可吸附测绘尺制造技术

本实用新型专利技术涉及一种可吸附测绘尺，属于测绘工具技术领域。解决了现有技术中的测绘尺易磨损、暗光难读取的技术问题，提高测绘尺的功能性。本实用新型专利技术的可吸附测绘尺，包括测绘尺本体、挡片、放大镜、荧光层和磁铁层。该可吸附测绘尺功能齐全，可绘制直线，快速绘制常用角度(30度、60度、45度、90度、150度)，测量角度、长度，放大等；设有荧光层，暗光可见；设有磁铁层，可吸附在磁性物质上，携带方便。

Absorbable scale

【技术实现步骤摘要】
可吸附测绘尺
本技术属于测绘工具
，具体涉及一种可吸附测绘尺。
技术介绍
测绘尺是测绘使用的工具。在实际的测绘工作中，需要直线、平行线、圆环、圆形、角度、水平等诸多项目的测量和绘制。工作人员往往需要多种工具进行测绘，但携带多种测绘工具根本不够方便。且现有技术中的测绘尺，一般采用塑料主体，在其背面设置刻度线，但在长期使用中，背面刻度线经常与被测面摩擦，容易被磨损，造成刻度不清晰。在日光或灯光不足的时候，测绘尺上的刻度很难分辨，需要补充额外强光。
技术实现思路
本技术为了解决现有技术中的测绘尺易磨损、暗光难读取的技术问题，提高测绘尺的功能性，提供一种可吸附测绘尺。本技术解决上述技术问题采取的技术方案如下。本技术的可吸附测绘尺，包括测绘尺本体、挡片、放大镜、荧光层和磁铁层；所述测绘尺本体由直角三角形A和直角三角形B组成，直角三角形A为等腰直角三角形，直角三角形B为一个角为30°的直角三角形，直角三角形A的一条直角边和直角三角形B的长直角边在一条直线上，构成测绘尺本体的底边，直角三角形A的另本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.可吸附测绘尺，其特征在于，包括测绘尺本体(1)、挡片(2)、放大镜(3)、荧光层(4)和磁铁层(5)；/n所述测绘尺本体(1)由直角三角形A和直角三角形B组成，直角三角形A为等腰直角三角形，直角三角形B为一个角为30°的直角三角形，直角三角形A的一条直角边和直角三角形B的长直角边在一条直线上，构成测绘尺本体(1)的底边，直角三角形A的另一条直角边和直角三角形B的短直角边在一条直线上，构成测绘尺本体(1)的中轴，直角三角形A的斜边构成测绘尺本体(1)的左侧边，直角三角形B的斜边构成测绘尺本体(1)的右侧边，测绘尺本体(1)的底边、左侧边和右侧边上均设有长度刻度，且底边和左侧边的交汇处为底边和...

【技术特征摘要】
1.可吸附测绘尺，其特征在于，包括测绘尺本体(1)、挡片(2)、放大镜(3)、荧光层(4)和磁铁层(5)；
所述测绘尺本体(1)由直角三角形A和直角三角形B组成，直角三角形A为等腰直角三角形，直角三角形B为一个角为30°的直角三角形，直角三角形A的一条直角边和直角三角形B的长直角边在一条直线上，构成测绘尺本体(1)的底边，直角三角形A的另一条直角边和直角三角形B的短直角边在一条直线上，构成测绘尺本体(1)的中轴，直角三角形A的斜边构成测绘尺本体(1)的左侧边，直角三角形B的斜边构成测绘尺本体(1)的右侧边，测绘尺本体(1)的底边、左侧边和右侧边上均设有长度刻度，且底边和左侧边的交汇处为底边和左侧边的零度刻度，底边与右侧边的交汇处为右侧边的零度刻度；
所述测绘尺本体(1)上设有圆形通孔(1-1)和半圆环形通孔(1-2)；半圆环形通孔(1-2)的中心轴与测绘尺本体(1)的中轴线同轴，半圆环形通孔(1-2)的内边缘的内侧和外边缘...

【专利技术属性】
技术研发人员：柳振川，陈潇琰，孟祥平，陈潇飞，金彪，
申请(专利权)人：长春市慧营科技有限公司，
类型：新型
国别省市：吉林;22