一种编码器测试仪制造技术

本发明专利技术公开了一种编码器测试仪，包括输入模块和两路AC/DC转换模块，所述输入模块通过六路光耦合隔离器模块后与编码器连接，所述编码器将四路差分信号转换后连接信号采集器，所述信号采集器连接从机ARM芯片和从机DSP芯片，所述从机ARM芯片和从机DSP芯片连接主机ARM芯片，所述主机ARM芯片连接Flash存储芯片、SPI绝对值型编码器信号输入端口、电平转换芯片、显示屏外接连接器、PWM输出和通信芯片模块、主机电平转换芯片，所述主机ARM芯片将测量数据保存在Flash存储芯片中。本装置测试CPU可选，支持DSP和ARM两种主流的MCU。

An encoder tester

【技术实现步骤摘要】
一种编码器测试仪
本专利技术涉及编码器
，具体涉及一种编码器测试仪。
技术介绍
编码器是将信号或数据进行编制、转换为可用以通讯、传输和存储的信号形式的设备。编码器在OEM市场的应用比例较高，主要应用于机床、电梯、伺服电机配套、纺织机械、包装机械、印刷机械、起重机械等行业。但是编码器在使用前很难甄别确定其性能的好坏，往往会对后续的编码器使用生产带了不变，因此为了方便测试单个编码器性能的好坏，以及对比两个编码器性能的好坏，特为此设计一个编码器测试仪。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种编码器测试仪，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种编码器测试仪，包括输入模块和两路AC/DC转换模块，所述输入模块通过六路光耦合隔离器模块后与编码器连接，所述编码器将四路差分信号转换后连接信号采集器，所述信号采集器连接从机ARM芯片和从机DSP芯片，所述从机ARM芯片和从机DSP芯片连接主机ARM芯片，所述主机ARM芯片连接Flash存储芯片、SPI绝对值型编码器信号输入端口、电平转换芯片、显示屏外接连接器、PWM输出和通信芯片模块、主机电平转换芯片，所述主机ARM芯片将测量数据保存在Flash存储芯片中。优选地，所述六路光耦合隔离器模块设有12个，分别为U1、U2、U5、U3、U4、U16、U10、U11、U14、U12、U13和U15；所述六路光耦合隔离器模块包括输入Ⅰ和输入Ⅱ，所述输入Ⅰ串联电阻R后连接光耦合隔离器引脚1，所述输入Ⅱ连接电容一端和光耦合隔离器引脚2，所述光耦合隔离器引脚1和引脚2之间连接2KΩ电阻，所述电容另一端接地，所述光耦合隔离器引脚6串联4.7KΩ电阻后连接引脚4，最后连接输出端口，所述引脚5接地；所述U1、U2、U5、U3、U4、U16、U10、U11、U14、U12、U13和U15的输入Ⅰ连接输入模块的引脚1，所述U1和U10的输入Ⅱ连接输入模块的引脚3，所述U2和U11的输入Ⅱ连接输入模块的引脚4，所述U5和U14的输入Ⅱ连接输入模块的引脚5，所述U3和U12的输入Ⅱ连接输入模块的引脚6，所述U4和U13的输入Ⅱ连接输入模块的引脚7，所述U16和U15的输入Ⅱ连接输入模块的引脚8，所述U1、U2、U5、U3、U4、U16、U10、U11、U14、U12、U13和U15的输出端口连接编码器。优选地，所述编码器设有2个，分别为U6和U17，所述U1、U2、U5、U3、U4、U16的输出端口分别连接U6的引脚2、引脚1、引脚6、引脚7、引脚10和引脚9，所述的输出端口分别连接U6的引脚2、引脚1、引脚6、引脚7、引脚10和引脚9，所述U10、U11、U14、U12、U13和U15的输出端口分别连接U17的引脚2、引脚1、引脚6、引脚7、引脚10和引脚9，所述U6的引脚2。优选地，所述信号采集器设有4个，分别为U7、U1、1U18和U19，所述U7的引脚3和引脚4与U6的引脚3连接，所述所述U7的引脚5和引脚6与U6的引脚5连接，所述U7的引脚7和引脚8与U6的引脚11连接；所述U8的引脚3和引脚4与U6的引脚1连接，所述所述U8的引脚5和引脚6与U6的引脚7连接，所述U8的引脚7和引脚8与U6的引脚9连接；所述U18的引脚3和引脚4与U17的引脚3连接，所述所述U18的引脚5和引脚6与U17的引脚5连接，所述U17的引脚7和引脚8与U17的引脚11连接；所述U19的引脚3和引脚4与U17的引脚3连接，所述U19的引脚5和引脚6与U17的引脚5连接，所述U19的引脚7和引脚8与U17的引脚11连接；所述U7、U1、1U18和U19通过引脚与从机ARM芯片和从机DSP芯片连接。优选地，所述U7和U8的引脚20，引脚18和引脚16分别与从机ARM芯片的引脚101、引脚102和引脚100连接，所述U18和U19的引脚20，引脚18和引脚16分别与从机ARM芯片的引脚98、引脚99和引脚97连接；所述述U7和U8的引脚21，引脚19和引脚17分别与从机DSP芯片的引脚6、引脚7和引脚2连接，所述述U18和U19的引脚21，引脚19和引脚17分别与从机DSP芯片的引脚69、引脚75和引脚85连接，所述从机ARM芯片的引脚13～引脚16分别连接主机ARM芯片的引脚13、引脚14、引脚16和引脚15，所述从机ARM芯片的引脚50和引脚51分别连接主机ARM芯片的引脚49和引脚48；所述从机DSP芯片的引脚43和引脚50分别连接主机ARM芯片的引脚51和引脚50。优选地，所述从机ARM芯片的引脚31和引脚32之间连接32.768KHZ的晶振X1后，分别串联10PF的电容C9和C10后共同接地，所述引脚37和引脚38之间并联1MΩ的电阻R1和10MHZ的晶振X1后分别串联22PF的电容C7和C8后共同接地，所述引脚122连接电感器L1后与引脚112、引脚103、引脚75、引脚75、引脚52、引脚39和引脚11连接后接地，所述引脚61和引脚120分别连接电感L3和L2后连接高电位，引脚120上连接电容C6与电感L2实现并联后接地，所述引脚54、引脚113和引脚121分别连接2.2UF的电容C22、C20和C18后共同接地，所述引脚64～66分别连接编程口的引脚5、引脚3和引脚4，所述从机ARM芯片的引脚65与高电位之间连接10KΩ的电阻R39，所述引脚64连接IC集成块的引脚2，所述引脚2和引脚3之间连接1KΩ电阻R40，引脚1和引脚2之间并联1UF的电容C19和C21后接地，所述从机DSP芯片的引脚5、引脚13、引脚38、引脚61、引脚79、引脚93、引脚3、引脚14、引脚37、引脚63、引脚81和引脚91连接2.2UF电容后接地，所述引脚12、引脚67、引脚70～72连接外接连接器引脚，所述引脚46连接0.1UF的电容后连接引脚90。优选地，所述PI绝对值型编码器信号输入端口设有2个，所述PI绝对值型编码器信号输入端口包括输入端，所述输入端的引脚2～5分别连接集成电路引脚9和引脚11～13，所述集成电路引脚4～6分别连接编码器Ⅱ的引脚2、引脚16和引脚14，所述2个PI绝对值型编码器信号输入端口分别连接U6和U17。优选地，所述两路AC/DC转换模块为两路220VAC转5VDC模块，为为编码器供电，一路为从机ARM芯片、从机DSP芯片和主机ARM芯片转变为3.3V电压供电。优选地，所述电平转换芯片将3.3V数字信号转换为5V数字信号。优选地，所述PWM输出和通信芯片模块设有2个通信端口和2路PWM波输出端口，2个通信端口分别通信端口Ⅰ和通信端口Ⅱ，并与主机ARM芯片的引脚46和引脚47连接，所述PWM波输出端口分别为PWM波输出端口Ⅰ和PWM波输出端口Ⅱ，并与主机ARM芯片的引脚引脚86和引脚87连接.优选地，所述从机ARM芯片和主机ARM芯片的型号为M483KIDAE，所述从机DSP芯片的型号为TMS320F28069。本专利技术的技术效果和优点：本专利技术可以同时采集两路编码器信号，进行速度波动、脉本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种编码器测试仪，包括输入模块和两路AC/DC转换模块，其特征在于：所述输入模块通过六路光耦合隔离器模块后与编码器连接，所述编码器将四路差分信号转换后连接信号采集器，所述信号采集器连接从机ARM芯片和从机DSP芯片，所述从机ARM芯片和从机DSP芯片连接主机ARM芯片，所述主机ARM芯片连接Flash存储芯片、SPI绝对值型编码器信号输入端口、电平转换芯片、显示屏外接连接器、PWM输出和通信芯片模块、主机电平转换芯片，所述主机ARM芯片将测量数据保存在Flash存储芯片中。/n

【技术特征摘要】
1.一种编码器测试仪，包括输入模块和两路AC/DC转换模块，其特征在于：所述输入模块通过六路光耦合隔离器模块后与编码器连接，所述编码器将四路差分信号转换后连接信号采集器，所述信号采集器连接从机ARM芯片和从机DSP芯片，所述从机ARM芯片和从机DSP芯片连接主机ARM芯片，所述主机ARM芯片连接Flash存储芯片、SPI绝对值型编码器信号输入端口、电平转换芯片、显示屏外接连接器、PWM输出和通信芯片模块、主机电平转换芯片，所述主机ARM芯片将测量数据保存在Flash存储芯片中。


2.根据权利要求1所述的一种编码器测试仪，其特征在于：所述六路光耦合隔离器模块设有12个，分别为U1、U2、U5、U3、U4、U16、U10、U11、U14、U12、U13和U15；
所述六路光耦合隔离器模块包括输入Ⅰ和输入Ⅱ，所述输入Ⅰ串联电阻R后连接光耦合隔离器引脚1，所述输入Ⅱ连接电容一端和光耦合隔离器引脚2，所述光耦合隔离器引脚1和引脚2之间连接2KΩ电阻，所述电容另一端接地，所述光耦合隔离器引脚6串联4.7KΩ电阻后连接引脚4，最后连接输出端口，所述引脚5接地；
所述U1、U2、U5、U3、U4、U16、U10、U11、U14、U12、U13和U15的输入Ⅰ连接输入模块的引脚1，所述U1和U10的输入Ⅱ连接输入模块的引脚3，所述U2和U11的输入Ⅱ连接输入模块的引脚4，所述U5和U14的输入Ⅱ连接输入模块的引脚5，所述U3和U12的输入Ⅱ连接输入模块的引脚6，所述U4和U13的输入Ⅱ连接输入模块的引脚7，所述U16和U15的输入Ⅱ连接输入模块的引脚8，所述U1、U2、U5、U3、U4、U16、U10、U11、U14、U12、U13和U15的输出端口连接编码器。


3.根据权利要求2所述的一种编码器测试仪，其特征在于：所述编码器设有2个，分别为U6和U17，所述U1、U2、U5、U3、U4、U16的输出端口分别连接U6的引脚2、引脚1、引脚6、引脚7、引脚10和引脚9，所述的输出端口分别连接U6的引脚2、引脚1、引脚6、引脚7、引脚10和引脚9，所述U10、U11、U14、U12、U13和U15的输出端口分别连接U17的引脚2、引脚1、引脚6、引脚7、引脚10和引脚9，所述U6的引脚2。


4.根据权利要求3所述的一种编码器测试仪，其特征在于：所述信号采集器设有4个，分别为U7、U1、1U18和U19，所述U7的引脚3和引脚4与U6的引脚3连接，所述所述U7的引脚5和引脚6与U6的引脚5连接，所述U7的引脚7和引脚8与U6的引脚11连接；所述U8的引脚3和引脚4与U6的引脚1连接，所述所述U8的引脚5和引脚6与U6的引脚7连接，所述U8的引脚7和引脚8与U6的引脚9连接；所述U18的引脚3和引脚4与U17的引脚3连接，所述所述U18的引脚5和引脚6与U17的引脚5连接，所述U17的引脚7和引脚8与U17的引脚11连接；所述U19的引脚3和引脚4与U17的引脚3连接，所述U19的引脚5和引脚6与U17的引脚5连接，所述U19的引脚7和引脚8与U17的引脚11连接；所述U7、U1、1U18和U19通过引脚与从机ARM芯片和从机DSP芯片连接。


5.根据权利要求4所述的一种编码器测试仪，其特征在于：所述U7和U8的引脚20，引脚18和引脚16分别与从机ARM芯片的引脚101、引脚102和引脚100连接，所述U18和U1...

【专利技术属性】
技术研发人员：葛文文，
申请(专利权)人：上海竞久自动化科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31