一种电子元器件的测试电路制造技术

本发明专利技术提供了一种电子元器件的测试电路，包括输入电路：所述输入电路的输入端连接外部电源，将输入电压转换为稳定的直流电压输出；时基电路：所述时基电路的输入端连接所述输入电路的输出端，输出周期性变化的高低电平；元器件检测电路：所述元器件检测电路的输入端连接所述时基电路的输出端，包括有至少一个元器件检测模块，每个元器件检测模块用于检测不同的电子元器件。本发明专利技术的电子元器件的测试电路可以方便快速的判断出万用表无法直接测量的常用电子元器件的好坏，为电子设备检修或者新元器件上机运行，提供了快速检测的方法，保障了电器设备的稳定运行。

【技术实现步骤摘要】
一种电子元器件的测试电路
本专利技术涉及电子
，尤其是涉及一种电子元器件的测试电路。
技术介绍
随着电气自动化逻辑控制程度的提高，固态继电器、电磁继电器、光电耦合器、可控硅等电子元器件在很多逻辑控制电路中都有着大量的使用，而这些元件的好坏，无法用万用表去直接准确的判断。一旦此类元器件有问题时，只能将其从线路板上焊下一一用替换法进行检修，才能找到故障位置。这既浪费时间，又有可能连锁烧毁其他元器件。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术中的不足之处而提供电子元器件的测试电路，可以方便快速的判断出常用电子元器件的好坏，为电子设备检修或者新元器件上机运行，提供了快速检测的方法。本专利技术的目的通过以下技术方案实现：一种电子元器件的测试电路，其特征在于，包括输入电路：所述输入电路的输入端连接外部电源，将输入电压转换为稳定的直流电压输出；时基电路：所述时基电路的输入端连接所述输入电路的输出端，输出周期性变化的高低电平；元器件检测电路：所述元器件检测电路的输入端连接所述时基电路的输出端，包括有至少一个元器件检测模块，每个元器件检测模块用于检测不同的电子元器件。进一步地，所述元器件检测电路包括光耦检测模块、继电器检测模块和可控硅检测模块，分别用于检测光耦的质量、继电器的质量和可控硅的质量。进一步地，所述光耦检测模块包括六引脚光耦检测模块和八引脚光耦检测模块。进一步地，所述继电器检测模块包括电磁继电器检测模块和固态继电器检测模块。进一步地，所述每个元器件检测模块都设有独立的显示装置，用于显示被测电子元器件的导通状态。进一步地，所述显示装置具体为高亮度发光二极管。进一步地，所述继电器检测模块和可控硅检测模块通过交流电检测，也可以通过直流电检测。进一步地，所述输入电路包括变压器、整流桥和稳压块；所述变压器用于将外部电压转换为测试电路所需的电压；所述整流桥的输入端连接所述变压器的副边，当输入电压为交流电时，将输入电压整流为直流电输出；所述稳压块的输入端连接所述整流桥的输出端，输出稳定的直流电。进一步地，所述时基电路包括NE555芯片和发光二极管，所述NE555芯片构成多谐振荡器，所述发光二极管连接所述NE555芯片，所述发光二极管根据所述NE55芯片的输出的高电平或低电平而发光或不发光。进一步地，当所述NE555芯片输出低电平时，所述发光二极管发光，当所述NE555芯片输出高电平时，所述发光二极管不发光。本专利技术的有益效果是：本专利技术提供了一种电子元器件的测试电路，可以方便快速的判断出万用表无法直接测量的常用电子元器件的好坏，为电子设备检修或者新元器件上机运行，提供了快速检测的方法，保障了电器设备的稳定运行。附图说明利用附图对专利技术作进一步说明，但附图中的实施例不构成对本专利技术的任何限制，对于本领域的普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据以下附图获得其它的附图。图1是本专利技术的一个实施例的电子元器件的测试电路的电路结构示意图。其中，附图标记如下：10.输入电路，20.时基电路，30.光耦检测模块，40.电磁继电器检测模块，50.可控硅检测模块和固态继电器检测模块。具体实施方式为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。如图1所示，本实施例的一种电子元器件的测试电路，包括输入电路、时基电路、光耦检测模块、电磁继电器检测模块、可控硅检测模块和固态继电器检测模块；输入电路的输入端连接外部电源，将输入电压转换为稳定的直流电压输出，为测试电路工作提供稳定的工作电压；时基电路的输入端连接输入电路的输出端，输出周期性变化的高低电平；光耦检测模块、电磁继电器检测模块、可控硅检测模块和固态继电器检测模块并联连接，输入端共同连接至时基电路的输出端。输入电路包括开关S、变压器J、二极管D1-D4构成的整流桥、电解电容C1、三端稳压块U1、电容C2、电阻R2和发光二极管V1，三端稳压块U1具体型号为7812。外部电源可以为直流电或交流电，本实施以市电为例进行说明，开关S用于控制市电的通断，220V交流电经过变压器J输出15V交流电压，然后经过D1-D4整流桥整流，电解电容C1滤波，再经过7812稳压输出+12V直流电压，作为测试电路的工作电源。时基电路包括NE555芯片、电阻R1、可调电阻RW1、电容C3、电容C4、电阻R3、发光二极管V2，NE555芯片、电阻R1、可调电阻RW1、电容C3、电容C4组成多谐振荡器，电阻R3限流，发光二极管V2显示NE555芯片输出高电平或低电平，当NE555芯片输出低电平时，发光二极管V2发光，当NE555芯片输出高电平时，发光二极管V2不发光，NE555芯片输出高电平或低电平用来控制被测器件导通和关闭。当+12V电源供给NE555时，由于电容C3上的电压不能突变，即NE555的②、⑥脚为低电平，则③脚输出高电平；+12V电源经R1、RW向电容C3充电，当NE555的②、⑥脚电位达到电源电压三分之二时，NE555的③脚输出电平由高变低，工作指示灯V2导通发光；与此同时，NE555的⑦脚内部放电管导通，C3开始放电，当C3两端电压降至电源电压的三分之一时，NE555的③脚输出又变为高电平，NE555芯片从而输出周期性变化的高低电平。光耦检测模块包括六引脚光耦检测模块和八引脚光耦检测模块，其中，六引脚光耦检测模块包括六引脚光耦4N25、电阻R4、电阻R5和发光二极管V3，八引脚光耦检测模块包括八引脚光耦2GO3D、电阻R6、电阻R7、电阻R8、电阻R9、发光二极管V4和发光二极管V5。六引脚光耦4N25的测试方法：光耦4N25有6个脚，①、②脚是输入端（①接正②接地），④脚和⑤脚是输出端（④脚接地、⑤脚接高电位），测量时将光耦4N25插到相应的管脚上，接通电源开关S，电源指示发光二极管V1发光；进入工作状态。正常情况下，NE555芯片输出低电平时，发光二极管V2发光，光耦4N25输入电路导通，发光二极管V3发光；NE555芯片输出高电平时，光耦4N25输入电路截止，发光二极管V3不发光，NE555芯片输出周期性变化的高低电平时，发光二极管V3和发光二极管V2以相同的频率闪烁。发光二极管V3常亮或常灭则表明则表明光耦4N25损坏。测其它的六引脚光耦4N35、4N36、TIL117等也可用通过六引脚光耦检测模块进行检查。八引脚光耦2GO3D的测试方法：光耦2GO3D有8个脚，是两个光耦和器件，①②脚和③④脚分别是两组输入端，⑧⑦脚和⑤⑥脚分别是两组输出端（②、⑦、④、⑤接地端，①、⑧、③、⑥接正电压端）。光耦2GO3D插上后，正本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子元器件的测试电路，其特征在于，包括/n输入电路：所述输入电路的输入端连接外部电源，将输入电压转换为稳定的直流电压输出；/n时基电路：所述时基电路的输入端连接所述输入电路的输出端，输出周期性变化的高低电平；/n元器件检测电路：所述元器件检测电路的输入端连接所述时基电路的输出端，包括有至少一个元器件检测模块，每个元器件检测模块用于检测不同的电子元器件。/n

【技术特征摘要】
1.一种电子元器件的测试电路，其特征在于，包括
输入电路：所述输入电路的输入端连接外部电源，将输入电压转换为稳定的直流电压输出；
时基电路：所述时基电路的输入端连接所述输入电路的输出端，输出周期性变化的高低电平；
元器件检测电路：所述元器件检测电路的输入端连接所述时基电路的输出端，包括有至少一个元器件检测模块，每个元器件检测模块用于检测不同的电子元器件。


2.如权利要求1所述的一种电子元器件的测试电路，其特征在于，所述元器件检测电路包括光耦检测模块、继电器检测模块和可控硅检测模块，分别用于检测光耦的质量、继电器的质量和可控硅的质量。


3.如权利要求2所述的一种电子元器件的测试电路，其特征在于，所述光耦检测模块包括六引脚光耦检测模块和八引脚光耦检测模块。


4.如权利要求2所述的一种电子元器件的测试电路，其特征在于，所述继电器检测模块包括电磁继电器检测模块和固态继电器检测模块。


5.如权利要求1所述的一种电子元器件的测试电路，其特征在于，所述每个元器件检测模块都设有独立的显示装置，用于显示被测电子元器件的导通状态。

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【专利技术属性】
技术研发人员：李猛，
申请(专利权)人：珠海格力电器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44