及所述透光度调节薄膜的粘贴层。技术效果本专利技术的实施例的半透过型防伪膜具有能够代替全息图的衍射性光学元件，因此能够呈现纳米尺寸的微型图案。从而能够轻易地呈现复杂的图像，能够不规则地呈现具有随机形状或大小的衍射图案。并且，能够利用具有多种波长及相位的光轻易地呈现具有多种颜色的图像。另外，不同于现有的透过型防伪膜，能够向基底的上面及下面呈现伪造判定用图像。因此，能够与对象体的透光性的程度无关地轻易判定对象体的真伪。并且，由于还具有另外的全息图图案层或QR图案层，因此能够更准确地判定伪造，或者能够存储用于追踪及管理产品的附加信息。另外，由于还具有平坦化层及粘贴层，因此半透过型防伪膜的厚度可随着粘贴层的厚度变化得到有效调节。附图说明图1是说明本专利技术的一个实施例的半透过型防伪膜的剖面图；图2是图示对应于图1的透光度调节薄膜的厚度的透光度的曲线图；图3是说明本专利技术的另一实施例的半透过型防伪膜的剖面图；图4是说明本专利技术的又一实施例的半透过型防伪膜的剖面图；图5是说明本专利技术的又一实施例的半透过型防伪膜的剖面图；图6是说明本专利技术的实施例的半透过型防伪膜的制造方法的流程图；图7a是作为比较例拍摄全息图的照片；图7b是拍摄本专利技术的具有衍射性光学元件的半透过型防伪膜的照片；图8是用于说明透过了包含于透过型防伪膜的衍射图案的光的相位差的剖面图；图9是用于说明透过了包含于反射型防伪膜的衍射图案的光的相位差的剖面图。附图标记说明100：半透过型防伪膜110：基底130：衍射性光学元件层150：透光度调节薄膜170：粘贴层190：平坦化层具体实施方式以下参照附图对本专利技术的实施例进行详细的说明。本专利技术可进行多种变形，可具有多种形态，在附图中示出特定实施例并在说明书中进行详细的说明。但其目的并不是将本专利技术限定于特定的公开形态，因此应理解为包括属于本专利技术的思想及技术范围的所有变更、等同物及替代物。在附图中，对象物的大小及量是为了本专利技术的明确性而比实际放大或缩小示出的。第一、第二等用语可用于说明多种构成要素，但所述构成要素不得受限于所述用语。使用所述用语的目的在于将一个构成要素区分于其他构成要素。例如，在不脱离本专利技术的权利范围的前提下，可以将第一构成要素命名为第二构成要素，也可以类似地将第二构成要素命名为第一构成要素。在本申请使用的用语只是用于说明特定实施例，目的并不是对本专利技术进行限定。单数的表现形式在文中无其他明确说明的情况下还包括复数的表现形式。应该将本申请中的“包括”或“具有”等用语理解为存在说明书上记载的特征、步骤、功能、构成要素或其组合，不应理解为预先排除其他特征、步骤、功能、构成要素或其组合。若无另行定义，包括技术或科学用语在内的所有用语均表示与本
普通技术人员通常理解相同的意思。通常使用的词典中定义过的用语应解释为与相关技术的文章脉络相一致的意思，本申请没有明确定义的情况下不得解释为理想或过度形式性的意思。图1是说明本专利技术的一个实施例的半透过型防伪膜的剖面图。参照图1，本发本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半透过型防伪膜，其特征在于，包括：/n基底；/n衍射性光学元件层，其位于所述基底上且具有用于形成真伪判定用图像的衍射图案；以及/n透光度调节薄膜，其沿着所述衍射图案的轮廓形成于所述衍射性光学元件层上，能够使入射的入射光部分反射及部分透过。/n

【技术特征摘要】
20180803 KR 10-2018-00908801.一种半透过型防伪膜，其特征在于，包括：
基底；
衍射性光学元件层，其位于所述基底上且具有用于形成真伪判定用图像的衍射图案；以及
透光度调节薄膜，其沿着所述衍射图案的轮廓形成于所述衍射性光学元件层上，能够使入射的入射光部分反射及部分透过。


2.根据权利要求1所述的半透过型防伪膜，其特征在于：
所述透光度调节薄膜对具有可视光线区域的波长的光具有40至60％范围内的透光度，能够向所述基底的上部及下部形成真伪判定用图像。


3.根据权利要求1所述的半透过型防伪膜，其特征在于：
所述透光度调节薄膜含有选自由金、银及铝构成的反光性金属群的至少一种。


4.根据权利要求1所述的半透过型防伪膜，其特征在于：
所述基底的上部或下部还包括存储信息的至少一个信息图案部。


5.根据权利要求4所述的半透过型防伪膜，其特征在于：
所述透光度调节薄膜具有被调节成对波长为500至600nm的入射光具有最大透过度的厚度。


6.根据权利要求5所述的半透过型防伪膜，其特征在于：
所述信...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔眞荣，李容准，朴范圭，
申请(专利权)人：纳米麦加株式会社，
类型：发明
国别省市：韩国;KR