【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】观察容器及微小粒子测量装置
本专利技术涉及观察容器及微小粒子测量装置。
技术介绍
对取得细胞等微小粒子的图像,进行微小粒子的立体形状所涉及的评价的方法进行了各种研究(例如,专利文献1、2等)。专利文献1:日本特表2014-517263号公报专利文献2:日本特表2004-532405号公报
技术实现思路
但是,在进行微小粒子所涉及的拍摄的情况下,有时由于观察容器的立体形状等而光发生折射,拍摄出形状失真的像。在该情况下,难以高精度地计算微小粒子的立体形状。本专利技术就是鉴于上述情况而提出的,其目的在于,提供能够更高精度地拍摄微小粒子的立体形状的观察容器及包含该观察容器的微小粒子测定装置。关于本专利技术,(1)一种观察容器,其对包含成为拍摄装置所涉及的拍摄对象的微小粒子的样品进行收容,具有由相互交叉的第1板部及第2板部构成的底部,所述第1板部具有相互平行的平面即第1内表面和第1外表面,所述第2板部具有相互平行的平面即第2内表面和第2外表面,在所述第 ...
【技术保护点】
1.一种观察容器,其对包含成为拍摄装置所涉及的拍摄对象的微小粒子的样品进行收容,具有由相互交叉的第1板部及第2板部构成的底部,/n所述第1板部具有相互平行的平面即第1内表面和第1外表面,/n所述第2板部具有相互平行的平面即第2内表面和第2外表面,/n在所述第1板部及所述第2板部这两者中,具有针对在所述微小粒子的观察中使用的光的波长具有透光性的区域。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170529 JP 2017-1057951.一种观察容器,其对包含成为拍摄装置所涉及的拍摄对象的微小粒子的样品进行收容,具有由相互交叉的第1板部及第2板部构成的底部,
所述第1板部具有相互平行的平面即第1内表面和第1外表面,
所述第2板部具有相互平行的平面即第2内表面和第2外表面,
在所述第1板部及所述第2板部这两者中,具有针对在所述微小粒子的观察中使用的光的波长具有透光性的区域。
2.根据权利要求1所述的观察容器,其中,
所述第1板部及所述第2板部配置为彼此正交。
3.根据权利要求1或2所述的观察容器,其中,
具有所述透光性的区域使350nm~2000nm的波段的光透过。
4.一种观察容器,其对包含成为拍摄装置所涉及的拍摄对象的微小粒子的样品进行收容,具有由相互交叉的第1板部及第2板部构成的底部,
所述第1板部具有第1内表面和由平面构成的第1外表面,
所述第2板部具有第2内表面和由平面构成的第2外表面,
所述第1外表面和所述第2外表面的相交线以直线状延伸,
在相对于所述第1外表面和所述第2外表面的相交线垂直的剖面中,所述第1内表面和所述第1外表面相互平行,并且所述第2内表面和所述第2外表面相互平行,
所述第1板部的厚度及所述第2板部的厚度各自沿所述第1外表面和所述第2外表面的相交线变化,
所述第1内表面和所述第2内表面的相交线在所述底部的中央部接近所述第1外表面和所述第2外表面的相交线,并且其曲率半径为1mm~10mm,
在所述第1板部及所述第2板部这两者中,具有针对在所述微小粒子的观察中使用的光的波长具有透光性的区域。
5.根据权利要求4所述的观察容器,其中,
具有所述透光性的区域使350nm~2000nm的波段的光透过。
6....
【专利技术属性】
技术研发人员:木村彰纪,本村麻子,杉山阳子,菅沼宽,
申请(专利权)人:住友电气工业株式会社,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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