一种结构形变检测传感器及检测系统与检测方法技术方案

本发明专利技术涉及一种结构形变检测传感器及检测系统与检测方法，属于结构形变检测领域。本结构形变检测传感器，包括：第一固定座，所述第一固定座上设有第一介质基板，所述第一介质基板的一端设有第一微带电路；第二固定座，所述第二固定座与所述第一固定座平行设置，所述第二固定座上设有第二介质基板，所述第二介质基板的一端设有第二微带电路，所述第二微带电路朝向所述第一微带电路，所述第一微带电路与所述第二微带电路之间留有互感耦合缝隙。本结构形变检测传感器的效果是能够简单方便快速的检测结构微小形变，检测准确度高，检测成本低，消耗的能源低，同时利于进行检测操作。

A structure deformation detection sensor and detection system and detection method

【技术实现步骤摘要】
一种结构形变检测传感器及检测系统与检测方法
本专利技术属于结构形变检测领域，具体涉及一种结构形变检测传感器及检测系统与检测方法。
技术介绍
结构形变是指结构变形或结构松动后，结构内部造成相对位移。一般而言，随着相对位移的发生，结构内部会不断积累应力造成最终受损。因此及时监控结构的形变信息对预防结构失效至关重要，对于确保其结构的可靠性和安全性至关重要。目前国内已经报道了用激光位移传感器等技术来监测结构的微小位移。但这种监测方法线路复杂、成本较高。与此同时，建筑等的发展引申出的各种结构变化丰富，给结构形变监测提出了高难度复杂的要求。因此迫切需要一种简单、低成本、高准确度的传感器对结构形变进行检测。
技术实现思路
本专利技术为了解决上述技术问题提供一种结构形变检测传感器及检测系统与检测方法，能够简单方便快速的检测结构微小形变，检测准确度高，检测成本低，消耗的能源低，同时利于进行检测操作。本专利技术解决上述技术问题的技术方案如下：一种结构形变检测传感器，包括：第一固定座，所述第一固定座上设有第一介质基板，所述第一介质本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种结构形变检测传感器，其特征在于，包括：/n第一固定座(1)，所述第一固定座(1)上设有第一介质基板(3)，所述第一介质基板(3)的一端设有第一微带电路(4)；/n第二固定座(5)，所述第二固定座(5)与所述第一固定座(1)平行设置，所述第二固定座(5)上设有第二介质基板(6)，所述第二介质基板(6)的一端设有第二微带电路(7)，所述第二微带电路(7)朝向所述第一微带电路(4)，所述第一微带电路(4)与所述第二微带电路(7)之间留有互感耦合缝隙。/n

【技术特征摘要】
1.一种结构形变检测传感器，其特征在于，包括：
第一固定座(1)，所述第一固定座(1)上设有第一介质基板(3)，所述第一介质基板(3)的一端设有第一微带电路(4)；
第二固定座(5)，所述第二固定座(5)与所述第一固定座(1)平行设置，所述第二固定座(5)上设有第二介质基板(6)，所述第二介质基板(6)的一端设有第二微带电路(7)，所述第二微带电路(7)朝向所述第一微带电路(4)，所述第一微带电路(4)与所述第二微带电路(7)之间留有互感耦合缝隙。


2.根据权利要求1所述的结构形变检测传感器，其特征在于，所述第一固定座(1)内设有第一内腔(8)，所述第一固定座(1)的一侧边设有第一开口(2)，所述第一开口(2)与所述第一内腔(8)连通，所述第一介质基板(3)设在所述第一内腔(8)中，所述第一介质基板(3)设有所述第一微带电路(4)的一端从所述第一开口(2)伸出所述第一固定座(1)。


3.根据权利要求1所述的结构形变检测传感器，其特征在于，所述第二固定座(5)内设有第二内腔(9)，所述第二固定座(5)的一侧边设有第二开口(10)，所述第二开口(10)与所述第二内腔(9)连通，所述第二介质基板(6)设在所述第二内腔(9)中，所述第二介质基板(6)设有所述第二微带电路(7)的一端从所述第二开口(10)伸出所述第二固定座(5)。


4.根据权利要求1所述的结构形变检测传感器，其特征在于，所述第一微带电路(4)包括多个第一矩形凹槽(11)，多个所述第一矩形凹槽(11)成阵列排布，每个所述第一矩形凹槽(11)中均设有相对设置的两个第一金属条(12)，两个所述第一金属条(12)弯折设在对应所述第一矩形凹槽(11)内，两个所述第一金属条(12)与对应所述第一矩形凹槽(11)的内壁固定连接。


5.根据权利要求1所述的结构形变检测传感器，其特征在于，所述第二微带电路(7)包括多个第二矩形凹槽，...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡明哲，李立，霍玲玲，
申请(专利权)人：贵州民族大学，
类型：发明
国别省市：贵州;52