触头寿命试验装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种触头寿命试验装置。其包括插床，所述插床的滑枕上可拆连接有用于对被试触头进行插拔试验的插拔件，所述插床的工作台上可拆连接有用于定位被试触头的触头定位工装，所述触头定位工装包括用于与被试触头的内螺纹适配的螺纹连接部分和用于与插床的卡紧工具卡紧配合的基础部分，所述插拔件具有用于与被试触头上端内部的凸出结构的内周面适配的外周面。这样一来，可以利用到现有的插床对触头的机械寿命进行试验，提高了插床的利用率，通过插床的工作台上的卡紧工具将触头定位工装卡紧，通过滑枕的上下往复运动实现插拔件在触头内的插拔，完成触头寿命的试验，且利用现有的插床进行试验，使得触头寿命检测的效率高，成本低。

Contact life test device

【技术实现步骤摘要】
触头寿命试验装置
本专利技术涉及一种触头寿命试验装置。
技术介绍
触头是在高压封闭组合电器中承担接通和分断电流的重要元件，较为常用的一种触头结构为整体式，局部为分瓣式结构（形似花瓣结构，花瓣数量一般为偶数个），上端内部具有凸出结构，凸出结构表面镀银，下端内部采用内螺纹结构。为了验证产品能否满足技术规范的全部要求需要进行型式试验，型式试验中的寿命试验是必须要进行的一项试验，用来测试触头零件在规定的机械特性条件下能否承受规定的分、合闸空载操作次数的试验，现有技术中的触头寿命检测试验通常在产品上进行，触头的装配比较麻烦，检测效率较低，成本较高。生产车间内有多种加工设备，通常会购置插床以用于单件或小批量生产中加工内孔键槽或花键孔，也可以用来加工平面、方孔或多边形孔等。在有些时间插床是闲置不用的，这样在一定程度上会造成加工设备的利用率较低，造成加工设备的浪费。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种可以利用到生产车间现有的插床对触头的机械寿命进行检测的触头寿命试验装置，以解决现有技术中对触头寿命进行检测时检测效率较低，成本较高的问题。为实现上述目的，本专利技术触头寿命试验装置的技术方案是：触头寿命试验装置包括插床，所述插床的滑枕上可拆连接有用于对被试触头进行插拔试验的插拔件，所述插床的工作台上可拆连接有用于定位被试触头的触头定位工装，所述触头定位工装包括用于与被试触头的内螺纹适配的螺纹连接部分和用于与插床的卡紧工具卡紧配合的基础部分，所述插拔件具有用于与被试触头上端内部的凸出结构的内周面适配的外周面。这样一来，可以利用到现有的插床对触头的机械寿命进行试验，提高了插床的利用率，通过插床的工作台上的卡紧工具将触头定位工装卡紧，通过滑枕的上下往复运动实现插拔件在触头内的插拔，完成触头寿命的试验，且利用现有的插床进行试验，使得触头寿命检测的效率高，成本低。进一步地，所述插拔件为圆柱体，圆柱体的轴线处设有用于与滑枕内的滑杆连接的螺纹孔。这是因为螺纹连接便于安装、拆卸和更换，装配简单、省时，缩短了试验周期，实现了触头机械寿命的快速检测。进一步地，所述螺纹孔为通孔，所述触头寿命试验装置还包括用于连接在滑杆底部以限制插拔件位置的限位螺母。这样一来，有效的防止了插拔件的脱落，影响触头的寿命检测。进一步地，所述触头定位工装为圆柱体结构。这样一来，触头定位工装的螺纹连接部分和基础部分的直径一致，触头定位工装的结构比较简单，加工比较容易，生产成本较低。进一步地，所述插床为数控插床。这样一来，可以对插拔件与待试验的触头之间的距离、插拔件在竖直方向上下运动的相对距离、插拔次数以及速度等参数进行设定与调整，从而实现了触头的寿命检测模拟试验，真实地还原了触头零部件在产品上的机械寿命试验效果。附图说明图1为被试触头的结构示意图；图2为本专利技术的触头寿命试验装置的插床的结构示意图；图3为本专利技术的触头寿命试验装置的插拔件的结构示意图；图4为沿图3所示A-A剖切线的剖视图；图5为本专利技术的触头寿命试验装置的触头定位工装的结构示意图；图6为图5所示触头定位工装的俯视图；图7为本专利技术的触头寿命试验装置对触头寿命进行检测时插拔件拔出到触头外的示意图；图8为本专利技术的触头寿命试验装置对触头寿命进行检测时插拔件插入到触头内的示意图。附图标记说明：1.被试触头；101.凸出结构；102.内螺纹；2.插床；201.滑枕；202.滑杆；203.三爪卡盘；204.圆形工作台；3.插拔件；301.螺纹孔；4.触头定位工装；401.螺纹连接部分；402.基础部分；5.限位螺母。具体实施方式下面结合附图对本专利技术的实施方式作进一步说明。需要说明的是，在本专利技术的描述中，如果出现“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等术语，其指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。为了将本专利技术的触头寿命试验装置的工作过程表述清楚，首先对被试触头1的结构进行说明，被试触头1的结构如图1所示，被试触头1的上端采用花瓣式结构，内部具有凸出结构101，凸出结构101表面做镀银处理，被试触头1的下端具有内螺纹102。如图2至图8所示，本专利技术的触头寿命试验装置包括用于固定被试触头1的触头定位工装4和用于在被试触头1内插拔以完成对被试触头1的插拔试验的插拔件3，插拔件3在升降装置的带动在可以在被试触头1内插拔。触头寿命试验装置还包括插床2，插床2包括滑枕201，滑枕201内设有滑杆202，上述升降装置由滑杆202形成，插拔件3连接在滑杆202上并且可以随着滑杆202在上下方向运动，插床2还包括设置在滑枕201下方的圆形工作台204，圆形工作台204上设有三爪卡盘203，该三爪卡盘203用于夹持触头定位工装4。插拔件3为圆柱体，其轴线上设有用于与滑杆202连接的螺纹孔301，螺纹孔301沿插拔件3的轴向贯通，其外周面与被试触头1上端内部的凸出结构101适配，插拔件3的外径与被试触头1的口径相同，使得插拔件3插入到被试触头1内时可以模拟出被试触头1工作时的状态。触头定位工装4为圆柱体，其上端具有用于安装被试触头1的螺纹连接部分401，下端为用于供三爪卡盘203夹持的基础部分402，本实施例中的外螺纹401的外径与圆周面的直径相等，以此来方便触头定位工装4的加工，降低触头定位工装4的加工成本。为了便于控制和记录试验参数，该触头寿命试验装置还包括程序控制器，上述插床2为数控插床，上述程序控制器与插床2上的程序控制器为同一装置，通过程序控制器对滑杆202在上下方向上的运动距离、运动速度以及运动速度等参数的控制来实现对触头寿命检测试验中的插拔高度、插拔速度和插拔次数等参数的控制。利用本专利技术的触头寿命试验装置对被试触头1的寿命进行检测试验时，首先可以将插拔件3安装在滑杆202的下端，滑杆202的下端低于插拔件3的下端，再在滑杆202下端连接上限位螺母5以防止插拔件3与滑杆202发生相对位移，限位螺母5可以根据滑杆202上螺纹的尺寸选择相应的标准件或是自制件。再将触头定位工装4安装在圆形工作台204上的三爪卡盘203上，通过插床2上的摇臂可以使三爪卡盘203可以向外或向内移动，由此来实现对触头定位工装4的夹紧和松开，三爪卡盘203和圆形工作台204始终保持同轴，圆形工作台204和滑杆202同轴。再将被试触头1连接在触头定位工装4上，将插拔次数、插拔速度、插拔深度等参数输入到程序控制器中即可开始触头寿命的检测试验。触头寿命检测考核项目有两部分。一是被试触头1内部凸出结构101的磨损情况及镀银层脱落情况，观察方式为肉眼观察，经历设定次数的插拔试验后，肉眼观察被试触头1零部件内部凸出部分是否有明显的磨损情况，镀银层是否有脱落情况。二是被试触头1有无变形情况，花瓣部分为本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.触头寿命试验装置，其特征在于：包括插床，所述插床的滑枕上可拆连接有用于对被试触头进行插拔试验的插拔件，所述插床的工作台上可拆连接有用于定位被试触头的触头定位工装，所述触头定位工装包括用于与被试触头的内螺纹适配的螺纹连接部分和用于与插床的卡紧工具卡紧配合的基础部分，所述插拔件具有用于与被试触头上端内部的凸出结构的内周面适配的外周面。/n

【技术特征摘要】
1.触头寿命试验装置，其特征在于：包括插床，所述插床的滑枕上可拆连接有用于对被试触头进行插拔试验的插拔件，所述插床的工作台上可拆连接有用于定位被试触头的触头定位工装，所述触头定位工装包括用于与被试触头的内螺纹适配的螺纹连接部分和用于与插床的卡紧工具卡紧配合的基础部分，所述插拔件具有用于与被试触头上端内部的凸出结构的内周面适配的外周面。


2.根据权利要求1所述的触头寿命试验装置，其特征在于：所述插拔件为圆柱体，...

【专利技术属性】
技术研发人员：韩丽娟，李亚磊，李宝增，袁端鹏，田浩，王亚祥，林生军，李凯，庞亚娟，
申请(专利权)人：平高集团有限公司，国家电网有限公司，国网山西省电力公司，
类型：发明
国别省市：河南;41