The invention provides a TP scanning method applied to IDC chip, in IDC chip, TP scanning is carried out in DP frame area; when TP scanning is carried out in DP frame area, when an H-line starts and the source driver is turned on, TP scanning is started when the high level of MUX arrives; after a TP scanning is completed, wait for the high level of MUX to arrive, and end the TP in the high level area of MUX Scan and perform a new TP scan. Under the premise of overcoming MUX square wave noise, the invention applies TP scanning to DP frame area, improves SNR of TP, and provides a larger scanning frequency matching range to cope with white noise and other interference. The invention has developed a new scanning mode and obtained an unexpected beneficial effect.
【技术实现步骤摘要】
一种应用于IDC芯片的TP扫描方法
本专利技术涉及扫描
,尤其涉及一种应用于IDC芯片的TP扫描方法。
技术介绍
自容式TP(touchpanel,触控面板)的面板上覆盖着众多的CB(basecapacitor,基极电容器)电容,当有手指触摸到面板上时,会改变面板上触摸点的CB电容。此时,AFE(analogfrontend,模拟前端)结合模拟端的时序,控制CA(chargeamplifier,电荷放大器)对TP面板上的触摸点进行模拟量采集。采样完毕后,再通过ADC(analogdigitalconverter,模拟数字转换器)将CA采集的模拟量转换成数字数据,并传输到数字部分供CPU(CentralProcessingUnit,中央处理器)运算、处理。在IDC(integrateddrivercontroller,集成驱动控制器)芯片中,DP与TP集成在一起,DP的每一行显示称为一条H_line(hsyncline,行同步信号)。在一条H_line的时间区域中分为DP显示区域与非DP显示区域。在DP显示区域中,会周期性的产生的Mux(多路复用器)信号,传统的IDC扫描模式中,认为这些Mux方波会周期性的产生噪声源,对CA工作产生干扰。因此在传统的IDC扫描模式下,在DP的显示区域一般不做TP扫描。而在DP的显示完成之后,会进入非DP显示区域,在此部分区域中DP一般不做扫描,故认为这部分区域的噪声较少,适合TP进行扫描。传统的扫描方式有两个明显缺陷,对IC(IntegratedCircuit集成 ...
【技术保护点】
1.一种应用于IDC芯片的TP扫描方法,其特征在于,在IDC芯片中,在DP帧区域进行TP扫描;/n在DP帧区域进行TP扫描时,当一条H_line开始且Source Driver打开,在Mux的高电平到来时,开始进行TP扫描;一次TP扫描完成以后,等待Mux的高电平的到来,在Mux的高电平区域内结束本次TP扫描并进行新的TP扫描。/n
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
1.一种应用于IDC芯片的TP扫描方法,其特征在于,在IDC芯片中,在DP帧区域进行TP扫描;
在DP帧区域进行TP扫描时,当一条H_line开始且SourceDriver打开,在Mux的高电平到来时,开始进行TP扫描;一次TP扫描完成以后,等待Mux的高电平的到来,在Mux的高电平区域内结束本次TP扫描并进行新的TP扫描。
技术研发人员:黄俊钦,杜洪洋,
申请(专利权)人:合肥松豪电子科技有限公司,
类型:发明
国别省市:安徽;34
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