观察容器及微小粒子测量装置制造方法及图纸

观察容器(10)对作为样品的液体样品(O)进行收容，该样品包含成为拍摄装置的拍摄部(30A)、(30B)所涉及的拍摄对象的微小粒子，该观察容器(10)具有由相互交叉的底壁(12A)(第1板部)和底壁(12B)(第2板部)构成的底部，具有针对在微小粒子的观察中使用的光的波长具有透光性的区域。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】观察容器及微小粒子测量装置
本专利技术涉及观察容器及微小粒子测量装置。
技术介绍
对取得细胞等微小粒子的图像，进行微小粒子的立体形状所涉及的评价的方法进行了各种研究(例如，专利文献1、2等)。专利文献1：日本特表2014－517263号公报专利文献2：日本特表2004－532405号公报
技术实现思路
但是，在进行微小粒子所涉及的拍摄的情况下，有时由于观察容器的立体形状等而光发生折射，拍摄出形状失真的像。在该情况下，难以高精度地计算微小粒子的立体形状。本专利技术就是鉴于上述情况而提出的，其目的在于，提供能够更高精度地拍摄微小粒子的立体形状的观察容器及包含该观察容器的微小粒子测定装置。关于本专利技术，(1)一种观察容器，其对包含成为拍摄装置所涉及的拍摄对象的微小粒子的样品进行收容，具有由相互交叉的第1板部及第2板部构成的底部，所述第1板部具有相互平行的平面即第1内表面和第1外表面，所述第2板部具有相互平行的平面即第2内表面和第2外表面，在所述第1板部及所述第2板部这两者中，具有针对在所述微小粒子的观察中使用的光的波长具有透光性的区域。(2)一种观察容器，其对包含成为拍摄装置所涉及的拍摄对象的微小粒子的样品进行收容，具有由相互交叉的第1板部及第2板部构成的底部，所述第1板部具有第1内表面和由平面构成的第1外表面，所述第2板部具有第2内表面和由平面构成的第2外表面，所述第1外表面和所述第2外表面的相交线以直线状延伸，在相对于所述第1外表面和所述第2外表面的相交线垂直的剖面中，所述第1内表面和所述第1外表面相互平行，并且所述第2内表面和所述第2外表面相互平行，所述第1板部的厚度及所述第2板部的厚度各自沿所述第1外表面和所述第2外表面的相交线变化，所述第1内表面和所述第2内表面的相交线在所述底部的中央部接近所述第1外表面和所述第2外表面的相交线，并且其曲率半径为1mm～10mm，在所述第1板部及所述第2板部这两者中，具有针对在所述微小粒子的观察中使用的光的波长具有透光性的区域。专利技术的效果根据本专利技术，提供能够更高精度地拍摄微小粒子的立体形状的观察容器及包含该观察容器的微小粒子测定装置。附图说明图1是微小粒子测量装置的概略结构图。图2是观察容器的概略结构图。图3是对微小粒子测量装置进行说明的图。图4是表示通过近红外光及可见光得到的测量结果的图。图5是表示观察容器的变形例的图。图6是表示微小粒子测量装置的变形例的图。图7是表示观察容器的变形例的图。图8是表示观察容器及微小粒子测量装置的变形例的图。图9是表示观察容器的变形例的图。图10是表示观察容器的变形例的图。图11是表示观察容器的变形例的图。具体实施方式[本专利技术的实施方式的说明]首先，列举本专利技术的实施方式而进行说明。本申请的观察容器的第1方式是一种观察容器，其对包含成为拍摄装置所涉及的拍摄对象的微小粒子的样品进行收容，具有由相互交叉的第1板部及第2板部构成的底部，所述第1板部具有相互平行的平面即第1内表面和第1外表面，所述第2板部具有相互平行的平面即第2内表面和第2外表面，在所述第1板部及所述第2板部这两者中，具有针对在所述微小粒子的观察中使用的光的波长具有透光性的区域。根据上述的观察容器，能够在由相互交叉的第1板部及第2板部构成的底部，对在容器的下方滞留的微小粒子，从第1板部及第2板部的外侧通过拍摄装置进行拍摄。因此，能够从多个方向高精度地对微小粒子的形状进行拍摄。另外，所述第1板部及所述第2板部能够设为配置为彼此正交的方式。如上所述，在配置为彼此正交的情况下，能够适当地对用于掌握微小粒子的立体形状的像进行拍摄。另外，本申请的观察容器的第2方式是一种观察容器，其对包含成为拍摄装置所涉及的拍摄对象的微小粒子的样品进行收容，具有由相互交叉的第1板部及第2板部构成的底部，所述第1板部具有第1内表面和由平面构成的第1外表面，所述第2板部具有第2内表面和由平面构成的第2外表面，所述第1外表面和所述第2外表面的相交线以直线状延伸，在相对于所述第1外表面和所述第2外表面的相交线垂直的剖面中，所述第1内表面和所述第1外表面相互平行，并且所述第2内表面和所述第2外表面相互平行，所述第1板部的厚度及所述第2板部的厚度各自沿所述第1外表面和所述第2外表面的相交线变化，所述第1内表面和所述第2内表面的相交线在所述底部的中央部接近所述第1外表面和所述第2外表面的相交线，并且其曲率半径为1mm～10mm，在所述第1板部及所述第2板部这两者中，具有针对在所述微小粒子的观察中使用的光的波长具有透光性的区域。根据上述的观察容器，能够在由相互交叉的第1板部及第2板部构成的底部，对在容器的下方滞留的微小粒子，从第1板部及第2板部的外侧通过拍摄装置进行拍摄。因此，能够从多个方向高精度地拍摄微小粒子的形状。并且，根据上述的观察容器，第1内表面和第2内表面的相交线在中央部向所述第1外表面和所述第2外表面的相交线接近，并且其曲率半径成为1mm～10mm。通过设为如上所述的结构，从而微小粒子容易滞留于第1内表面和第2内表面的相交线的中央部附近，能够更容易地进行微小粒子的拍摄。具有所述透光性的区域能够设为使350nm～2000nm的波段的光透过的方式。如上所述，如果设为使350nm～2000nm的波段的光透过的方式，则能够进行使用该波段的光进行的拍摄。上述的波段的光也适合于微小粒子的内部构造等的更详细的分析，因此能够将该观察容器用于微小粒子所涉及的更详细的分析。本申请的微小粒子测量装置具有：上述的观察容器；光源部，其对所述样品照射测定光；以及多个拍摄部，它们在所述观察容器的所述第1板部及所述第2板部各自的外侧，对由从所述光源部照射的测定光产生的所述微小粒子的像进行拍摄，所述观察容器中的处于由所述拍摄部受光的光的光路上的区域，针对在所述微小粒子的观察中使用的光的波长具有透光性。根据上述的微小粒子测量装置，能够在由相互交叉的第1板部及第2板部构成的底部，对在观察容器的下方滞留的微小粒子，从第1板部及第2板部的外侧通过拍摄装置进行拍摄。因此，能够从多个方向高精度地拍摄微小粒子的形状。另外，能够设为下述方式，即，所述拍摄部设置于所述受光的光的光轴与在所述拍摄部前设置的所述第1板部或所述第2板部正交的位置。拍摄部设置在与第1板部或第2板部正交的位置，由此能够防止由拍摄部对第1板部或第2板部处的反射光、折射光等进行受光。另外，能够设为下述方式，即，从所述光源部照射的光包含350nm～2000nm的波段的一部分。如果设为使350nm～2000nm的波段的光透过的方式，则能够进行使用该波段的光进行的拍摄。上述的波段的光也适于微小粒子的内部构造等的更详细的分析，因此能够将该观察容器用于微小粒子所涉及的更详细的分析。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种观察容器，其对包含成为拍摄装置所涉及的拍摄对象的微小粒子的样品进行收容，具有由相互交叉的第1板部及第2板部构成的底部，/n所述第1板部具有相互平行的平面即第1内表面和第1外表面，/n所述第2板部具有相互平行的平面即第2内表面和第2外表面，/n在所述第1板部及所述第2板部这两者中，具有针对在所述微小粒子的观察中使用的光的波长具有透光性的区域。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170529 JP 2017-1057951.一种观察容器，其对包含成为拍摄装置所涉及的拍摄对象的微小粒子的样品进行收容，具有由相互交叉的第1板部及第2板部构成的底部，
所述第1板部具有相互平行的平面即第1内表面和第1外表面，
所述第2板部具有相互平行的平面即第2内表面和第2外表面，
在所述第1板部及所述第2板部这两者中，具有针对在所述微小粒子的观察中使用的光的波长具有透光性的区域。


2.根据权利要求1所述的观察容器，其中，
所述第1板部及所述第2板部配置为彼此正交。


3.根据权利要求1或2所述的观察容器，其中，
具有所述透光性的区域使350nm～2000nm的波段的光透过。


4.一种观察容器，其对包含成为拍摄装置所涉及的拍摄对象的微小粒子的样品进行收容，具有由相互交叉的第1板部及第2板部构成的底部，
所述第1板部具有第1内表面和由平面构成的第1外表面，
所述第2板部具有第2内表面和由平面构成的第2外表面，
所述第1外表面和所述第2外表面的相交线以直线状延伸，
在相对于所述第1外表面和所述第2外表面的相交线垂直的剖面中，所述第1内表面和所述第1外表面相互平行，并且所述第2内表面和所述第2外表面相互平行，
所述第1板部的厚度及所述第2板部的厚度各自沿所述第1外表面和所述第2外表面的相交线变化，
所述第1内表面和所述第2内表面的相交线在所述底部的中央部接近所述第1外表面和所述第2外表面的相交线，并且其曲率半径为1mm～10mm，
在所述第1板部及所述第2板部这两者中，具有针对在所述微小粒子的观察中使用的光的波长具有透光性的区域。


5.根据权利要求4所述的观察容器，其中，
具有所述透光性的区域使350nm～2000nm的波段的光透过。


6....

【专利技术属性】
技术研发人员：木村彰纪，本村麻子，杉山阳子，菅沼宽，
申请(专利权)人：住友电气工业株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP