一种基于光标的软件场景DOE性能评估方法技术

技术编号:23162586 阅读:36 留言:0更新日期:2020-01-21 22:09
本发明专利技术提供一种基于光标的软件场景DOE性能评估方法,包括步骤:S1:中心设有光标的散斑图案经光学衍射元件复制后投影到目标场景物体;S2:采集投影到目标场景物体上的图案;S3:在采集到的图像中随机选取若干光标,并对光标进行拟合误差计算;S4:根据求取到误差均值进行DOE性能评估。本发明专利技术利用投放光标计算散斑图误差的方法,可以避免传统通过计算像素深度求取误差的繁琐过程;可以直接对选取光标进行拟合求取误差,在保证精度的基础上,过程快速、高效。

【技术实现步骤摘要】
一种基于光标的软件场景DOE性能评估方法
本专利技术涉及图形投影
,尤其涉及一种基于光标的软件场景DOE性能评估方法。
技术介绍
衍射光学应用十分广泛。一些应用中,衍射光学元件(DiffractiveOpticalElements,DOE)根据相应目的(如光学三维映射)被用于产生预期的投影图案。然而受器件耐受力、环境、操作不同的影响,DOE会出现不同的故障偏差,进而直接影响产品精度及质量。于是在实际应用中能否及时、高效地监控评估DOE性能成为一项具有深远意义的工作。现有公开号为109342028A的中国专利申请提供一种衍射光学元件检测方法,包括:标定阶段:光源发射光束经由透镜汇聚并投射平行光束至检测器,控制处理器接收来自检测器采集的平行光束图像;测定阶段:光源发射光束经由透镜汇聚并投射平行光束至DOE,DOE接收、分束所述平行光束并投射衍射光束至检测器,控制处理器接收来自检测器采集的衍射光束图像;性能检测阶段:控制处理器接收来自检测器采集的平行光束图像和衍射光束图像并进行处理以检测DOE的性能。该方法可以对DOE进行性能检测,对批本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于光标的软件场景DOE性能评估方法,其特征在于,包括步骤:/nS1:中心设有光标的散斑图案经光学衍射元件复制后投影到目标场景物体;/nS2:采集投影到目标场景物体上的图案;/nS3:在采集到的图像中随机选取若干光标,并对光标进行拟合误差计算;/nS4:根据求取到误差均值进行DOE性能评估。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于光标的软件场景DOE性能评估方法,其特征在于,包括步骤:
S1:中心设有光标的散斑图案经光学衍射元件复制后投影到目标场景物体;
S2:采集投影到目标场景物体上的图案;
S3:在采集到的图像中随机选取若干光标,并对光标进行拟合误差计算;
S4:根据求取到误差均值进行DOE性能评估。


2.根据权利要求1所述的基于光标的软件场景DOE性能评估方法,其特征在于,所述的光标由离散的散斑点组成。


3.根据权利要1或2所述的基于光标的软件场景DOE性能评估方法,其特征在于,所述的光标呈十字状。


4.根据权利要求1所述的基于光标的软件场景DOE性能评估方法,其特征在于,在步骤S3中,在采集到的散斑图网格图像中按行、列、对角或位置规律选择光标。


5.根据权利要求1所述的基于光标的软件场景DOE性能评估方法,其特征在于,在步骤S3中...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄若普鲁亚东李安陈驰
申请(专利权)人:深圳市安思疆科技有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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