一种激子极化激元载体的系统损耗参数检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种激子极化激元载体的系统损耗参数检测装置。它主要包括涡旋和泵浦光制备、载体自发辐射信号采集与图像分析终端两部分，前者主要包含激光器、空间光调制器和可调衰减器，后者主要包括采集光路和图像分析终端。首先，激光器产生高斯光束，经空间光调制器制备轨道角动量分别为±l的涡旋光，同时制备受可调衰减器控制光强的泵浦光；随后，涡旋光与泵浦光同时照射到载体表面；然后，利用电荷耦合传感器相机采集载体受激自发辐射干涉图样光信号；最后，利用图像信号处理终端判别干涉图样的稳定区间，通过区间对应的泵浦光强度计算出载体的系统损耗参数。本装置结构简单，操作方便，开辟了一种激子极化激元载体的系统损耗实验测量新方法。

A device for measuring system loss parameters of exciton polariton carrier

【技术实现步骤摘要】
一种激子极化激元载体的系统损耗参数检测装置
本专利技术主要涉及凝聚态、光电、信号处理领域，尤其是波粒涡旋叠加态的形成、光束的相位调制、自发辐射图像检测等技术方法。技术背景波色爱因斯坦凝聚体(Bose–Einsteincondensate，BEC)是上世纪20年代由波色和爱因斯坦提出的气体凝聚态，1995年康奈尔和威曼及其助手在天体物理实验室联合研究所成功实现真正的BEC。近年来人们发现半导体微腔中的激子极化激元系统能够在常温下实现BEC，这一发现极大地激发了人们对半导体微腔激子极化激元的研究热情，其常温超流特性展现出巨大的科研与应用价值。当前世界范围内对半导体微腔中激子极化激元的研究主要集中于的光子-激子耦合、激子极化激元自发辐射、激子极化激元演化特性三个方面。由于半导体微腔材料中激子极化激元体系是非厄米的耗散系统，故以上三方面的理论和实验研究，都必须明确半导体材料本身的损耗系数。然而，目前还缺少直接、简便的损耗系数测量方法和测量设备。
技术实现思路
本专利技术的技术解决问题是：针对当前具有半导体微腔结构的激子极化激元载本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.本专利技术涉及一种激子极化激元载体的系统损耗参数检测装置，它包括：激光器1(1)、水平偏振片(2)、扩束透镜组(3)、分光镜1(4)、空间光调制器SLM1(5)、空间光调制器SLM2(6)、平面反射镜1(7)、平面反射镜2(8)、分光镜2(9)、分光镜3(10)、激光器2(11)、可控衰减器(12)、平面反射镜3(13)、准直透镜组1(14)、分光镜4(15)、物镜(16)、样品仓(17)、准直透镜组2(18)、聚焦空间滤波器(19)、电荷耦合传感器相机(20)、图像处理终端(21)。/n

【技术特征摘要】
1.本发明涉及一种激子极化激元载体的系统损耗参数检测装置，它包括：激光器1(1)、水平偏振片(2)、扩束透镜组(3)、分光镜1(4)、空间光调制器SLM1(5)、空间光调制器SLM2(6)、平面反射镜1(7)、平面反射镜2(8)、分光镜2(9)、分光镜3(10)、激光器2(11)、可控衰减器(12)、平面反射镜3(13)、准直透镜组1(14)、分光镜4(15)、物镜(16)、样品仓(17)、准直透镜组2(18)、聚焦空间滤波器(19)、电荷耦合传感器相机(20)、图像处理终端(21)。


2.根据权利要求1的一种激子极化激元载体的系统损耗参数检测装置，其特征是利用空间光调制器产生两束拓扑荷数互为相反...

【专利技术属性】
技术研发人员：任元，吴昊，刘通，高廷阁，傅百恒，王元钦，丁友，
申请(专利权)人：中国人民解放军战略支援部队航天工程大学，
类型：发明
国别省市：北京;11