一种探测弧面板逐层分布式探测方法技术

本发明专利技术提供一种探测弧面板逐层分布式探测方法，涉及探测测绘技术领域，包括以下步骤S1：获取至少一个半球型探测弧面板，保证所有半球型探测弧面板的半径值呈等差数列排列；S2：在所有半球型探测弧面板的内侧面放置探测单元；S3：对半球型探测弧面板依次进行编号；S4：将所有半球型探测弧面板的底端中心点重叠放置至转向板上；S5：调节转向板，对准探测目标；S6：获取每一个半球型探测弧面板的探测数据差值，分析得到探测结果。本发明专利技术一种探测弧面板逐层分布式探测方法，调节方便，通过逐层弧面板相互遮蔽，相邻两片遮蔽区域差值相同，消除干扰值，对准探测目标获取探测目标信息，探测精确度高。

A layer by layer distributed detection method for detecting arc panel

【技术实现步骤摘要】
一种探测弧面板逐层分布式探测方法
本专利技术涉及探测测绘
，尤其是，本专利技术涉及一种探测弧面板逐层分布式探测方法。
技术介绍
随着遥感测绘技术发展，高空间分辨率遥感影像成为精准农业、目标识别、灾害评估、变化监测等应用的主要数据源。实际应用中，需要将采集到的高速实时数据，如高分辨率图像数据实时地记录下来以便事后处理。但是远距离的图像测绘时往往一个探测装置一次测量得到的结果会导致数据误差大的情况发生，往往会使用多个探测装置进行同时探测，或者一个探测装置多次调整位置获取多次测量的结果，然后将多次测量的数据进行整合分析，保证得出准确的目标物测绘数据。但是在远距离的测绘工作上，探测头轻微调节很小的距离，就可能探测角度偏差较大甚至丢失目标，为了保证探测的精确度，探测头需要实时的调节对准目标，且调节十分微小，调节距离一般仅仅为0.01mm至5cm，调节精度要求高，同时可以准确探测目标信息，可以通过部分遮蔽法进行逐层探测，准确对准目标，获取目标测绘信息。所以，如何设计一种合理的探测弧面板逐层分布式探测方法，成为我们当前急本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种探测弧面板逐层分布式探测方法，其特征在于，包括以下步骤：/nS1：获取至少一个半球型探测弧面板，保证所有半球型探测弧面板的半径值呈等差数列排列；/nS2：在所有半球型探测弧面板的内侧面放置探测单元；/nS3：对半球型探测弧面板依次进行编号；/nS4：将所有半球型探测弧面板的底端中心点重叠放置至转向板上；/nS5：调节转向板，对准探测目标；/nS6：获取每一个半球型探测弧面板的探测数据差值，分析得到探测结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种探测弧面板逐层分布式探测方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1：获取至少一个半球型探测弧面板，保证所有半球型探测弧面板的半径值呈等差数列排列；
S2：在所有半球型探测弧面板的内侧面放置探测单元；
S3：对半球型探测弧面板依次进行编号；
S4：将所有半球型探测弧面板的底端中心点重叠放置至转向板上；
S5：调节转向板，对准探测目标；
S6：获取每一个半球型探测弧面板的探测数据差值，分析得到探测结果。


2.根据权利要求1所述的一种探测弧面板逐层分布式探测方法，其特征在于：
执行步骤S1时，半球型探测弧面板的数量至少为3个。


3.根据权利要求1所述的一种探测弧面板逐层分布式探测方法，其特征在于：
执行步骤S1时，所有半球型探测弧面板的展开角度相同。


4.根据权利要求1所述的一种探测弧面板逐层分布式探测方法，其特征在于：
执行步骤S2时，探测单元表面与半球型探测弧面板的内侧面平行设置。


5.根据权利要求1所述的一种探测弧面板逐层分布式探测方法，其特征在于：

【专利技术属性】
技术研发人员：安庆，柳立生，欧阳玉华，王金玲，
申请(专利权)人：武昌理工学院，
类型：发明
国别省市：湖北;42