【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】应力测定方法
本专利技术涉及对被检查体的应力进行测定的方法。
技术介绍
近年,作为以非破坏方式测定由金属构成的被检查体的应力(残余应力)的方法,如专利文献1等所公开那样,正在普及使用二维检测器的二维检测法(所谓的cosα法)。该方法是基于通过以特定的入射角Ψ入射至被检查体的X射线在被检查体的衍射而产生的衍射X射线的衍射环来测定应力的方法。该二维检测法中的测定的精度大致与sin2Ψ成比例,因此,随着入射被检查体的X射线的入射角Ψ从45°起变化,测定精度降低。因此,在二维检测法中,通常,X射线向被检查体入射的入射角Ψ设为25°~65°。在专利文献1中,入射角Ψ设定为30°。在二维检测法中,在入射被检查体的X射线的入射角Ψ处于25°~65°的范围内情况下,能够进行高精度的测定,但有时由于被检查体的形状等而无法确保适当的入射角。例如,若以X射线向被检查体入射的入射角Ψ处于上述范围的方式将能够照射X射线的照射部相对于被检查体倾斜,则有时衍射X射线或者照射部本身与被检查体发生干涉。在这样的情况下,难以高精度地测定被检查体的应力。 ...
【技术保护点】
1.一种应力测定方法,其对由金属构成的被检查体的应力进行测定,其中,/n所述应力测定方法包括:/n检测工序,使X射线从能够照射X射线的照射部向所述被检查体入射,并且利用二维检测器对所述X射线在所述被检查体衍射而形成的衍射X射线的衍射环进行检测;以及/n计算工序,基于所述检测工序的检测结果来计算所述被检查体的应力,/n在所述检测工序中,在将所述照射部以所述X射线向所述被检查体入射的入射角处于5°以上且20°以下的范围内的方式相对于所述被检查体倾斜的状态下,使X射线从该照射部分别向所述被检查体的多个部位入射,并且利用所述二维检测器对各X射线在所述被检查体衍射而形成的衍射环进行检测。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170531 JP 2017-1081341.一种应力测定方法,其对由金属构成的被检查体的应力进行测定,其中,
所述应力测定方法包括:
检测工序,使X射线从能够照射X射线的照射部向所述被检查体入射,并且利用二维检测器对所述X射线在所述被检查体衍射而形成的衍射X射线的衍射环进行检测;以及
计算工序,基于所述检测工序的检测结果来计算所述被检查体的应力,
在所述检测工序中,在将所述照射部以所述X射线向所述被检查体入射的入射角处于5°以上且20°以下的范围内的方式相对于所述被检查体倾斜的状态下,使X射线从该照射部分别向所述被检查体的多个部位入射,并且利用所述二维检测器对各X射线在所述被检查体衍射而形成的衍射环进行检测。
2.根据权利要求1所述的应力测定方法,其中,
在所述检测工序中,作为所述多个部位,选择所述被检查体中的连续相连的部位,使X射线连续对该部位入射。
3.根据权利要求2所述的应力测定方法,其中,
在所述检测工序中,使X射线连续对所述连续相连的部位入射,并且利用所述二维检测器对通过将由各X射线在所述部位衍射而形成的多个衍射环重叠而得到的单一衍射环进行检测。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的应力测定方法,其中,
在所述检测工序中,以使所述X射线向所述被检查体照射的照射面积的合计为所述被检查体的晶粒的面积的规定倍以上的方式使所述X射线向所述被检查体入射。
5.一种应力测定方法,其对由金属构成的被检查体的应力进行测定,其中,
所述应力测定方法包括:
检测工序,使X射线从能够照射X射线的照射部向所述被检查体入射,并且利用二维检测器对所述X...
【专利技术属性】
技术研发人员:高松弘行,福井利英,松田真理子,兜森达彦,
申请(专利权)人:株式会社神户制钢所,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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