基于嵌入式系统的测试装置制造方法及图纸

技术编号:22721272 阅读:33 留言:0更新日期:2019-12-04 04:55
本发明专利技术公开了基于嵌入式系统的测试装置,包括主控板、底板和若干测试板卡,底板与主控板电连接,底板上安装有若干连接件,每一个测试板卡与其中一连接件对应插接、实现底板与测试板卡之间的电连接。本发明专利技术通过测试板卡与底板之间插接继而实现测试板卡与底板之间的灵活安装与拆卸,提高测试装置的灵活性;通过单个测试板卡或者测试板卡与测试板卡之间的配合,实现测试板卡功能的可选择性,提高了测试板卡选择的多样化。

Test device based on Embedded System

The invention discloses a test device based on an embedded system, which comprises a main control board, a bottom board and a plurality of test boards. The bottom board is electrically connected with the main control board, and a plurality of connectors are installed on the bottom board. Each test board card is correspondingly inserted with one of the connectors to realize the electrical connection between the bottom board and the test board card. The invention realizes the flexible installation and disassembly between the test board card and the base plate through the plug-in between the test board card and the base plate, so as to improve the flexibility of the test device; through the cooperation between a single test board card or between the test board card and the test board card, the optional function of the test board card is realized, and the diversification of the test board card selection is improved.

【技术实现步骤摘要】
基于嵌入式系统的测试装置
本专利技术涉及软件系统测试装置
,尤其涉及基于嵌入式系统的测试装置。
技术介绍
目前嵌入式系统的测试装置的测试功能都是固定的,对嵌入式系统的电压和电流进行测试的装置,该装置仅能对嵌入式系统的电流和电压进行测试,而不能对其他参数进行测试,使用起来灵活性低。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供基于嵌入式系统的测试装置,能够实现对嵌入式系统测试功能的增添或删减,提高测试装置的灵活性。为实现上述目的,本专利技术提供了基于嵌入式系统的测试装置,包括主控板、底板和若干测试板卡,所述底板与所述主控板电连接,所述底板上安装有若干连接件,每一个所述测试板卡与其中一所述连接件对应插接、实现所述底板与所述测试板卡之间的电连接,若干所述测试板卡通过所述底板与所述主控板电连接。作为一种改进,每一个测试板卡上安装有一个插件,每个插件与一个连接件对应插接,若干所述测试板卡通过插件与连接件插接实现测试板卡与底板的装配和拆卸。作为一种改进,主控板包括相互电连接的单片机、万用表芯片、显示触摸屏模块和若干串口,所述显示触摸屏模块与所述单片机双向连接,所述单片机通过所述若干串口与所述测试板卡电连接。作为一种改进,所述测试装置还包括装配体,所述装配体包括第一装配板和第二装配板,所述第一装配板和第二装配板之间相互固定连接,所述底板固定于所述第一装配板。作为一种改进,所述第一装配板与所述第二装配板相互垂直形成L形,所述底板与所述第一装配板之间不接触,所述第二装配板上设有若干开口,每一个测试板卡的输出端从一相应的开口露出以用于与待测量设备连接。作为一种改进,所述测试装置还包括第一限位板,所述第一限位板安装于所述第一装配板上远离所述第二装配板的一端,所述主控板和若干所述测试板卡靠近所述第一限位板的一端设有第一凹槽,所述第一限位板上设有与所述第一凹槽配合的第一卡槽,所述第一凹槽和所述第一卡槽配合安装、且用于限制所述主控板和若干所述测试板卡相对底板发生位移,所述第一限位板的一端与所述第一装配板枢轴连接,所述第一限位板的另一端与所述第一装配板可拆卸连接。作为一种改进,所述测试装置还包括第二限位板,所述第二限位板安装于所述第二装配板上远离所述第一装配板的一端,所述主控板和若干所述测试板卡靠近所述第二限位板的一端设有第二凹槽,所述第二限位板上设有与所述第二凹槽配合的第二卡槽,所述第二凹槽和所述第二卡槽配合安装、且用于限制所述主控板和若干所述测试板卡相对底板发生位移,所述第二限位板的一端与所述第二装配板枢轴连接,所述第二限位板的另一端与所述第二装配板可拆卸连接。本专利技术提供的基于嵌入式系统的测试装置,通过测试板卡与底板之间插接继而实现测试板卡与底板之间的灵活安装与拆卸,提高测试装置的拆装灵活性;通过单个测试板卡或者测试板卡与测试板卡之间的配合,实现测试板卡功能的可选择性,提高了测试板卡选择的多样化;通过设置装配体和第一限位板以及第二限位板,可以提高测试板卡在使用时的稳定性、和在拆卸时的快捷性。附图说明图1为本专利技术第一实施例装置的整体结构示意图。图2为本专利技术第一实施例图1中A的结构放大示意图。图3为本专利技术第一实施例主控板的系统框图。图4为本专利技术第一实施例装配体的左视图。图5为本专利技术第一实施例继电器板卡的系统框图。图6位本专利技术第一实施例数据采集与控制卡的系统框图。图中:1、主控板;2、底板;21、连接件;3、测试板卡;31、插件;32、第一卡槽;33、第二卡槽;34、输出端针座;4、装配体;41、第一装配板;42、第二装配板;421、开口;43、第一限位板;431、第一凹槽;44、第二限位板;441、第二凹槽。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术,并不用于限定本专利技术。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。请参看图1-2,本专利技术提供了基于嵌入式系统的测试装置,包括主控板1、底板2和测试板卡3,主控板1包括相互电连接的单片机、万用表芯片和若干串口,底板2包括电源模块和数据转换模块,电源模块用于为装置提供稳定的电源,数据转换模块用于对主控板1和测试板卡3之间的信号传输;在主控板1中,单片机通过若干串口与显示触屏模块双向电连接,单片机通过继电器控制万用表芯片电源的开关,万用表芯片与外界待测试装置连接、从而为待测试装置的测试进行准备。应当指出的是,在本实施例中,单片机采用但并不局限于采用STM32F103型号;万用表芯片采用但并不局限于采用FS9922型号,万用表芯片用于对外界的待测试装置进行测量,其他有此功能的芯片也能够将其替换应用到本实施例中。请参看图3,底板2上安装有若干连接件21,每一个测试板卡3上安装有一个插件31,一个插件31与一个连接件21插接安装,每一个测试板卡3通过插件31与对应的连接件21配合安装实现测试板卡3与底板2的插接,应当指出的是,这里的测试板卡3可以是单个的测试板卡3,也可以是两个或两个以上测试板卡3的组合;通过插件31与连接件21的插接能够实现测试板卡3与底板2的装配或拆卸,这样测试板卡3就能够很方便的拆卸或安装在底板2上,提高测试装置的拆装灵活性,当若干测试板卡3的其中之一通过插件31与任意一个连接件21插接安装后,对应的测试板卡3就通与底板2电连接、继而使得测试板卡3与主控板1之间电连接;测试板卡3包括电源、ARM微处理器、若干串行接口、测试电路板,电源为其他模块提供电能,ARM微处理器与测试电路板电连接,测试板卡3通过底板2与主控板1电连接,然后将测试板卡3的输出端与待测试装置电连接,整个装置就能够与待测试装置连接进行既定的测试功能(比如测试板卡为继电器板卡,则继电器板卡通过底板2与主控板1的电连接,实现继电器板卡的开关功能的实现),应当指出的是,测试板卡3和主控板1都要打样,然后重新布线,这样不仅方便插件31的安装、以及测试板卡3的输出端针座34与第二装配板42的开口421的配合,便于测试板卡3与外界连接进行测试,连接件21的引脚也经过重新排序,方便测试板卡3和主控板1以及底板2之间的信号传输。在本实施例中,测试板卡3可以是但并不局限于继电器板卡、数据采集与控制卡、毫伏电压测量卡、精密电阻测量卡其中的一种,一个或多个测试板卡3与底板2以及主控板1的配合(比如插接继电器板卡和数据采集与控制卡时,能够实现继电器板卡和数据采集与控制板卡的功能),构建一个具有可扩展、模块化、多功能的一个通用的测试模块,采用板卡化的形式,可同时支持计算机系统和单片机系统,应当指出的是,后续还可根据需要扩展不同功能的板卡,实现对技术资源的积累与整合。请一并参看图1和图4,基于嵌入式系统的测试装置还包括装配体4,装配体4包括第一装配板41和第二装配板42,第一装配板41和第二装配板42之间固定本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于嵌入式系统的测试装置,其特征在于,包括主控板、底板和若干测试板卡,所述底板与所述主控板电连接,所述底板上安装有若干连接件,每一个所述测试板卡与其中一所述连接件对应插接、实现所述底板与所述测试板卡之间的电连接,若干所述测试板卡通过所述底板与所述主控板电连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于嵌入式系统的测试装置,其特征在于,包括主控板、底板和若干测试板卡,所述底板与所述主控板电连接,所述底板上安装有若干连接件,每一个所述测试板卡与其中一所述连接件对应插接、实现所述底板与所述测试板卡之间的电连接,若干所述测试板卡通过所述底板与所述主控板电连接。


2.如权利要求1所述的基于嵌入式系统的测试装置,其特征在于,每一个测试板卡上安装有一个插件,每个插件与一个连接件对应插接,若干所述测试板卡通过插件与连接件插接实现测试板卡与底板的装配和拆卸。


3.如权利要求1所述的基于嵌入式系统的测试装置,其特征在于,主控板包括相互电连接的单片机、万用表芯片、显示触摸屏模块和若干串口,所述显示触摸屏模块与所述单片机双向连接,所述单片机通过所述若干串口与所述测试板卡电连接。


4.如权利要求1所述的基于嵌入式系统的测试装置,其特征在于,所述测试装置还包括装配体,所述装配体包括第一装配板和第二装配板,所述第一装配板和第二装配板之间相互固定连接,所述底板固定于所述第一装配板。


5.如权利要求4所述的基于嵌入式系统的测试装置,其特征在于,所述第一装配板与所述第二装配板相互垂直形成L形,所述底...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈新泉宋阳
申请(专利权)人:天利航空科技深圳有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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