多仓位多温段大气采样装置制造方法及图纸

技术编号:23308496 阅读:55 留言:0更新日期:2020-02-11 16:12
本实用新型专利技术公开了一种多仓位多温段大气采样装置,其吸收瓶模组包括吸收瓶支架、温度控制装置及吸收瓶,所述吸收瓶支架包括主体结构及在所述主体结构上开设的若干吸收瓶存储仓,所述吸收瓶存储仓内盛装所述吸收瓶,所述吸收瓶存储仓侧壁设有保温结构层,且底部为导热结构层,所述温度控制装置设于所述吸收瓶存储仓的底部,所述温度控制装置包括温度控制板及若干半导体制冷片,所述温度控制板设有若干通槽,所述半导体制冷片固定于所述通槽内,所述半导体制冷片的一面对所述吸收瓶存储仓内进行加热或制冷,另一面紧贴所述吸收瓶存储仓的底部。本实用新型专利技术是一种具有多个仓位、能够同时让吸收液处于不同温度下进行采样的大气采样装置。

Multi bin and multi temperature atmospheric sampling device

【技术实现步骤摘要】
多仓位多温段大气采样装置
本技术涉及大气采样领域,尤其涉及一种具有多个仓位、能够同时让吸收液处于不同温度下进行采样的大气采样装置。
技术介绍
大气采样是采集大气中污染物样品或受污染空气样品的过程。现场采样方法有两类:一类是使大量空气通过液体吸收剂或固体吸附剂,将大气中浓度较低的污染物富集起来,如抽气法、滤膜法。另一类是用容器(玻璃瓶、塑料袋等)采集含有污染物的空气。前者测得的是采样时间内大气中污染物的平均浓度;后者测得的是瞬时浓度或短时间内的平均浓度。采样的方式应根据采样的目的和现场情况而定。所采样品应有代表性。采样效率要高,操作务求简便,并便于进行随后的分析测定,以获得可靠的大气污染的基本数据。采集大气中污染物的样品或受污染空气的样品,以期获得大气污染的基本数据。大气采样是大气环境监测的重要步骤,对于监测数据的可靠性关系极大。采集大气样品的方法,主要有两类:一类是使大量空气通过液体吸收剂或固体吸附剂,以吸收或阻留污染物,把原来大气中浓度较低的污染物富集起来,如抽气法、滤膜法。用这类方法测得的结果是采样时间内大气中污染物的平均浓度。另一本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多仓位多温段大气采样装置,其特征在于,包括:/n采样内箱,所述采样内箱包括可密封安装的箱体及上盖,且所述箱体及上盖均通过保温材料制成;/n吸收瓶模组,包括吸收瓶支架、温度控制装置及吸收瓶,所述吸收瓶支架包括主体结构及在所述主体结构上开设的若干吸收瓶存储仓,所述吸收瓶存储仓内盛装所述吸收瓶,所述吸收瓶存储仓侧壁设有保温结构层,且底部为导热结构层,所述温度控制装置设于所述吸收瓶存储仓的底部,所述温度控制装置包括温度控制板及若干半导体制冷片,所述温度控制板设有若干通槽,所述半导体制冷片固定于所述通槽内,所述半导体制冷片的一面对所述吸收瓶存储仓内进行加热或制冷,另一面紧贴所述吸收瓶存储仓的底部...

【技术特征摘要】
1.一种多仓位多温段大气采样装置,其特征在于,包括:
采样内箱,所述采样内箱包括可密封安装的箱体及上盖,且所述箱体及上盖均通过保温材料制成;
吸收瓶模组,包括吸收瓶支架、温度控制装置及吸收瓶,所述吸收瓶支架包括主体结构及在所述主体结构上开设的若干吸收瓶存储仓,所述吸收瓶存储仓内盛装所述吸收瓶,所述吸收瓶存储仓侧壁设有保温结构层,且底部为导热结构层,所述温度控制装置设于所述吸收瓶存储仓的底部,所述温度控制装置包括温度控制板及若干半导体制冷片,所述温度控制板设有若干通槽,所述半导体制冷片固定于所述通槽内,所述半导体制冷片的一面对所述吸收瓶存储仓内进行加热或制冷,另一面紧贴所述吸收瓶存储仓的底部;
控制系统,所述控制系统包括控制器、温度传感器,所述温度传感器的探针为设于所述吸收瓶存储仓内,所述控制器根据所述温度传感器检测到的所述吸收瓶存储仓内的温度进而控制所述半导体制冷片加热或制冷。


2.如权利要求1所述的多仓位多温段大气采样装置,其特征在于,在同一个所述吸收瓶存储仓内,所述温度控制板上的所有的所述半导体制冷片的冷面朝向所述吸收瓶存储仓内部,热面紧贴所述吸收瓶存储仓的底部。


3.如权利要求2所述的多仓位多温段大气采样装置,其特征在于,在同一个所述吸收瓶存储仓内,所述温度控制板上的所有的所述半导体制冷片的热面朝向所述吸收瓶存储仓内部,冷面紧贴所述吸收瓶存储仓的底部。


4.如权利要求1所述的多仓位多温段大气采样装置,其特征在于,在同一个所述吸收瓶存储仓内,所述温度控制板上的部分的所述半导体制冷片的冷...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈益思白洪海董宁
申请(专利权)人:华测检测认证集团股份有限公司
类型:新型
国别省市:广东;44

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