基于紧缩场的相控阵天线测试校准系统技术方案

本实用新型专利技术涉及一种基于紧缩场的相控阵天线测试校准系统，包括反射面、馈源、相控阵天线、切换开关、网络分析仪和控制器。其中，馈源设置于反射面曲面焦点位置；相控阵天线包括基板，基板上设置有多个呈阵列排布的振子；切换开关与每一振子电连接；网络分析仪与馈源电连接，用于输出测试信号，并接收通过切换开关与振子接收的信号；控制器与切换开关电连接，用于控制切换开关与每一振子的通断；并且，控制器还与网络分析仪电连接，用于控制网络分析仪输出测试信号，以及接收通过切换开关和振子的接收信号，对测试信号与接收信号比对，获得相位差和幅度差。本实用新型专利技术提高了相控阵天线的测试效率，并减小了测试误差，且安装方便。

Test and calibration system of phased array antenna based on compact field

【技术实现步骤摘要】
基于紧缩场的相控阵天线测试校准系统
本技术涉阵列天线测试领域，尤其涉及一种基于紧缩场的相控阵天线测试校准系统。
技术介绍
相控阵天线指的是通过控制阵列天线中辐射单元，即振子的馈电相位和幅度来改变方向图形状的天线。控制相位可以改变天线方向图最大值的指向，以达到波束扫描的目的。参照图1和图2。图1示出了现有技术中相控阵天线测试校准系统，图2示出了现有技术中相控阵天线测试校准系统中，基板上设置振子成阵列排布的结构示意图。目前，相控阵天线测试校准系统包括设置在转台上的阵列天线，阵列天线包括质基板3′和设置在基板3′上的多个振子4′。通过设置在扫描架2′上的测试探头1′，逐一平行对准每个振子4′进行测试，获得振子4′当前相位与幅值，与预先校准的值进行比较，逐一校准。显然，上述测试校准方法存在的问题是：逐一校准振子4′导致的工作效率低下的问题。
技术实现思路
为至少在一定程度上克服现有技术中的上述问题，本技术提供一种基于紧缩场的相控阵天线测试校准系统。本技术公开了一种基于紧缩场的相控阵天线测试校准系统，包括：本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于紧缩场的相控阵天线测试校准系统，其特征在于，包括：/n反射面；/n馈源，设置于所述反射面曲面焦点位置；/n相控阵天线，设置于紧缩场的静区内，包括基板，所述基板上设置有多个呈阵列排布的振子；/n切换开关，与每一振子电连接，用于切换每一所述振子的通断；/n网络分析仪，与所述馈源电连接，用于输出测试信号，并接收通过所述切换开关与所述振子接收的信号；/n控制器，与所述切换开关电连接，用于控制所述切换开关与每一所述振子的通断；并且，所述控制器还与所述网络分析仪电连接，用于控制网络分析仪输出测试信号，以及接收通过所述切换开关和所述振子的接收信号，对所述测试信号与所述接收信号比对，获得相位差和幅...

【技术特征摘要】
1.一种基于紧缩场的相控阵天线测试校准系统，其特征在于，包括：
反射面；
馈源，设置于所述反射面曲面焦点位置；
相控阵天线，设置于紧缩场的静区内，包括基板，所述基板上设置有多个呈阵列排布的振子；
切换开关，与每一振子电连接，用于切换每一所述振子的通断；
网络分析仪，与所述馈源电连接，用于输出测试信号，并接收通过所述切换开关与所述振子接收的信号；
控制器，与所述切换开关电连接，用于控制所述切换开关与每一所述振子的通断；并且，所述控制器还与所述网络分析仪电连接，用于控制网络分析仪输出测试信号，以及接收通过所述切换开关和所述振子的接收信号，对所述测试信号与所述接收信号比对，获得相位差和幅度差。


2.根据权利要求1所述的基于紧缩场的相控阵天线测试校准系统，其特征在于，
所述切换开关为机械开关或电控开关。


3.根据权利要求2所述的基于紧缩场的相控阵天线测试校准系统，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：夏冬雪，
申请(专利权)人：深圳市蓉声科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44