一种存储器的信号采样方法技术

本发明专利技术提供一种存储器的信号采样方法，包括以下步骤：步骤S1，控制器根据第一信号线的延时将预设时间周期内的第一信号划分为复数个采样点；步骤S2，控制器在每个采样点上发送多个命令信号给存储器；步骤S3，存储器根据每个命令信号发送对应的反馈信号给控制器；步骤S4，控制器检测每个采样点上的每个命令信号对应的反馈信号，以判断当前的采样点是否为有效采样点；步骤S5，将对应于每个命令信号的所有有效采样点整合为一个采样窗口；步骤S6，根据每个采样窗口获取有效采样窗口，并位于有效采样窗口中心点的有效采样点作为真正采样点；步骤S7，控制器在真正采样点上采集第一信号。本发明专利技术的有益效果：提高信号采样的准确性。

A signal sampling method of memory

【技术实现步骤摘要】
一种存储器的信号采样方法
本专利技术涉及通信
，尤其涉及一种存储器的信号采样方法。
技术介绍
目前的存储器的信号采样点会受到各类因素的影响而偏离，从而导致在该信号采样点采集到的信号的准确度降低，其中，各类因素可以包括环境温度的变化、电压的波动、存储器的批次。
技术实现思路
针对现有技术中存在的上述问题，现提供一种旨在提高信号采样的准确度的存储器的信号采样方法。具体技术方案如下：一种存储器的信号采样方法，其中，提供主系统芯片和存储器，主系统芯片通过第一信号线与存储器连接，其中，主系统芯片包括一控制器；采样方法包括以下步骤：步骤S1，控制器根据第一信号线的延时将预设时间周期内的第一信号划分为复数个采样点；步骤S2，控制器在每个采样点上发送多个命令信号给存储器；步骤S3，存储器根据每个命令信号发送对应的反馈信号给控制器；步骤S4，控制器检测每个采样点上的每个命令信号对应的反馈信号，以判断当前的采样点是否为有效采样点；步骤S5，将对应于每个命令信号的所有有效采样点整合为一个采样窗本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种存储器的信号采样方法，其特征在于，提供主系统芯片和存储器，所述主系统芯片通过第一信号线与所述存储器连接，其中，所述主系统芯片包括一控制器；/n所述采样方法包括以下步骤：/n步骤S1，所述控制器根据所述第一信号线的延时将预设时间周期内的第一信号划分为复数个采样点；/n步骤S2，所述控制器在每个所述采样点上发送多个命令信号给所述存储器；/n步骤S3，所述存储器根据每个所述命令信号发送对应的反馈信号给所述控制器；/n步骤S4，所述控制器检测每个所述采样点上的每个命令信号对应的所述反馈信号，以判断当前的所述采样点是否为有效采样点；/n步骤S5，将对应于每个所述命令信号的所有所述有效采样点整合为...

【技术特征摘要】
1.一种存储器的信号采样方法，其特征在于，提供主系统芯片和存储器，所述主系统芯片通过第一信号线与所述存储器连接，其中，所述主系统芯片包括一控制器；
所述采样方法包括以下步骤：
步骤S1，所述控制器根据所述第一信号线的延时将预设时间周期内的第一信号划分为复数个采样点；
步骤S2，所述控制器在每个所述采样点上发送多个命令信号给所述存储器；
步骤S3，所述存储器根据每个所述命令信号发送对应的反馈信号给所述控制器；
步骤S4，所述控制器检测每个所述采样点上的每个命令信号对应的所述反馈信号，以判断当前的所述采样点是否为有效采样点；
步骤S5，将对应于每个所述命令信号的所有所述有效采样点整合为一个采样窗口；
步骤S6，根据每个所述采样窗口获取有效采样窗口，并位于所述有效采样窗口中心点的有效采样点作为真正采样点；
步骤S7，所述控制器在所述真正采样点上采集所述第一信号。


2.如权利要求1所述的信号采样方法，其特征在于，所述存储器的总线模式为HS400总线模式。


3.如权利要求1所述的信号采样方法，其特征在于，所有所述采样点均分所述预设时间周期。


4.如权利要求1所述的信号采样方法，其特征在于，每...

【专利技术属性】
技术研发人员：余龙，李睿轩，于永会，
申请(专利权)人：晶晨半导体上海股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31