一种便于校准的磁芯制造技术

技术编号:22962166 阅读:17 留言:0更新日期:2019-12-27 21:18
本实用新型专利技术涉及磁芯技术领域,且公开了一种便于校准的磁芯,包括两个半ET磁芯,两个所述半ET磁芯均由中柱与两个支柱一体成型固定连接组成。该实用新型专利技术,通过将右侧半ET磁芯的中柱对准右侧中柱,将定位块放置定位槽内,通过转动一侧的半ET磁芯,使得支柱上的第一卡合块滑入第一卡合槽内,第二卡合块滑入第二卡合槽内,从而将两个半ET磁芯组合成整体,通过第一卡合块与第一卡合槽的配合及第二卡合块与第二卡合槽的配合对两个半ET磁芯之间的位置进行限制,方便在对接半ET磁芯时,两个半ET磁芯之间不发生偏移,保证两个半ET磁芯的校准,避免产生错位导致对磁回路造成不良影响,保证了分离式磁芯的正常使用。

An easy to calibrate core

【技术实现步骤摘要】
一种便于校准的磁芯
本技术涉及磁芯
,具体为一种便于校准的磁芯。
技术介绍
在多种电器中,为了满足电磁兼容的要求,会在直流侧和交流侧安装磁芯,例如在电动汽车中,控制器是其关键部件,为了满足电磁兼容的要求,直流侧和交流侧设置有磁芯,并且磁芯大多采用可分离式磁芯。可分离式磁芯目前普遍采用两种固定方法,一种是采用卡箍将上半部磁芯和下半部磁芯均卡入其中,然后将卡箍紧固;另外一种方式是将下半部磁芯灌胶固定,然后通过卡箍将上半部磁芯固定,然而这两种固定方式中在安装过程中上半部磁芯和下半部磁芯不容易对齐,若该种磁芯需要在振动环境下工作,那么采用上述两种方法完成安装后,容易在使用的过程中出现上半部磁芯与下半部磁芯错位的现象,这会对磁回路的性能产生影响,故而提出了一种便于校准的磁芯来解决上述问题。
技术实现思路
针对现有技术的不足,本技术提供了一种便于校准的磁芯,具备便于校准的等优点,解决了在安装过程中上半部磁芯和下半部磁芯不容易对齐,容易在使用的过程中出现上半部磁芯与下半部磁芯错位的现象,这会对磁回路的性能产生影响的问题。为实现上述便于校准的目的,本技术提供如下技术方案:一种便于校准的磁芯,包括两个半ET磁芯,两个所述半ET磁芯均由中柱与两个支柱一体成型固定连接组成,正面左侧的所述支柱的右端开设有第一卡合槽,背面左侧的所述支柱的右端开设有第二卡合槽,正面右侧的所述支柱的左端固定连接有第一卡合块,背面右侧的所述支柱的左端固定连接有第二卡合块,所述第一卡合块的左侧与第一卡合槽活动连接,所述第二卡合块的左侧与第二卡合槽活动连接,左侧的所述中柱的右端开设有定位槽,右侧的所述中柱的左端固定连接有定位块,所述定位块的左侧延伸至定位槽的内部并与定位槽的内壁接触。优选的,两个所述半ET磁芯的外侧棱边上设置有倒角。优选的,两个所述中柱的顶部均开设有对应配合的第一校准槽,正面的两个所述支柱的正面均开设有对应配合的第二校准槽。优选的,所述第一卡合槽与第一卡合块均由上至下宽度逐渐减小,所述第二卡合槽与第二卡合块均由下至上宽度逐渐减小。优选的,所述定位槽与定位块均呈弧形。与现有技术相比,本技术提供了一种便于校准的磁芯,具备以下有益效果:1、该便于校准的磁芯,通过将右侧半ET磁芯的中柱对准右侧中柱,将定位块放置定位槽内,通过转动一侧的半ET磁芯,使得支柱上的第一卡合块滑入第一卡合槽内,第二卡合块滑入第二卡合槽内,从而将两个半ET磁芯组合成整体,通过第一卡合块与第一卡合槽的配合及第二卡合块与第二卡合槽的配合对两个半ET磁芯之间的位置进行限制,方便在对接半ET磁芯时,两个半ET磁芯之间不发生偏移,保证两个半ET磁芯的校准,避免产生错位导致对磁回路造成不良影响,保证了分离式磁芯的正常使用。2、该便于校准的磁芯,通过半ET磁芯外侧设置的倒角减少了半ET磁芯的棱角尖锐程度,有效的保护套接在半ET磁芯上的导线,减少对导线的损耗。3、该便于校准的磁芯,通过对半ET磁芯的对接,观察两个第一校准槽之间拼接处的形状判断水平方向是否对准,利用两个第二校准槽之间拼接处的形状判断竖直方向是否对准,进一步确保了半ET磁芯的对接时不会发生偏移,让半ET磁芯的拼接效果更好。4、该便于校准的磁芯,由于第一卡合槽与第一卡合块均由上至下宽度逐渐减小且第二卡合槽与第二卡合块均由下至上宽度逐渐减小,保证转动半ET磁芯时,不会转动过位导致错位,且让第一卡合槽与第一卡合块的接触和第二卡合槽与第二卡合块的接触更加紧密,保证了结构的稳定性。5、该便于校准的磁芯,通过弧形的定位块与弧形的定位槽方便两个半ET磁芯之间进行转动,同时在对接两个半ET磁芯,弧形的定位块更容易插入弧形的定位槽的内部,对两个半ET磁芯也起到一定的限位效果。附图说明图1为本技术结构示意图;图2为本技术立体结构示意图;图3为本技术左侧半ET磁芯的右视结构示意图;图4为本技术右侧半ET磁芯的左视结构示意图。图中:1、半ET磁芯;2、中柱;3、支柱;4、第一卡合槽;5、第二卡合槽;6、第一卡合块;7、第二卡合块;8、定位槽;9、定位块;10、第一校准槽;11、第二校准槽。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。请参阅图1-4,一种便于校准的磁芯,包括两个半ET磁芯1,两个半ET磁芯1均由中柱2与两个支柱3一体成型固定连接组成,正面左侧的支柱3的右端开设有第一卡合槽4,背面左侧的支柱3的右端开设有第二卡合槽5,正面右侧的支柱3的左端固定连接有第一卡合块6,背面右侧的支柱3的左端固定连接有第二卡合块7,第一卡合块6的左侧与第一卡合槽4活动连接,第二卡合块7的左侧与第二卡合槽5活动连接,左侧的中柱2的右端开设有定位槽8,右侧的中柱2的左端固定连接有定位块9,定位块9的左侧延伸至定位槽8的内部并与定位槽8的内壁接触,通过将右侧半ET磁芯1的中柱2对准右侧中柱2,将定位块9放置定位槽8内,通过转动一侧的半ET磁芯1,使得支柱3上的第一卡合块6滑入第一卡合槽4内,第二卡合块7滑入第二卡合槽5内,从而将两个半ET磁芯1组合成整体,通过第一卡合块6与第一卡合槽4的配合及第二卡合块7与第二卡合槽5的配合对两个半ET磁芯1之间的位置进行限制,方便在对接半ET磁芯1时,两个半ET磁芯1之间不发生偏移,保证两个半ET磁芯1的校准,避免产生错位导致对磁回路造成不良影响,保证了分离式磁芯的正常使用。进一步的,两个半ET磁芯1的外侧棱边上设置有倒角,通过半ET磁芯1外侧设置的倒角减少了半ET磁芯1的棱角尖锐程度,有效的保护套接在半ET磁芯1上的导线,减少对导线的损耗。进一步的,两个中柱2的顶部均开设有对应配合的第一校准槽10,正面的两个支柱3的正面均开设有对应配合的第二校准槽11,通过对半ET磁芯1的对接,观察两个第一校准槽10之间拼接处的形状判断水平方向是否对准,利用两个第二校准槽11之间拼接处的形状判断竖直方向是否对准,进一步确保了半ET磁芯1的对接时不会发生偏移,让半ET磁芯1的拼接效果更好。进一步的,第一卡合槽4与第一卡合块6均由上至下宽度逐渐减小,第二卡合槽5与第二卡合块7均由下至上宽度逐渐减小,由于第一卡合槽4与第一卡合块6均由上至下宽度逐渐减小且第二卡合槽5与第二卡合块7均由下至上宽度逐渐减小,保证转动半ET磁芯1时,不会转动过位导致错位,且让第一卡合槽4与第一卡合块6的接触和第二卡合槽5与第二卡合块7的接触更加紧密,保证了结构的稳定性。进一步的,定位槽8与定位块9均呈弧形,通过弧形的定位块9与弧形的定位槽8方便两个半ET磁芯1之间进行转动,同时在对接两个半ET磁芯1,弧形本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种便于校准的磁芯,包括两个半ET磁芯(1),其特征在于:两个所述半ET磁芯(1)均由中柱(2)与两个支柱(3)一体成型固定连接组成,正面左侧的所述支柱(3)的右端开设有第一卡合槽(4),背面左侧的所述支柱(3)的右端开设有第二卡合槽(5),正面右侧的所述支柱(3)的左端固定连接有第一卡合块(6),背面右侧的所述支柱(3)的左端固定连接有第二卡合块(7),所述第一卡合块(6)的左侧与第一卡合槽(4)活动连接,所述第二卡合块(7)的左侧与第二卡合槽(5)活动连接,左侧的所述中柱(2)的右端开设有定位槽(8),右侧的所述中柱(2)的左端固定连接有定位块(9),所述定位块(9)的左侧延伸至定位槽(8)的内部并与定位槽(8)的内壁接触。/n

【技术特征摘要】
1.一种便于校准的磁芯,包括两个半ET磁芯(1),其特征在于:两个所述半ET磁芯(1)均由中柱(2)与两个支柱(3)一体成型固定连接组成,正面左侧的所述支柱(3)的右端开设有第一卡合槽(4),背面左侧的所述支柱(3)的右端开设有第二卡合槽(5),正面右侧的所述支柱(3)的左端固定连接有第一卡合块(6),背面右侧的所述支柱(3)的左端固定连接有第二卡合块(7),所述第一卡合块(6)的左侧与第一卡合槽(4)活动连接,所述第二卡合块(7)的左侧与第二卡合槽(5)活动连接,左侧的所述中柱(2)的右端开设有定位槽(8),右侧的所述中柱(2)的左端固定连接有定位块(9),所述定位块(9)的左侧延伸至定位槽(8)的内部并与定位槽(8)的内壁接触。
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【专利技术属性】
技术研发人员:常国青
申请(专利权)人:常熟市众盈电子有限公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

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