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一种氟化碲化锗二维材料的制备方法技术

技术编号:23307210 阅读:34 留言:0更新日期:2020-02-11 15:54
本发明专利技术公开一种氟化碲化锗二维材料的制备方法,将Ge粉和Te粒封装于石英管中,在真空管式炉中程序控温,退火得到前驱体GeTe晶体,依次用甲苯、乙醇冲洗多次除杂,干燥后于管式炉中暴露在F

A preparation method of two-dimensional germanium telluride fluoride material

【技术实现步骤摘要】
一种氟化碲化锗二维材料的制备方法
本专利技术属于新型二维材料制备领域,更加具体地说,具体涉及二维材料GeTe的氟化得到GeTe-F的方法。
技术介绍
二维材料具有超高载流子迁移率、具有狄拉克锥的线性色散关系等优势而在光学、电学和催化等领域具有非常广阔的应用前景,受到了广大研究人员的青睐。继石墨烯问世之后,具有类石墨烯结构的二维Ⅳ族金属硫属化合物-GIVMCs(金属主要包括Si、Ge、Sn,硫属主要包括O、S、Se、Te),基于其优异的电学、光学性能,同样受到科研人员的广泛关注。如目前基于SnS2制备的FET器件的载流子迁移率达到230cm2·V-1·s-1,开关比更是达到106。2018年初,Zhang等人首次实验剥离得到层状GeTe材料,单层的GeTe更是具有1.93eV的光学带隙,而随后Qiao等人对GeTe的理论计算,单层具有2.35eV带隙也相对与实验吻合。但单层的GeTe剥离困难,因此对于此类新型二维材料,需要从掺杂、异质结制备、构建器件等方面对其光学、电学性能展开研究。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种氟化碲化锗二维材料的制备方法,其特征在于,按照下述步骤进行:按照等摩尔比将Ge、Te两种金属进行真空封装和处理以得到GeTe晶体,由20—25摄氏度在350—450min内升至1000—1100℃并维持1000—1200min再以0.5—3℃/min降温至20—25摄氏度;将GeTe晶体冲洗除杂干燥后,置于氟气气氛中进行处理得到氟化碲化锗二维材料GeTe-F,由室温20—25摄氏度在200—300min内升至200—400℃并保温20—60小时,再以0.5—3℃/min降温至常温20—25摄氏度,使用四氟胶带反复粘撕,得到二维层状半导体材料GeTe-F。/n

【技术特征摘要】
1.一种氟化碲化锗二维材料的制备方法,其特征在于,按照下述步骤进行:按照等摩尔比将Ge、Te两种金属进行真空封装和处理以得到GeTe晶体,由20—25摄氏度在350—450min内升至1000—1100℃并维持1000—1200min再以0.5—3℃/min降温至20—25摄氏度;将GeTe晶体冲洗除杂干燥后,置于氟气气氛中进行处理得到氟化碲化锗二维材料GeTe-F,由室温20—25摄氏度在200—300min内升至200—400℃并保温20—60小时,再以0.5—3℃/min降温至常温20—25摄氏度,使用四氟胶带反复粘撕,得到二维层状半导体材料GeTe-F。


2.根据权利要求1所述的一种氟化碲化锗二维材料的制备方法,其特征在于,将Ge、Te两种金属进行真空封装和处理时,真空度达到0.1MPa以下,并保持惰性保护气体氛围。


3.根据权利要求2所述的一种氟化碲化锗二维材料的制备方法,其特征在于,惰性保护气体氛围为氮气、氦气或者氩气。


4.根据权利要求1所述的一种氟化碲化锗二维材料的制备方法,其特征在于,选择CVD管式炉进行程序温控。


5.根据权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:封伟张鑫赵付来王宇冯奕钰李瑀
申请(专利权)人:天津大学
类型:发明
国别省市:天津;12

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