一种检测设备及检测方法技术

本申请公开了一种检测设备及检测方法，采用包括不同轴的镜头以及探测器的探测装置来获得待测物的检测图像，镜头的主平面和探测器的探测面相交于一条交线。在检测过程中，可以利用检测设备的光源向待测物投射形成条纹图案的光束，当待测物位于探测装置能够对其清晰成像的区域时，探测装置通过探测待测物反射的光束，即可形成条纹图案清晰的多个检测图像。这些检测图像的条纹相位不同，能够用于确定待测物的形貌。本申请提供的检测设备中探测装置可以在很大的范围内清晰成像，相比于现有技术，应用该检测设备或检测方法进行待测物的形貌检测或缺陷检测时无需缩小光圈就可保证检测图像的质量，从而保证对待测物的检测精度和检测速度。

A kind of testing equipment and testing method

The application discloses a detection device and a detection method, which adopts a lens including different axes and a detection device of a detector to obtain a detection image of the object to be measured, and the main plane of the lens and the detection plane of the detector intersect at an intersection line. In the detection process, the light source of the detection device can be used to project the light beam forming the stripe pattern to the object to be tested. When the object to be tested is located in the area where the detection device can clearly image it, the detection device can form multiple detection images with clear stripe pattern by detecting the reflected light beam of the object to be tested. The fringe phase of these detection images is different, which can be used to determine the shape of the object to be measured. The detection device of the detection device provided in the application can clearly image in a large range. Compared with the prior art, when using the detection device or detection method to detect the appearance or defect of the object to be tested, the quality of the detection image can be guaranteed without reducing the aperture, so as to ensure the detection accuracy and detection speed of the object to be tested.

【技术实现步骤摘要】
一种检测设备及检测方法
本申请涉及检测
，特别是涉及一种检测设备及检测方法。
技术介绍
当前，在进行物品的三维形貌检测时，通常需要应用到光的反射定律，通过采集形成物品对光的反射图像来实现检测。实际应用中，图像采集设备的镜头通常需要倾斜放置，但因为普通的相机镜头景深有限，倾斜放置后能够清晰成像的范围非常小。为解决此问题，不得不缩小光圈来延长景深。但是，光圈的缩小又会带来其他问题，例如图像的对比度下降、曝光时间增加。这样增加了物品检测的不确定度，延长测量时间，从而影响检测的精度和速度。如何以较高精度和速度实现物品的检测，已成为本领域急需解决的技术问题。
技术实现思路
基于上述问题，本申请提供了一种检测设备及检测方法，以探测装置对待测物成像，解决普通相机镜头景深不足的问题，无需缩小光圈，保证检测的精度和速度。本申请实施例公开了如下技术方案：第一方面，本申请提供一种检测设备，包括：光源和探测装置；所述探测装置包括：镜头和探测器；所述镜头的主平面与所述探测器的探测面相交于一条交线；r>所述光源，用于向本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测设备，其特征在于，包括：光源和探测装置；所述探测装置包括：镜头和探测器；所述镜头的主平面与所述探测器的探测面相交于一条交线；/n所述光源，用于向待测物投射形成条纹图案的光束，所述待测物包括基面，所述基面包括所述待测物的待测表面的至少一个点；/n所述探测装置，用于探测所述待测物反射的光束，形成所述条纹图案的多个检测图像，所述多个检测图像的条纹相位不同。/n

【技术特征摘要】
1.一种检测设备，其特征在于，包括：光源和探测装置；所述探测装置包括：镜头和探测器；所述镜头的主平面与所述探测器的探测面相交于一条交线；
所述光源，用于向待测物投射形成条纹图案的光束，所述待测物包括基面，所述基面包括所述待测物的待测表面的至少一个点；
所述探测装置，用于探测所述待测物反射的光束，形成所述条纹图案的多个检测图像，所述多个检测图像的条纹相位不同。


2.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，还包括：驱动装置，用于使所述基面、所述镜头的主平面与所述探测器的探测面相交于所述交线。


3.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述光源具体用于向所述待测物投射若干条纹图案，所述若干条纹图案包括相间排列的明条纹和暗条纹，其中，不同条纹图案的明条纹在所述待测物的待测表面的位置不同。


4.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述光源为显示器或结构光光源；
所述结构光光源包括：投影光源和条纹图案元件，其中，所述投影光源用于将所述条纹图案元件的条纹图案投影至所述待测物的待测表面，所述条纹图案元件被配置为至少沿垂直所述光束的平面平移。


5.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，
所述基面为包含所述待测物的待测表面的点最多的平面；
或者，
所述待测物的待测表面包括：分别位于所述基面两侧的第一待测区和第二待测区，所述第一待测区的各点到所述基面的最大距离等于所述第二待测区的各点到所述基面的最大距离。


6.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述待测物包括待测平面和连接所述待测平面的弧面，所述基面包括所述待测平面。


7.根据权利要求2所述的检测设备，其特征在于，还包括：平移台，用于带动所述待测物在平移面内平移，所述平移面平行于所述交线。


8.根据权利要求7所述的检测设备，其特征在于，所述驱动装置被配置为使所述基面平行于所述平移面。


9.根据权利要求7所述的检测设备，其特征在于，还包括：第三旋转台，用于带动所述待测物绕垂直于所述平移面的轴旋转。


10.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，还包括：第一旋转台和/或第二旋转台；所述第一旋转台，用于带动待测物绕第一轴旋转；所述第二旋转台，用于带动待测物绕第二轴旋转，所述第二轴与第一轴不平行。


11.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，还包括：标定板或平面镜；所述探测...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈鲁，江博闻，李青格乐，吕肃，蒋路翔，
申请(专利权)人：深圳中科飞测科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44