【技术实现步骤摘要】
超声波影像系统
本专利技术涉及超声波影像系统。
技术介绍
超声波影像系统使用超声波影像装置,将多层构造的半导体等被检体载置到试样载置台而浸渍到在水槽等液体存积槽中积蓄的作为超声波的传播介质的液状物质,从设置于超声波影像装置的探测器对该被检体照射超声波,接收其反射波或者透射波而使对象界面影像化。该探测器一边对该被检体照射超声波,一边以预定的速度在X轴方向上从该被检体的始点(一方端点)扫描至终点(另一方端点)。在探测器到达终点后,使探测器在Y轴方向上移动预定量,在X轴方向上以预定的速度在相反方向上从始点扫描至终点。在使该探测器扫描时,产生泡、产生波动。在专利文献1中,公开了“一种超声波检查装置,具备:超声波探测器,对被检体经由水放射超声波并接收其反射波;以及扫描仪,使该超声波探测器在预定轴方向上移动来进行超声波扫描,其特征在于,设置有:水位检测器,检测水的水平面;运算单元,根据该水位检测器的检测值和超声波探测器的位置,运算探测器的淹没量;存储部,存储利用扫描仪的移动速度和淹没量的关系;以及水平面调整单元,调整水的水平面,以使在移动速度被决定时由运算单元得到的淹没量与从存储部得到的淹没量一致”。现有技术文献专利文献1:日本特开平8-136518号公报
技术实现思路
在所述专利文献1中,在该探测器的移动速度是低速时有效果,但随着成为高速,需要进一步的波动对策。在探测器在X轴方向上扫描时,其移动速度虽然还基于被检体的大小,但达到2000mm/秒(基于申请人的产品)。该 ...
【技术保护点】
1.一种超声波影像系统,其特征在于,/n具备超声波影像装置和水槽,/n在所述水槽的X轴方向的端部配设有反射波衰减单元,该反射波衰减单元能够使与X轴方向的两侧内壁面的空隙位置变化地配设,使在所述超声波影像装置的探测器扫描的情况下产生的作为超声波的传播介质的液状物质的波在所述端部处的反射波衰减,/n所述反射波衰减单元包括方形形状且板状的基体和配设于该基体的单面的多个突起物,所述突起物朝向所述探测器侧配设,/n在所述水槽的端部配设有空隙位置变更单元,该空隙位置变更单元具有使与X轴方向的两侧内壁面的空隙位置变化地配设所述反射波衰减单元的插入槽。/n
【技术特征摘要】
20180702 JP 2018-1258011.一种超声波影像系统,其特征在于,
具备超声波影像装置和水槽,
在所述水槽的X轴方向的端部配设有反射波衰减单元,该反射波衰减单元能够使与X轴方向的两侧内壁面的空隙位置变化地配设,使在所述超声波影像装置的探测器扫描的情况下产生的作为超声波的传播介质的液状物质的波在所述端部处的反射波衰减,
所述反射波衰减单元包括方形形状且板状的基体和配设于该基体的单面的多个突起物,所述突起物朝向所述探测器侧配设,
在所述水槽的端部配设有空隙位置变更单元,该空隙位置变更单元具有使与X轴方向的两侧内壁面的空隙位置变化地配设所述反射波衰减单元的插入槽。
2.一种超声波影像系统,其特征在于,
具备超声波影像装置和水槽,
在所述水槽的X轴方向的端部配设有反射波衰减单元,该反射波衰减单元能够使与X轴方向的两侧内壁面的空隙位置变化地配设,使在所述超声波影像装置的探测器扫描的情况下产生的作为超声波的传播介质的液状物质的波在所述端部处的反射波衰减,
所述反射波衰减单元包括方形形状且板状的基体和配设于该基体的单面的多个突起物,在所述基体中具有成为流路的多个开口,
所述突起物朝向所述水槽的端部侧配设,
在所述水槽的端部配设有空隙位置变更单元,该空隙位置变更单元具有使与X轴方向的两侧内壁面的空隙位置变化地配设所述反射波衰减单元的插入槽。
3.根据权利要求1或者2所述的超声波影像系统,其特征在于,
在所述探测器在X轴方向上扫描1行线的量之后在Y轴方向上在扫描位置扫描的情况下,在所述反射波衰减单元中,所述突起物中的至少一个比作为影像取得对象的被检体在Y轴方向的始点位置处于更外侧,所述突起物中的至少一个比所述被检体在Y轴方向的终点位置处于更外侧。
4.根据权利要求3所述的超声波影像系统,其特征在于,
在所述反射波衰减单元中,在铅直方向上,所述突起物中的至少一个比所述水槽内的液状物质的表面处于更上侧的高度位置。
5.根据权利要求3所述的超声波影像系统,其特征在于,
在所述反射波衰减单元中,
在所述超声波影像装置的测定模式是反射法时,在铅直方向上,所述突起物中的至少一个比被检体的载置台的下侧表面处于更下侧的高度位置,
在所述超声波影像装置的测定模式是透射法时,在铅直方向上,所述突起物中的至少一个比下侧探测器部的下端部处于更下侧的高度位置。
6.根据权利要求4所述的超声波影像系统,其特征在于,
在所述反射波衰减单元中,
在所述超声波影像装置的测定模式是反射法时,在铅直方向上,所述突起物中的至少一个比被检体的载置台的下侧表面处于更下侧的高度位置,
在所述超声波影像装置的测定模式是透射法时,在铅直方向上,所述突起物中的至少一个比下侧探测器部的下端部处于更下侧的高度位置。
7.根据权利要求1或者2所述的超声波影像系统,其特征在于,
所述超声波影像系统具有将所述探测器在X轴方向上扫描1行线的量之后在Y轴方向上在扫描位置扫描的扫描仪,
在Y轴方向上,所述反射波衰减单元的一方端边至少比作为影像取...
【专利技术属性】
技术研发人员:富田隆,北见薰,菅谷夏树,伊藤正一,
申请(专利权)人:株式会社日立电力解决方案,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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