高速、覆盖区小的X射线断层摄影检查系统、设备和方法技术方案

本主题涉及用于物体的X射线检查的检查系统、设备和方法。传送机可以沿行进方向移动待被检查的物体通过检查区；一个或多个多射束X射线源阵列可以提供多个准直的X射线束沿大致垂直于行进方向的方向通过检查区；以及一个或多个X射线检测器阵列可以检测从X射线源阵列通过检查区的X射线束。可以记录由X射线检测器阵列所检测的X射线信号以形成物体的多个X射线投影图像，且可以将多个X射线投影图像处理成物体的三维断层摄影图像。

【技术实现步骤摘要】
高速、覆盖区小的X射线断层摄影检查系统、设备和方法本申请是申请号为201280057024X、申请日为2012年11月21日、专利技术名称为“高速、覆盖区小的X射线断层摄影检查系统、设备和方法”的专利申请的分案申请。相关申请的交叉引用本申请要求提交于2011年11月22日、序列号为61/629,612的美国临时专利申请的权益和优先权，其全部公开内容通过引用合并于此。政府利益本专利技术所公开主题的某些方案是依据DHS科学与技术理事会合同HSHQDC-09-C-00169得到美国政府的支持而开发的。因而，美国政府对本专利技术所公开的主题享有一定的权利。
本文所公开的主题一般涉及X射线成像。更具体地，本文所公开的主题涉及X射线检查系统，设备和方法。
技术介绍
乘坐商用飞机在美国和其他国家旅行的旅客在机场都必须经过安全检查。所有与旅客一起旅行的行李也要检查。旅客行李区分为两种类型：总是和旅客在一起的随身携带的行李，和由航空公司处理的托运行李。为了努力限制旅客进入机场候机大楼所需要的时间，对于随身携带的行李，要尽可本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种小覆盖区且轻型的检查系统，其包括：/n传送机，其被配置为沿行进方向移动待被检查的物体通过检查区；/n两个或多个线性多射束X射线源阵列，其以非圆形几何形状布置在沿所述行进方向以预定距离隔开的平行成像平面内，该两个或多个X射线源阵列中的每一个包括多个单独的X射线焦斑，每个单独的X射线焦斑与场致发射阴极相关，该两个或多个X射线源阵列能操作以提供多个准直的X射线束沿大致垂直于所述行进方向的方向通过所述检查区；/n一个或多个X射线检测器阵列，其被配置为检测从所述X射线源阵列通过所述检查区的X射线束；/n电子控制器，其能操作以：根据预编程的模式而电子地启动和关闭来自所述X射线源阵列的各X射线束，以...

【技术特征摘要】
20111122 US 61/629,6121.一种小覆盖区且轻型的检查系统，其包括：
传送机，其被配置为沿行进方向移动待被检查的物体通过检查区；
两个或多个线性多射束X射线源阵列，其以非圆形几何形状布置在沿所述行进方向以预定距离隔开的平行成像平面内，该两个或多个X射线源阵列中的每一个包括多个单独的X射线焦斑，每个单独的X射线焦斑与场致发射阴极相关，该两个或多个X射线源阵列能操作以提供多个准直的X射线束沿大致垂直于所述行进方向的方向通过所述检查区；
一个或多个X射线检测器阵列，其被配置为检测从所述X射线源阵列通过所述检查区的X射线束；
电子控制器，其能操作以：根据预编程的模式而电子地启动和关闭来自所述X射线源阵列的各X射线束，以监控所述两个或多个线性多射束X射线源阵列的状态，以及调节所述各X射线束；
信号处理单元，其能操作以记录通过所述X射线检测器阵列所检测到的对应的X射线信号并形成所述物体的多个X射线投影图像；以及
数据处理单元，其能操作以用于将所述多个X射线投影图像处理成所述物体的三维断层摄影图像，
其中，所述两个或多个线性多射束X射线源阵列中的至少两个X射线源阵列布置在所述检查区的上方，并且相对于彼此间隔开；并且
其中，所述两个或多个线性多射束X射线源阵列中的至少两个另外的X射线源阵列布置在所述检查区的一侧，其中，两个另外的X射线源阵列中的至少一个比所述两个另外的X射线源阵列中的另一个X射线源阵列更靠近传送机安置，并且其中所述至少两个另外的X射线源阵列中的每一个相对于彼此间隔开。


2.根据权利要求1所述的检查系统，其中，所述检查区包括所述传送机通过的通道。


3.根据权利要求1所述的检查系统，其中，所述两个或多个多射束X射线源阵列分别被配置为生成多个准直的X射线扇形射束。


4.根据权利要求1所述的检查系统，其中，所述两个或多个多射束X射线源阵列分别被配置为生成多个准直的X射线锥形射束。


5.根据权利要求1所述的检查系统，其中，所述两个或多个多射束X射线源阵列中的每一个都包括多个场致发射电子源。


6.根据权利要求5所述的检查系统，其中，所述多个场致发射电子源中的每一个都包括碳纳米管场致发射电子源。


7.根据权利要求1所述的检查系统，其中，所述两个或多个多射束X射线源阵列中的每一个都包括介于大约5和100之间的各X射线生成源元件。


8.根据权利要求1所述的检查系统，其中，所述两个或多个X射线源阵列包括：第一X射线源阵列，其能操作以生成相对较低能量的X射线束；和第二X射线源阵列，其能操作以生成相对较高能量的X射线束。


9.根据权利要求1所述的检查系统，其中，所述两个或多个多射束X射线源阵列中的其中一个和所述一个或多个X射线检测器阵列中的对应一个定位在至少大致相同的平面上。


10.根据权利要求1所述的检查系统，其中，所述两个或多个多射束X射线源阵列包括至少一个第一多射束X射线源阵列和至少一个第二多射束X射线源阵列，以及

【专利技术属性】
技术研发人员：莫里茨·贝克曼，弗兰克·施普伦格，程远，卢健平，德尔克·斯普隆克，乔治·扎鲁尔，周子刚，
申请(专利权)人：新锐系统有限责任公司，
类型：发明
国别省市：美国;US