用于测量介电常数的互补开口谐振环微带谐振传感器及测量系统技术方案

本实用新型专利技术涉及一种用于测量介电常数的互补开口谐振环微带谐振传感器及测量系统，互补开口谐振环简称CSRR，全称为Complementary Split Ring Resonators，所述微带谐振传感器包括介质基片、导体信号线、金属接地板以及互补开口谐振环，其中，导体信号线印刷在介质基片正上方，金属接地板一体成型设置于介质基片的正下方，互补开口谐振环蚀刻在金属接地板中。本实用新型专利技术是测量介电常数的CSRR微带谐振传感器，基于CSRR实现介电常数的测量，具有体积小、重量轻、成本低、精度高、无损测量、便于样本制备等优点，基本克服了传统微波测量技术存在的弊端。

A complementary open resonant ring microstrip resonant sensor and measuring system for measuring dielectric constant

The utility model relates to a complementary open-ended resonant ring microstrip resonant sensor and a measuring system for measuring the dielectric constant. The complementary open-ended resonant ring is referred to as CSRR, which is fully called complex split ring resonators. The microstrip resonant sensor includes a dielectric substrate, a conductor signal line, a metal ground plate and a complementary open-ended resonant ring, wherein the conductor signal line is printed on the dielectric substrate The metal ground plate is integrally formed and arranged under the dielectric substrate directly above the plate, and the complementary opening resonance ring is etched in the metal ground plate. The utility model is a CSRR microstrip resonant sensor for measuring the dielectric constant, which realizes the measurement of the dielectric constant based on CSRR, has the advantages of small volume, light weight, low cost, high accuracy, nondestructive measurement, convenient sample preparation, etc., and basically overcomes the disadvantages of the traditional microwave measurement technology.

【技术实现步骤摘要】
用于测量介电常数的互补开口谐振环微带谐振传感器及测量系统
本技术涉及微波测量
，具体涉及一种用于测量介电常数的互补开口谐振环微带谐振传感器及测量系统。
技术介绍
介电常数是物质材料的一个重要特性。目前，用于材料介电常数测量的主要方法有自由空间法、传输线法和谐振腔法。自由空间法的测量装置由一对用于发射和接收的聚焦透镜天线分别连接到矢量网络分析仪两端构成，将样本放置在两天线的共焦面处，通过测量自由空间的反射系数和传输系数实现介电常数的测量。自由空间法是一种无损无接触测量方法，但是需要使用昂贵的聚焦透镜天线测量成本高；传输线法是将待测材料样本填充到传输中(波导或同轴线等)，通过使用网络分析仪测量传输线的散射系数，并根据散射方程推算出介电常数。这种方法较自由空间法具有设备成本低的优点，但材料样品要求与传输线紧密配合，制备过程要求较高；谐振腔法将待测材料样本填充到谐振腔中，通过测量谐振频率的偏移量和品质因数实现介电常数的测量。虽然谐振腔法只能在窄带范围内实现介电常数的测量，但相比于自由空间法和传输线法，谐振腔具有最高的测量准确度，不过仍然存本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于测量介电常数的互补开口谐振环微带谐振传感器，其特征在于：包括介质基片、导体信号线、金属接地板以及互补开口谐振环，其中，导体信号线印刷在介质基片正上方，金属接地板一体成型设置于介质基片的正下方，互补开口谐振环蚀刻在金属接地板中。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于测量介电常数的互补开口谐振环微带谐振传感器，其特征在于：包括介质基片、导体信号线、金属接地板以及互补开口谐振环，其中，导体信号线印刷在介质基片正上方，金属接地板一体成型设置于介质基片的正下方，互补开口谐振环蚀刻在金属接地板中。


2.如权利要求1所述的用于测量介电常数的互补开口谐振环微带谐振传感器，其特征在于：所述导体信号线印刷在介质基片正上方的中间位置，互补开口谐振环蚀刻于金属接地板的正中间位置，且位于导体信号线的正下方。


3.如权利要求1所述的用于测量介电常数的互补开口谐振环微带谐振传感器，其特征在于：所述金属接地板的下方用于容置待测的物质。


4.如权利要求3所述的用于测量介电常数的互补开口谐振环微带谐振传感器，其特征在于：所述传感器还包括一对SMA连接器，分别焊接于导体信号线两端，用于连接微波电缆和微带线。
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【专利技术属性】
技术研发人员：孙景芳，赵颖涛，王雅宁，李然，
申请(专利权)人：华北电力大学保定，
类型：新型
国别省市：河北;13