多个取向的成像传感器的对准系统技术方案

用于坐标测量机器的成像传感器的对准系统包括与测量机器的工作台相关联的参考表面，但是代替将参考表面成像为位置标记，参考表面与成像传感器一起被结合到组合成像系统中以用于对与成像传感器相关联的特征进行成像。成像的特征可以是成像传感器的内部的部分（例如内部孔径）或者与成像传感器具有固定关系的外部特征（例如镜头罩）。

Alignment system of multi orientation imaging sensor

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】多个取向的成像传感器的对准系统
本专利技术涉及坐标测量机器，并且尤其涉及使用多个传感器收集来自测试对象的测量数据的此类机器，所述多个传感器包括通过对测试对象进行成像来收集数据的传感器。
技术介绍
具有用于测量测试对象的多个传感器的坐标测量机器通常参考在公共坐标系或参考系内由不同传感器收集的数据以便收集关于测试对象的相关数据。这样，确定了传感器的相对位置和取向。在成像传感器的情况下，确定关于放大率，焦平面，坐标位置，相机像素的旋转取向以及相应传感器的光轴的信息。一种方法是使用各种传感器从多个取向收集参考制品（artifact）（例如参考球）的测量结果，同时监视传感器沿着或围绕机器的坐标测量轴的相对运动。例如，参考球的中心可以被定义为坐标参考系内的中心或其他给定位置。当每个不同的测量传感器收集到足够的信息以确定参考球的中心时，从每个传感器测得的中心位置可以彼此等同。成像传感器通常通过识别从制品收集的图像内的图像对比度边界来测量测试对象和其他制品的特征。不同类型的照明会产生不同类型的图像对比度。例如，可以通过照亮球体而与较暗的背景形成本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种在坐标测量机器的参考系内对准成像传感器的方法，包括以下步骤：/n照亮与成像传感器具有经定义的关系的基准标记；/n相对于与坐标测量机器的测试对象安装台具有经定义的关系的凸反射参考表面相对地移动成像传感器，使得由凸反射参考表面反射的基准标记的图像位于成像传感器的成像视场内；/n相对于凸反射参考表面进一步相对地移动成像传感器，以便在成像传感器的成像视场的一部分上平移基准标记的图像；以及/n将基准标记在成像传感器的成像视场上的位移与以下各项中的至少一项相关联：（a）成像传感器连同凸反射参考表面对基准标记的放大率，以及（b）坐标测量机器的参考系中的成像传感器的取向。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180402 US 62/6513471.一种在坐标测量机器的参考系内对准成像传感器的方法，包括以下步骤：
照亮与成像传感器具有经定义的关系的基准标记；
相对于与坐标测量机器的测试对象安装台具有经定义的关系的凸反射参考表面相对地移动成像传感器，使得由凸反射参考表面反射的基准标记的图像位于成像传感器的成像视场内；
相对于凸反射参考表面进一步相对地移动成像传感器，以便在成像传感器的成像视场的一部分上平移基准标记的图像；以及
将基准标记在成像传感器的成像视场上的位移与以下各项中的至少一项相关联：（a）成像传感器连同凸反射参考表面对基准标记的放大率，以及（b）坐标测量机器的参考系中的成像传感器的取向。


2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述基准标记位于所述成像传感器的成像光学器件之间，并且所述照亮步骤包括沿着穿过所述成像光学器件的路径传送光，以照亮所述基准标记。


3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述基准标记是所述成像传感器的孔径光阑。


4.根据权利要求1所述的方法，其中，照亮所述基准标记的步骤包括利用通过成像光学器件的光路外部的外部光源来照亮所述基准标记。


5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述基准标记被布置为利用所述成像传感器进行刚体运动。


6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述基准标记是由所述成像传感器携带的镜头罩。


7.根据权利要求1所述的方法，其中，照亮基准标记的步骤包括使来自所述基准标记的边缘的光衍射。


8....

【专利技术属性】
技术研发人员：EG格斯纳，
申请(专利权)人：优质视觉技术国际公司，
类型：发明
国别省市：美国;US