一种用于精密测绘的直线分布探测头方向调节架制造技术

技术编号:23237175 阅读:37 留言:0更新日期:2020-02-04 17:23
本发明专利技术提供一种用于精密测绘的直线分布探测头方向调节架,涉及精密测绘技术领域,包括探测板以及与探测板连接的调节部,探测板上设置有探测头,调节部包括与探测板平行设置的调节座、与探测板垂直设置的调节壁以及用于连接调节壁和探测板的调节件,调节件包括与所述探测板连接的连接杆、设置于连接杆远离探测板的端部的调节螺母、与调节螺母啮合的输出齿轮以及设置于调节壁上用于带动输出齿轮转动的驱动机,连接杆外侧设置有外螺纹,调节螺母内侧设置有与外螺纹配合的内螺纹。本发明专利技术一种用于精密测绘的直线分布探测头方向调节架结构简单,使用方便,调节性好,调节精确度高,调节参数可控,无需手动调节,调节效率高,操作门槛低。

A direction adjusting frame of linear distribution probe for precise mapping

【技术实现步骤摘要】
一种用于精密测绘的直线分布探测头方向调节架
本专利技术涉及精密测绘
,尤其是,本专利技术涉及一种用于精密测绘的直线分布探测头方向调节架。
技术介绍
随着遥感测绘技术发展,高空间分辨率遥感影像成为精准农业、目标识别、灾害评估、变化监测等应用的主要数据源。实际应用中,需要将采集到的高速实时数据,如高分辨率图像数据实时地记录下来以便事后处理。但是远距离的图像测绘时往往一个探测头测量会导致数据误差大的情况发生,往往会使用多个探测头进行同时探测,然后将多个探测头采集的数据进行整合分析,得出准确的目标物测绘数据。一般来说,图像信息的采集测绘,需要多个探测头不处于同一直线上,这样可以方便探测图像的立体效果,信号数据采集测绘时,多个探测头的分布没有要求,但是要求多个探测头都能准确获取信号来源消息,需要多个探测头的数据进行综合分析,消除误差,一般多个探测头位于一条直线上更加可以消除其他无关干扰项,综合分析准确度更高,为了校准探测头可以准确获取信号来源,探测头需要稳定设置,且可以前后左右同步转动进行校准,且远距离探测,转动角度一般为0.01°本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于精密测绘的直线分布探测头方向调节架,其特征在于:包括探测板(1)以及与所述探测板(1)连接的调节部(2),所述探测板(1)上设置有探测头(11),所述调节部(2)包括与所述探测板(1)平行设置的调节座(21)、与所述探测板(1)垂直设置的调节壁(22)以及用于连接所述调节壁(22)和探测板(1)的调节件(23),所述调节件(23)包括与所述探测板(1)连接的连接杆(231)、设置于所述连接杆(231)远离所述探测板(1)的一端的调节螺母(232)、与所述调节螺母(232)啮合的输出齿轮(233)以及设置于所述调节壁(22)上用于带动所述输出齿轮(233)转动的驱动机(234),所述...

【技术特征摘要】
1.一种用于精密测绘的直线分布探测头方向调节架,其特征在于:包括探测板(1)以及与所述探测板(1)连接的调节部(2),所述探测板(1)上设置有探测头(11),所述调节部(2)包括与所述探测板(1)平行设置的调节座(21)、与所述探测板(1)垂直设置的调节壁(22)以及用于连接所述调节壁(22)和探测板(1)的调节件(23),所述调节件(23)包括与所述探测板(1)连接的连接杆(231)、设置于所述连接杆(231)远离所述探测板(1)的一端的调节螺母(232)、与所述调节螺母(232)啮合的输出齿轮(233)以及设置于所述调节壁(22)上用于带动所述输出齿轮(233)转动的驱动机(234),所述连接杆(231)外侧设置有外螺纹(235),所述调节螺母(232)内侧设置有与所述外螺纹(235)配合的内螺纹。


2.根据权利要求1所述的一种用于精密测绘的直线分布探测头方向调节架,其特征在于:所述探测板(1)上设置有与所述连接杆(231)固定连接的连接垫(12)。


3.根据权利要求2所述的一种用于精密测绘的直线分布探测头方向调节架,其特征在于:所述连接垫(12)为弹性件。


4.根据权利要求1所述的一种用于精密测绘的直线分布探测头方向调节架,其特征在于:所述调节壁(22)包括设置于探测板(1)两侧的第一调节壁...

【专利技术属性】
技术研发人员:安庆柳立生欧阳玉华王金玲
申请(专利权)人:武昌理工学院
类型:发明
国别省市:湖北;42

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