一种测试系统技术方案

本发明专利技术涉及一种测试系统，包括屏蔽壳体；所述屏蔽壳体内设置有转台和测试探头；被测件设置于转台上；所述屏蔽壳体的内壁设置吸波结构；在所述屏蔽壳体与所述被测件相对的内壁上，固定连接有所述测试探头。本发明专利技术优化了测试探头的连接方式，取消了抱杆，将测试探头直接连接到屏蔽壳体上，由于贴吸波结构的测试壳体的内壁是平面，因此对来自被测件的电磁信号垂直入射，吸收率高，不会出现由于抱杆表面的曲面因为散射现象对被测件的测试所产生的干扰，提高测试的准确性。

A test system

【技术实现步骤摘要】
一种测试系统
本专利技术涉及用于测试被测件辐射性能的测试系统。
技术介绍
目前，用于测试被测件辐射性能的测试系统采用如图1所示的结构，被测件6′(DUT)设置于转台5′上，沿水平方向，与转台5′间隔一定距离的地方设置有测试探头3′，测试探头3′通过抱杆2′安装固定，抱杆2′设置吸波结构4′。通过测试探头3′，测试被测件6′的辐射性能，包括发射性能和接收性能。被测件6′、转台5′、测试探头3′和抱杆2′设置于微波暗室1′内。上述结构存在的问题是，当被测件6′为普通天线时，被测件的测量测试结果可用，但当遇到雷达天线等被测件时，被测件的辐射性能的测试结果就不准确了。故，对于本领域的技术人员而言，寻找一种能够适用于普通天线又适用于雷达天线的微波暗室系统是亟需解决的问题。
技术实现思路
为至少在一定程度上克服现有技术中的上述问题，本专利技术提供一种。本专利技术一种测试系统，包括屏蔽壳体；所述屏蔽壳体内设置有转台和测试探头；被测件设置于转台上；所述屏蔽壳体的内壁设置吸波结构；在所述屏蔽壳体与所述被测件相对的内壁上，固定连接有所述测试探头。进一步地，上述测试系统中，所述屏蔽壳体与所述被测件相对的内壁上，开设有安装孔；所述测试探头穿过所述安装孔，与设置在所述屏蔽壳体外侧的固定部固定连接。进一步地，上述测试系统中，所述测试探头连接有连接部；所述连接部穿过所述安装孔，与所述固定部固定连接。进一步地，上述测试系统中，所述连接部还套设有吸波部，用于遮挡所述安装孔。进一步地，上述测试系统中，所述固定部与所述连接部通过螺纹连接将所述测试探头固定于所述屏蔽壳体的内壁。本专利技术优化了测试探头的连接方式，取消了抱杆，将测试探头直接连接到屏蔽壳体上，由于贴吸波结构的测试壳体的内壁是平面，因此对来自被测件的电磁信号垂直入射，吸收率高，不会出现由于抱杆表面的曲面因为散射现象对被测件的测试所产生的干扰，提高测试的准确性。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本专利技术。附图说明此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本专利技术的实施例，并与说明书一起用于解释本专利技术的原理。图1为现有技术辐射性能测试系统的结构示意图；图2为本专利技术测试系统实施例的侧视图；图3为本专利技术测试系统实施例的俯视图；图4为本专利技术测试系统另一实施例中，测试探头的安装示意图。其中：1′屏蔽壳体2′抱杆3′测试探头4′吸波结构5′转台6′被测件1屏蔽壳体3测试探头4吸波结构5转台6被测件7吸波部8安装孔9连接部10固定部具体实施方式应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。参照图1，经反复研究，申请人发现：在测试被测件6′的发射性能时，被测件6′发射电磁波，除了测试探头3′外，抱杆2′对电磁信号也有影响。当被测件6′为普通天线时，抱杆2′的散射对测试精度的影响可以忽略，但当被测件6′为雷达等高精度的被测件时，由于抱杆2′透波性能不佳，抱杆2′对来自被测件6′的电磁信号所产生的散射等影响就显示出来了，其严重影响了雷达天线的测试。简单地说，是抱杆2′的对电磁信号作用，例如散射，影响的测试结果。并且，被测件6′发出的电磁信号相对于吸波结构4′垂直入射，吸收最好。经由上述分析研究，申请人提出了本专利技术。参照图2和图3，示出了本专利技术测试系统实施例的一个实施例。本实施例测试系统包括屏蔽壳体1。屏蔽壳体1内设置有转台5和测试探头3；被测件6设置于转台5上；屏蔽壳体1的内壁设置吸波结构4；在屏蔽壳体1与被测件6相对的内壁上，固定连接有测试探头3。在本实施例中，测试探头3通过如下方式与内壁固定连接：屏蔽壳体1与被测件6相对的内壁上，开设有安装孔8。测试探头3还设置有连接部9，测试探头3的连接部9穿过安装孔8，与设置在屏蔽壳体1外侧的固定部10固定连接。在本实施例中，固定部10与连接部9通过螺纹连接将测试探头3固定于屏蔽壳体1的内壁。需要说明的是，测试探头3也可以通过其他本领域习知的方式直接固定连接在内壁上，本专利技术对于测试探头3的固定方式不做限定。本专利技术优化了测试探头的连接方式，取消了抱杆，将测试探头直接连接到屏蔽壳体上，由于贴吸波结构的测试壳体的内壁是平面，因此对来自被测件的电磁信号垂直入射，吸收率高，不会出现由于抱杆表面的曲面因为散射现象对被测件的测试所产生的干扰，提高测试的准确性。本专利技术解决了目前雷达测试中的难题，独辟蹊径，取消抱杆，使得测试结果准确可用。参照图4，图4为本专利技术测试系统另一实施例中，测试探头的安装示意图。从图4可以看出，连接部9还套设有吸波部7，用于遮挡安装孔。这是因为，当安装孔8开的较大时，测试探头尺寸不能将安装孔8覆盖，于是，在安装孔8的区域没有吸波材料，为了避免产生测量误差，在连接部还套设有吸波部7，用于全面遮挡所述安装孔8。此外，在一些实施例中，还可以加长被测件6到测试探头3之间的距离尺寸，优化静区误差和幅度波纹。在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本专利技术的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。尽管上面已经示出和描述了本专利技术的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本专利技术的限制，本领域的普通技术人员在本专利技术的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试系统，其特征在于，包括：/n屏蔽壳体；/n所述屏蔽壳体内设置有转台和测试探头；/n被测件设置于转台上；/n所述屏蔽壳体的内壁设置吸波结构；/n在所述屏蔽壳体与所述被测件相对的内壁上，固定连接有所述测试探头。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试系统，其特征在于，包括：
屏蔽壳体；
所述屏蔽壳体内设置有转台和测试探头；
被测件设置于转台上；
所述屏蔽壳体的内壁设置吸波结构；
在所述屏蔽壳体与所述被测件相对的内壁上，固定连接有所述测试探头。


2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，
所述屏蔽壳体与所述被测件相对的内壁上，开设有安装孔；
所述测试探头穿过所述安装孔，与设置在所述屏蔽壳体外侧的固定部固定...

【专利技术属性】
技术研发人员：夏冬雪，
申请(专利权)人：深圳市蓉声科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44