The invention discloses a calibration device and a calibration method suitable for a quality comparator, belonging to the technical field of metrological verification. By means of a correspondingly arranged frame, a test bench, and an X-axis component, a Y-axis component, a Z-axis component and a weight library arranged on a working platform, the quality comparator calibration can be accurately and rapidly realized by using the mutual cooperation and collaborative work between the X / Y / Z components In the process, various kinds of weights are taken and placed, so as to obtain the data needed for the calibration of the mass comparator quickly and accurately. The calibration device in the invention has the advantages of simple structure, simple and fast operation method, can effectively improve the stability of the calibration process of the quality comparator, reduce the artificial operation workload in the calibration process, reduce the error introduced in the process of artificial weight taking and releasing, and improve the efficiency and accuracy of the calibration of the quality comparator, which has a good application prospect and promotion value.
【技术实现步骤摘要】
一种适用于质量比较仪的校准装置及其校准方法
本专利技术属于计量检定
，具体涉及一种适用于质量比较仪的校准装置及其校准方法。
技术介绍
质量比较仪作为砝码量值传递系统最重要的配套设备，广泛应用于各类计量技术机构当中。一般情况下，质量比较仪基于ABA或ABBA的循环方式来测量质量差值，是一种以全量程或电子秤量范围加配衡的秤量方式的高分辨率电子衡量设备。在砝码的检定工作中，质量比较仪的示值重复性、偏载误差和局部示值误差往往是影响砝码检定结果的重要因素。因此，质量比较仪在砝码检定前通常必须进行重复性校准、偏载校准和示值误差校准等过程。随着JJF1326-2011《质量比较仪校准规范》的制定，为上述三种校准过程提供了理论依据。但是，目前质量比较仪的校准方式大多采用人工校准的方式来进行，这虽然能一定程度上满足质量比较仪的校准需求，但却存在明显的缺陷，主要如下：1、由于质量比较仪的校准过程往往基于ABA或ABBA的循环方式来进行，对砝码的取放次数多，且砝码的重量往往较大，一般为10～50kg。例如，在进行质量比较仪的重复性校准时，通常采用ABBA的衡量模式来进行，且循环的组数一般不少于6次，通常为10次，如此算来，便需要进行砝码“取-放”操作达80次；若采用人工校准的方式来进行上述过程，势必会需要大量的人力劳动，极大地增加了人力的成本，且校准的效率也无法得到有效保证。2、利用人工校准的时候，其校准结果往往受人员经验、操作水平等主观因素的影响较大，无法有效保证砝码每一次的放置都能保持一致，尤其是...
【技术保护点】
1.一种适用于质量比较仪的校准装置，包括由支撑架和工作平台组成的机架，其特征在于，还包括试验台和设置在所述工作平台上的X轴组件、Y轴组件、Z轴组件；/n所述试验台包括设置在所述支撑架内并呈块状结构的台体，所述台体的底面固定在地面上，其顶面始终水平，并对应该台体的顶面在所述工作平台的中部开设有一定尺寸贯穿两端面的通孔，即限位孔，以用于质量比较仪的限位放置，且所述限位孔竖向正对的台体顶面上设置有限位件，用于所述质量比较仪的限位；/n所述Y轴组件包括平行分设于所述限位孔两侧的Y轴滑轨，所述Y轴滑轨固定在所述工作平台上，且各所述Y轴滑轨上分别设置有可沿Y轴滑轨轴向往复滑动的支架；所述X轴组件设置在两所述支架的顶部，其包括两端分别固定于两所述支架顶部的X轴滑轨，以及设置在所述X轴滑轨上并可沿该X轴滑轨轴向往复滑动的滑块；所述Z轴组件包括固定设置在所述滑块的底部的Z轴电机，该Z轴电机的输出轴端部朝下并可沿竖向往复伸缩，且所述Z轴电机的输出轴端部设置有夹具；/n同时，所述限位孔沿所述Y轴滑轨轴向的至少一侧的工作平台上设置有砝码库，所述砝码库中可容置若干砝码，且所述夹具可在X轴组件、Y轴组件和Z轴组件...
【技术特征摘要】
1.一种适用于质量比较仪的校准装置，包括由支撑架和工作平台组成的机架，其特征在于，还包括试验台和设置在所述工作平台上的X轴组件、Y轴组件、Z轴组件；
所述试验台包括设置在所述支撑架内并呈块状结构的台体，所述台体的底面固定在地面上，其顶面始终水平，并对应该台体的顶面在所述工作平台的中部开设有一定尺寸贯穿两端面的通孔，即限位孔，以用于质量比较仪的限位放置，且所述限位孔竖向正对的台体顶面上设置有限位件，用于所述质量比较仪的限位；
所述Y轴组件包括平行分设于所述限位孔两侧的Y轴滑轨，所述Y轴滑轨固定在所述工作平台上，且各所述Y轴滑轨上分别设置有可沿Y轴滑轨轴向往复滑动的支架；所述X轴组件设置在两所述支架的顶部，其包括两端分别固定于两所述支架顶部的X轴滑轨，以及设置在所述X轴滑轨上并可沿该X轴滑轨轴向往复滑动的滑块；所述Z轴组件包括固定设置在所述滑块的底部的Z轴电机，该Z轴电机的输出轴端部朝下并可沿竖向往复伸缩，且所述Z轴电机的输出轴端部设置有夹具；
同时，所述限位孔沿所述Y轴滑轨轴向的至少一侧的工作平台上设置有砝码库，所述砝码库中可容置若干砝码，且所述夹具可在X轴组件、Y轴组件和Z轴组件的组合带动下对准所述砝码，并将其夹取带动到限位于所述限位孔内的质量比较仪上。
2.根据权利要求1所述的适用于质量比较仪的校准装置，其中，对应所述滑块设置有可驱动该滑块往复移动的X轴电机，以及对应两所述支架设置有可驱动所述支架往复移动的Y轴电机。
3.根据权利要求2所述的适用于质量比较仪的校准装置，其中，还包括电控箱，所述电控箱分别与所述X轴电机、所述Y轴电机和所述Z轴电机以电连接，用于分别控制各电机工作。
4.根据权利要求1～3中任一项所述的适用于质量比较仪的校准装置，其中，所述砝码库为分设于所述限位孔沿Y轴滑轨轴向两侧的两个。
5.根据权利要求4所述的适用于质量比较仪的校准装置，其中，所述夹具呈水平板状结构，其中部与所述Z轴电机的输出轴对应连接，且所述夹具沿Y轴滑轨轴向的两侧端部分别开设有可匹配所述砝码顶部弧形环槽的“C形”缺口。
6.根据权利要求1～5中任一项所述的适用于质量比较仪的校准装置，其中，所述工作平台的顶面上还设置有密封罩，所述密封罩可将所述工作平台顶面上方的各部件罩住。
7.一种适用于质量比较仪的校准方法，其利用权利要求1～6中任一项所述的适用于质量比较仪的校准装置来实现，其校准的步骤如下：
S1：将待校准的质量比较仪限位固定在所述试验台上，并在所述砝码库中放置对应的标准砝码；
S2：利用所述校准装置获取所述质量比较仪进行重复性校准所需的数据，进行重复性校准；
S3：利用所述校准装置获取所述质量比较仪进行偏载校准所需的数据，进行偏载校准；
S4：利用所述校准装置获取所述质量比较仪进行局部示值误差校准所需的数据，进行局部示值误差校准；
S5：完成待校准质量比较仪的校准。
8.根据权利要求7所述的适用于质量比较仪的校准方法，其中，在步骤S2中，所述重复性校准所需的数据通过如下过程获取：
S21：控制所述支架和所述滑块协同运动，并以所述Z轴电机调节所述夹具的高度，使得该夹具运动到所述砝码库，并夹取对应的砝码(A)；
S22：控制X/Y/Z轴组件，将所述砝码(A)带动到所述质量比较仪的正上方；
S23：控制所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：柯淑婷，陈露，韩玉华，柯钢，虞建忠，龙翔，
申请(专利权)人：湖北省计量测试技术研究院，
类型：发明
国别省市：湖北;42
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