一种基于干涉方式的激光波长测量装置与方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种基于干涉方式的激光波长测量装置与方法，包括：待测激光源，用于发射待测激光束；分光镜，用于接收待测激光束，并将待测激光束透射至楔形反光镜，以及反射至透镜；楔形反光镜，用于将分光镜透射的待测激光束反射至透镜；透镜，用于接收分光镜和楔形反光镜反射的待测激光束，并将待测激光束透射至光电探测器；光电探测器，用于接收透镜透射的待测激光束；处理器，与光电探测器电连接，用于检测光电探测器上产生的干涉现象。本发明专利技术中测量装置所使用的光学器件简单，无需标准波长激光源参与测量，大大降低了测量装置的复杂度，并且也提高了装置对待测激光波长的测量精度。

A laser wavelength measurement device and method based on interference mode

【技术实现步骤摘要】
一种基于干涉方式的激光波长测量装置与方法
本专利技术涉及激光波长测量
，特别涉及一种基于干涉方式的激光波长测量装置与方法。
技术介绍
激光波长的精确测量对于光学精密测量领域至关重要，以激光干涉仪为例，其测量精度与激光波长的精度直接相关，如何提高激光波长的测量精度，降低激光波长测量装置的复杂度与成本，成了相关领域的重要研究内容。
技术实现思路
本专利技术的目的在于改善现有技术中所存在的不足，提供一种基于干涉方式的激光波长测量装置与方法。为了实现上述专利技术目的，本专利技术实施例提供了以下技术方案：一种基于干涉方式的激光波长测量装置，包括：待测激光源，用于发射待测激光束；分光镜，用于接收待测激光束，并将待测激光束透射至楔形反光镜，以及反射至透镜；楔形反光镜，用于将分光镜透射的待测激光束反射至透镜；透镜，用于接收分光镜和楔形反光镜反射的待测激光束，并将待测激光束透射至光电探测器；光电探测器，用于接收透镜透射的待测激光束；处理器，与光电探测器电连接，用于检测光电探本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于干涉方式的激光波长测量装置，其特征在于：包括：/n待测激光源，用于发射待测激光束；/n分光镜，用于接收待测激光束，并将待测激光束透射至楔形反光镜，以及反射至透镜；/n楔形反光镜，用于将分光镜透射的待测激光束反射至透镜；/n透镜，用于接收分光镜和楔形反光镜反射的待测激光束，并将待测激光束透射至光电探测器；/n光电探测器，用于接收透镜透射的待测激光束；/n处理器，与光电探测器电连接，用于检测光电探测器上产生的干涉现象。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于干涉方式的激光波长测量装置，其特征在于：包括：
待测激光源，用于发射待测激光束；
分光镜，用于接收待测激光束，并将待测激光束透射至楔形反光镜，以及反射至透镜；
楔形反光镜，用于将分光镜透射的待测激光束反射至透镜；
透镜，用于接收分光镜和楔形反光镜反射的待测激光束，并将待测激光束透射至光电探测器；
光电探测器，用于接收透镜透射的待测激光束；
处理器，与光电探测器电连接，用于检测光电探测器上产生的干涉现象。


2.根据权利要求1所述的一种基于干涉方式的激光波长测量装置，其特征在于：所述楔形反光镜连接有精密位移装置，用于带动楔形反光镜在其水平方向上移动。


3.根据权利要求1所述的一种基于干涉方式的激光波长测量装置，其特征在于：所述精密位移装置为无导轨的压电陶瓷电机。


4.根据权利要求3所述的一种基于干涉方式的激光波长测量装置，其特征在于：所述楔形反光镜包括反光面，所述分光镜与楔形反光镜的反光面平行设置。


5.根据权利要求1-4任一项所述的一种基于干涉方式的激光波长测量装置，其特征在于：所述透镜为凸透镜。


6.根据权利要求5所述的一种基于干涉方式的激光波长测量装置，其特征在于：所述光电探测器设置于凸透镜的焦点处。


7.根据权利要求1所述的一种基...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵虎，毛建东，周春艳，张白，
申请(专利权)人：北方民族大学，
类型：发明
国别省市：宁夏;64